Filamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni per SEMMicroscopio
ILMicroscopio SEM CIQTEK SEM3200è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti possibilità di espansione.
Anodo intermittente
L'anodo intermittente è installato tra il gruppo catodico e l'anodo stesso. A bassa tensione di eccitazione, l'efficienza di estrazione del fascio di elettroni può essere migliorata, la risoluzione può essere aumentata del 10% e il rapporto segnale/rumore può essere aumentato del 30%.
Per i campioni di materiale al carbonio, in condizioni di basse tensioni di eccitazione, la profondità di penetrazione del fascio è ridotta, consentendo l'acquisizione di informazioni sulla reale morfologia della superficie con dettagli più ricchi del campione.
Nei campioni di fibre polimeriche, le tensioni di eccitazione elevate danneggiano il campione a causa del fascio, mentre un fascio a bassa tensione consente di preservare i dettagli superficiali senza danneggiarli.
Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 supporta modalità a basso vuoto a 2 stadi: la pressione della camera può essere raggiunta da 5 a 180 Pa senza apertura limitatrice di pressione, mentre con il PLA è possibile raggiungere una pressione di 180-1000 Pa. La camera a vuoto con obiettivo appositamente progettata riduce al minimo il cammino libero medio degli elettroni in condizioni di basso vuoto e mantiene la risoluzione a 3 nm a 30 kV.
Il fascio di elettroni incidente ionizza le molecole d'aria sulla superficie, producendo elettroni e ioni, i quali neutralizzano le particelle cariche generate sulla superficie del campione, ottenendo l'effetto di mitigazione della carica.
L'emissione di elettroni secondari dalla superficie del campione ionizza le molecole d'aria, generando simultaneamente elettroni, ioni e fotosegnali. Gli elettroni generati ionizzano quindi altre molecole d'aria e viene prodotto un gran numero di fotosegnali, che vengono poi catturati da un rivelatore a basso vuoto (LVD).
In modalità alto vuoto, LVD rileva direttamente il segnale di catodoluminescenza emesso dal campione, che può essere catturato per l'imaging di catodoluminescenza, con imaging simultaneo dal canale BSED.
L'utilizzo di una telecamera montata verticalmente per catturare immagini ottiche utili alla navigazione del portacampione consente un posizionamento del campione più intuitivo e preciso.
In questa modalità, il valore di astigmatismo di X e Y varia con i pixel. La nitidezza dell'immagine è massimizzata al valore di astigmatismo ottimale, consentendo una rapida regolazione dello stigma.
Funzioni migliorate di luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica e correzione automatica dell'astigmatismo. Immagini perfette con un solo clic!
Modulo di filamento sostitutivo preallineato pronto all'uso.
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Il software CIQTEK SEM Microscope impiega vari algoritmi di rilevamento e segmentazione del target, adatti a diversi tipi di campioni di particelle e pori. Consente l'analisi quantitativa delle statistiche di particelle e pori e può essere applicato in campi quali la scienza dei materiali, la geologia e le scienze ambientali.
Esegui la post-elaborazione delle immagini online o offline su immagini acquisite da microscopi elettronici e integra le funzioni di elaborazione delle immagini EM più comunemente utilizzate, nonché strumenti di misurazione e annotazione convenienti.
Riconoscimento automatico dei bordi della larghezza delle linee, per misurazioni più accurate e uniformi. Supporta diverse modalità di rilevamento dei bordi, come Linea, Spazio, Passo, ecc. Compatibile con diversi formati immagine e dotato di diverse funzioni di post-elaborazione delle immagini di uso comune. Il software è facile da usare, efficiente e preciso.
Fornisce un set di interfacce per il controllo del microscopio SEM, tra cui acquisizione delle immagini, impostazioni delle condizioni operative, accensione/spegnimento, controllo del tavolino, ecc. Definizioni concise dell'interfaccia consentono il rapido sviluppo di script e software specifici per il funzionamento del microscopio elettronico, consentendo il tracciamento automatico delle regioni di interesse, l'acquisizione di dati per l'automazione industriale, la correzione della deriva delle immagini e altre funzioni. Può essere utilizzato per lo sviluppo di software in aree specializzate come l'analisi delle diatomee, l'ispezione delle impurità dell'acciaio, l'analisi della pulizia, il controllo delle materie prime, ecc.
Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 | ||||
Ottica elettronica | Risoluzione | 3 nm a 30 kV, SE 7 nm a 3 kV, SE 4 nm a 30 kV, BSE 3 nm a 30 kV, SE, 30 Pa |
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Tensione di accelerazione | 0,2 kV ~ 30 kV | |||
Ingrandimento (Polaroid) | 1 x ~ 300.000 x | |||
Camera per campioni | Basso vuoto | 5 ~ 1000 Pa (opzionale) | ||
Telecamera | Navigazione ottica | |||
Monitoraggio della camera | ||||
Tipo di fase | Motorizzato a 5 assi compatibile con il vuoto | |||
Gamma XY | 125 millimetri | |||
Gamma Z | 50 millimetri | |||
Gamma T | - 10° ~ 90° | |||
Gamma R | 360° | |||
Rilevatori SEM | Standard | Rivelatore Everhart-Thornley (ETD) | ||
Opzionale | Rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED) Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX) Modello di diffrazione retrodiffusa di elettroni (EBSD) |
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Opzionale | Carico di scambio di campioni | |||
Pannello di controllo con trackball e manopola | ||||
Interfaccia utente | Sistema operativo | Finestre | ||
Navigazione | Navigazione ottica, navigazione rapida tramite gesti, trackball (opzionale) | |||
Funzioni automatiche | Luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico |