CIQTEK lancia una soluzione di chip riscaldante in situ per analisi ad alta precisione
CIQTEK lancia una soluzione di chip riscaldante in situ per analisi ad alta precisione
September 24, 2025
Nei campi della ricerca sulle prestazioni dei materiali ad alta temperatura e dell'analisi dei meccanismi di transizione di fase, i metodi tradizionali di riscaldamento esterno spesso non riescono a combinare il controllo preciso della temperatura a livello di microregione con l'osservazione in tempo reale.
CIQTEK
, in collaborazione con il Micro-Nano Center dell'Università di Scienza e Tecnologia della Cina, ha sviluppato un innovativo
soluzione di chip riscaldante in situ
Integrando i chip di riscaldamento MEMS con microscopi elettronici a doppio fascio, questa soluzione consente un controllo preciso della temperatura (dalla temperatura ambiente a 1100 °C) e un'analisi microdinamica dei campioni, offrendo un nuovo strumento per studiare il comportamento dei materiali in ambienti ad alta temperatura.
Questa soluzione utilizza
IL
SEM a doppio raggio CIQTEK
E
chip di riscaldamento MEMS specializzati
, con un'accuratezza del controllo della temperatura superiore a 0,1 °C e una risoluzione della temperatura superiore a 0,1 °C. Il sistema presenta inoltre un'eccellente uniformità di temperatura e una bassa radiazione infrarossa, garantendo analisi stabili ad alte temperature. Il sistema supporta diverse tecniche di caratterizzazione durante il riscaldamento, tra cui l'osservazione della morfologia delle microregioni, l'analisi dell'orientamento dei cristalli EBSD e l'analisi della composizione EDS. Ciò consente una comprensione completa delle transizioni di fase, dell'evoluzione dello stress e della migrazione della composizione sotto l'effetto termico.
Il sistema funziona senza interrompere il vuoto, soddisfacendo tutti i requisiti del processo per la preparazione e la caratterizzazione del campione (EBSD microregionale in situ).
Il flusso di lavoro integrato copre l'intero processo, dalla preparazione del campione (elaborazione con fascio ionico, estrazione tramite nanomanipolatore) ai test di saldatura e riscaldamento in situ. Il sistema supporta il funzionamento multi-angolo, con un chip di riscaldamento a 45° e una griglia in rame posizionata a 36°, che soddisfano le complesse esigenze sperimentali.
Il sistema è stato applicato con successo nella ricerca sulle prestazioni ad alta temperatura di leghe, ceramiche e semiconduttori, aiutando gli utenti ad acquisire conoscenze più approfondite sulle risposte dei materiali in ambienti reali.
26-30 settembre, Wuhan | Conferenza nazionale cinese sulla microscopia elettronica 2025
Saranno presentate le otto principali soluzioni di microscopia elettronica di CIQTEK!