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Con l'avanzare della produzione di semiconduttori verso nodi di processo più raffinati, l'analisi dei difetti a livello di wafer, l'individuazione dei guasti e la fabbricazione micro-nano sono diventati fondamentali per migliorare la resa. CIQTEK introduce il Soluzione di elaborazione full-size a doppio raggio da 8 pollici , combinando imaging ad alta risoluzione ed elaborazione precisa del fascio di ioni per ottenere un "taglio di osservazione-analisi" sull'intero wafer, fornendo un solido supporto tecnico per processi avanzati di semiconduttori. Questa soluzione è dotata di un portacampioni ad alta precisione a corsa lunga da 150 mm, che consente l'osservazione e l'elaborazione non distruttive dell'intero wafer da 8 pollici. Grazie a un sistema di navigazione ottica esterno e ad algoritmi anticollisione intelligenti, garantisce un posizionamento rapido e preciso del wafer e un funzionamento sicuro. Il sistema è dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky, con una risoluzione di 0,9 nm a 15 kV e una risoluzione del fascio ionico di 3 nm a 30 kV, in grado di rilevare difetti, sezionare sezioni trasversali e fabbricare microstrutture su scala nanometrica. Vantaggi principali: Fase di corsa da 150 mm: Combina lunga escursione con elevata precisione per un ampio raggio di osservazione. Ottima compatibilità con apparecchi di diverse dimensioni. La struttura robusta garantisce la stabilità del wafer e un caricamento rapido e affidabile. Scambio rapido da 8 pollici: Design intelligente con base scorrevole per garantire stabilità e durata. Compatibilità full-size: supporta wafer da 2/4/6/8 pollici. Sostituzione rapida dei campioni: pompaggio del vuoto e caricamento del campione in un minuto. Software e anticollisione: Navigazione intelligente completamente automatica con movimento e posizionamento precisi. Movimento coordinato multiasse per l'osservazione dell'intero wafer. Anti-collisione intelligente: simulazione della traiettoria e calcoli spaziali algoritmici per evitare rischi. Monitoraggio multiplo in tempo reale: monitoraggio multi-angolo in tempo reale della posizione del wafer. Navigazione ottica esterna: La struttura ultra stabile elimina le vibrazioni dell'immagine. Immagini ad alta definizione con un campo visivo preciso per la visualizzazione full-wafer. L'illuminazione professionale antiriflesso riduce i riflessi sulla superficie del wafer. Campo di osservazione del wafer Soluzione di microscopio elettronico a doppio fascio CIQTEK combina hardware eccezionale con sistemi software intelligenti, consentendo un rilevamento efficiente dei difetti e l'ottimizzazione dei processi tramite la regolazione della luminosità e del contrasto con un clic, la messa a fuoco automatica e l'output di immagini multiformato, consentendo agli utenti di completare l'intera catena di attività, dalla scoperta dei difetti all'ottimizzazione dei processi.

Nelle scienze della vita, ottenere analisi strutturali e dinamiche 3D ad alta precisione e su larga scala di campioni biologici come cellule e tessuti è diventato fondamentale per superare i colli di bottiglia della ricerca. CIQTEK ha introdotto un percorso multitecnologico Microscopia elettronica volumetrica (VEM) soluzione, integrazione SS-SEM, SBF-SEM e FIB-SEM Ciò fornisce una piattaforma completa, ad alte prestazioni e intelligente per la ricostruzione biologica 3D, aiutando i ricercatori a scoprire i misteri della vita a livello microscopico. Tre percorsi tecnici avanzati 01. Immagini ad alta velocità SS-SEM Combinando il sezionamento seriale esterno con CIQTEK SEM bio-HEM6000 ad alta velocità Questa soluzione consente l'imaging rapido e l'acquisizione automatizzata di campioni di grandi volumi. L'efficienza di acquisizione dati è oltre 5 volte superiore rispetto al SEM convenzionale, supportando un funzionamento ad alta produttività 24 ore su 24, 7 giorni su 7, senza supervisione. 02. Sezionamento in situ SBF-SEM Basato sul CIQTEK SEM5000X ad altissima risoluzione Grazie al microtomo integrato, questo approccio consente cicli di sezionamento e imaging in situ. Offre semplicità d'uso, elevata automazione ed evita efficacemente la contaminazione superficiale. 03. FIB-SEM Analisi ad alta precisione Sfruttando sistemi a doppio fascio focalizzato a fascio ionico-elettronico, questa tecnica offre una risoluzione sull'asse Z su scala nanometrica per analizzare strutture fini come organelli e membrane. Consente la ricostruzione 3D in situ senza slicing fisico. Integrazione intelligente e ampie applicazioni La soluzione CIQTEK VEM integra profondamente algoritmi di intelligenza artificiale E una piattaforma software multilingue , supportando un flusso di lavoro completo, dall'acquisizione dei dati, all'allineamento delle immagini e alla segmentazione, fino alla visualizzazione 3D. Compatibile con i principali software di ricostruzione, riduce significativamente la curva di apprendimento. I casi applicativi spaziano dalle neuroscienze alla biologia cellulare e alla microbiologia patogena, offrendo uno strumento potente per far progredire la ricerca nelle scienze della vita.

La ricerca sul comportamento microscopico dei materiali sta entrando in una nuova era accoppiamento multi-scenario e caratterizzazione dinamica in situ . CIQTEK ha lanciato un'innovativa Soluzione per prove meccaniche in situ , progettato con eccezionale apertura e compatibilità. Consente un'integrazione perfetta dell'intera gamma di CIQTEK microscopi elettronici con i principali dispositivi di prova in situ, fornendo una piattaforma flessibile ed efficiente per analisi accoppiate in diversi scenari di ricerca. Rompendo i limiti dei sistemi chiusi, la soluzione integra tutti gli elementi critici richiesti per EM in situ adattabilità, caratterizzata da: Corrente abbagliante : >100 nA, ideale per analisi EDS/EBSD rapide Ampio spazio : 360 × 310 × 288 mm (L × P × A) Elevata capacità di carico : 5 kg (fino a 10 kg con fissaggi personalizzati) CCD multi-vista : garantire la sicurezza del sistema durante il funzionamento in situ Interfacce multiple : supporto di accessori flangiati personalizzati Pre-accettazione : debug completo degli accessori prima della consegna, garantendo la completa funzionalità senza problemi di installazione in loco La soluzione può essere configurata su La gamma completa di prodotti per la microscopia elettronica di CIQTEK , compreso CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemi a doppio raggio DB550 e altro ancora. Offre inoltre una compatibilità perfetta con stadi di trazione, stadi di riscaldamento, nanoindentatori e stazioni di lavoro elettrochimiche di fornitori leader a livello mondiale. Questa architettura aperta consente ai ricercatori di combinare in modo flessibile le apparecchiature più adatte, massimizzando le prestazioni sperimentali. Soluzione di scena in situ di CIQTEK ha supportato i clienti nella pubblicazione di un carta ad alto impatto (DOI: 10.1126/science.adq6807). Soluzione meccanica in situ di CIQTEK Supporta inoltre l'accoppiamento multicampo (meccanico, termico, elettrochimico), consentendo l'osservazione in tempo reale su scala nanometrica di materiali in ambienti complessi. Sincronizzando l'imaging ad alta risoluzione con i segnali in situ, i ricercatori possono catturare con precisione fenomeni critici come la propagazione di cricche, le transizioni di fase e le reazioni interfacciali. Con un intervallo di temperatura da -170 a 1200 °C, un controllo avanzato del carico e sistemi di risposta rapida, simula accuratamente le condizioni di servizio dei materiali in diversi settori industriali. In combinazione con EBSD ed EDS, fornisce set di dati completi per comprendere il comportamento dei materiali sottoposti a stimoli accoppiati. Applicato con successo in materiali aerospaziali, nuovi dispositivi energetici e materiali biomedici , questa soluzione dimostra l'eccezionale compatibilità e scalabilità di CIQTEK nelle piattaforme avanzate di microscopia elettronica.

Microscopia elettronica a trasmissione a scansione quadridimensionale (4D-STEM) è una delle direzioni più all'avanguardia nella microscopia elettronica. Eseguendo una scansione bidimensionale sulla superficie del campione e registrando un pattern di diffrazione completo in ogni punto di scansione con un rilevatore pixelato, 4D-STEM genera un set di dati quadridimensionale contenente informazioni sia nello spazio reale che nello spazio reciproco. Questa tecnica supera i limiti della microscopia elettronica convenzionale, che in genere raccoglie un singolo segnale di scattering. Cattura e analizza invece l'intero spettro delle interazioni elettrone-campione. Con 4D-STEM, i ricercatori possono ottenere molteplici funzionalità avanzate all'interno di un singolo esperimento, tra cui imaging virtuale, orientamento dei cristalli e mappatura delle deformazioni, analisi della distribuzione del campo elettrico e magnetico (contrasto di fase differenziale) e persino ricostruzione a risoluzione atomica tramite diffrazione. Amplia notevolmente la dimensionalità e la profondità della caratterizzazione dei materiali, offrendo uno strumento senza precedenti per la nanoscienza e la ricerca sui materiali. Alla Conferenza nazionale cinese sulla microscopia elettronica 2025 (26-30 settembre, Wuhan), CIQTEK rilascia il suo Soluzione 4D-STEM , progettato per superare i confini dell'imaging tradizionale e fornire dati con dimensionalità e potenza analitica senza pari. Flusso di lavoro del sistema IL Soluzione CIQTEK 4D-STEM caratteristiche alta risoluzione spaziale, analisi multidimensionale, funzionamento a basso dosaggio per ridurre al minimo i danni al fascio e l'elaborazione flessibile dei dati , fornendo ai ricercatori metodi affidabili e straordinari per l'analisi avanzata dei materiali.

Nei campi della ricerca sulle prestazioni dei materiali ad alta temperatura e dell'analisi dei meccanismi di transizione di fase, i metodi tradizionali di riscaldamento esterno spesso non riescono a combinare il controllo preciso della temperatura a livello di microregione con l'osservazione in tempo reale. CIQTEK , in collaborazione con il Micro-Nano Center dell'Università di Scienza e Tecnologia della Cina, ha sviluppato un innovativo soluzione di chip riscaldante in situ Integrando i chip di riscaldamento MEMS con microscopi elettronici a doppio fascio, questa soluzione consente un controllo preciso della temperatura (dalla temperatura ambiente a 1100 °C) e un'analisi microdinamica dei campioni, offrendo un nuovo strumento per studiare il comportamento dei materiali in ambienti ad alta temperatura. Questa soluzione utilizza IL SEM a doppio raggio CIQTEK E chip di riscaldamento MEMS specializzati , con un'accuratezza del controllo della temperatura superiore a 0,1 °C e una risoluzione della temperatura superiore a 0,1 °C. Il sistema presenta inoltre un'eccellente uniformità di temperatura e una bassa radiazione infrarossa, garantendo analisi stabili ad alte temperature. Il sistema supporta diverse tecniche di caratterizzazione durante il riscaldamento, tra cui l'osservazione della morfologia delle microregioni, l'analisi dell'orientamento dei cristalli EBSD e l'analisi della composizione EDS. Ciò consente una comprensione completa delle transizioni di fase, dell'evoluzione dello stress e della migrazione della composizione sotto l'effetto termico. Il sistema funziona senza interrompere il vuoto, soddisfacendo tutti i requisiti del processo per la preparazione e la caratterizzazione del campione (EBSD microregionale in situ). Il flusso di lavoro integrato copre l'intero processo, dalla preparazione del campione (elaborazione con fascio ionico, estrazione tramite nanomanipolatore) ai test di saldatura e riscaldamento in situ. Il sistema supporta il funzionamento multi-angolo, con un chip di riscaldamento a 45° e una griglia in rame posizionata a 36°, che soddisfano le complesse esigenze sperimentali. Il sistema è stato applicato con successo nella ricerca sulle prestazioni ad alta temperatura di leghe, ceramiche e semiconduttori, aiutando gli utenti ad acquisire conoscenze più approfondite sulle risposte dei materiali in ambienti reali. 26-30 settembre, Wuhan | Conferenza nazionale cinese sulla microscopia elettronica 2025 Saranno presentate le otto principali soluzioni di microscopia elettronica di CIQTEK!

CIQTEK ha introdotto la sua prossima generazione cialda da 12 pollici microscopio elettronico a scansione (SEM) soluzione Progettata per soddisfare le esigenze dei processi di produzione avanzati di semiconduttori. Offrendo l'ispezione completa del wafer senza necessità di rotazione o inclinazione, questa soluzione innovativa garantisce analisi non distruttive ad alta risoluzione a supporto dello sviluppo di processi critici. Dotato di un palcoscenico da viaggio ultra-grande (X/Y ≥ 300 mm), il sistema fornisce una copertura completa di wafer da 12 pollici, eliminando la necessità di tagliare o trasferire il campione. Ciò garantisce un'osservazione fedele delle "dimensioni originali, posizione originale". Con un Cannone elettronico a emissione di campo Schottky , raggiunge una risoluzione di 1,0 nm a 15 kV e 1,5 nm a 1 kV, riducendo al minimo i danni causati dal fascio di elettroni e rendendolo ideale per materiali e strutture sensibili. Caratteristiche principali includono: Palcoscenico da viaggio ultra-large (X/Y > 300 mm) per l'ispezione completa del wafer Immagini ad alta risoluzione : 1,0 nm a 15 kV e 1,5 nm a 1 kV Caricamento automatico E sistema di navigazione ottica per uno scambio rapido dei wafer e un posizionamento preciso Software intelligente per messa a fuoco automatica, correzione dell'astigmatismo e output di immagini multiformato Il SEM per l'ispezione di wafer da 12 pollici di CIQTEK è più di un semplice strumento di osservazione: è uno strumento fondamentale che favorisce rese più elevate e nodi più piccoli nella produzione di semiconduttori. 26-30 settembre, Wuhan CIQTEK presenterà otto soluzioni all'avanguardia per la microscopia elettronica al Conferenza nazionale cinese sulla microscopia elettronica del 2025 !

Nei campi delle scienze della vita, della biomedicina, dell'ispezione alimentare e della ricerca sulla materia soffice, ottenere immagini ad alta risoluzione di campioni idratati e sensibili ai raggi è sempre stata una sfida importante. I metodi convenzionali di preparazione dei campioni, come la fissazione chimica, la disidratazione e l'essiccazione, spesso causano restringimento, deformazione o danni strutturali, con conseguenti risultati che si discostano dal reale stato del campione. Sfruttando le sue avanzate microscopia elettronica a scansione tecnologia, CIQTEK ha introdotto il Soluzione Cryo-SEM , che integra il congelamento a bassa temperatura e il trasferimento sotto vuoto. Ciò consente l'osservazione microscopica in situ, non distruttiva e ad alta fedeltà di campioni biologici e sensibili, "congelando" realmente i dettagli microscopici della vita. Grazie alla tecnologia di congelamento rapido con azoto liquido, i campioni possono essere vetrificati istantaneamente a -210 °C, preservandone al massimo la morfologia e la composizione chimica originali. Il sistema di crio-preparazione integrato combina crio-frattura, rivestimento per sublimazione e trasferimento a bassa temperatura, evitando la complessità e i potenziali errori della preparazione manuale convenzionale. Durante l'intero processo, i campioni vengono mantenuti in condizioni di vuoto criogenico e trasferiti al crio-stadio del SEM, dove l'imaging ad alta risoluzione a -180 °C sopprime efficacemente i danni causati dal fascio di elettroni e migliora significativamente la qualità dell'immagine. Foglia di bosso preparata crioconservata che mostra strutture nervature intatte , mentre il campione non trattato presenta un forte restringimento. Yogurt Muffa Il campione di yogurt preparato crioconservato rivela chiaramente reti proteiche e ife fungine. Inoltre, il sistema offre una forte compatibilità, adattabile a tutti La gamma completa di SEM di CIQTEK E sistemi FIBSEM a doppio raggio , soddisfacendo diverse esigenze, dall'osservazione di routine all'analisi avanzata. IL Soluzione CIQTEK Cryo-SEM è più di un semplice set di strumenti. Incarna un approccio scientifico dedicato alla ricostruzione fedele del mondo microscopico. Permette ai ricercatori di superare i limiti tecnici, catturare dettagli critici alla microscala della vita e guidare sia la ricerca fondamentale che lo sviluppo applicato verso nuovi traguardi. 26-30 settembre, Wuhan Al Conferenza accademica cinese sulla microscopia elettronica del 2025 , CIQTEK presenterà otto soluzioni EM all'avanguardia . Rimani sintonizzato!

CIQTEK è lieta di annunciare l'installazione e la formazione con successo del FIBSEM DB550 presso il nostro distributore coreano Centro di microscopia elettronica del GSEM Questa pietra miliare segna un passo importante nell'ampliamento dell'accesso alle tecnologie avanzate tecnologia del microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIBSEM) in Corea del Sud. Il DB550 combina l'imaging ad alta risoluzione con la fresatura precisa del fascio ionico, consentendo ai ricercatori di eseguire ricostruzioni 3D, analisi trasversali e modifiche dei materiali su scala nanometrica con efficienza e precisione. Grazie a queste funzionalità, il sistema apre nuove possibilità per l'analisi dei semiconduttori, la scienza dei materiali e la ricerca sulle scienze della vita. Dopo l'installazione, gli ingegneri CIQTEK hanno fornito una formazione pratica al team GSEM, coprendo sia i flussi di lavoro standard che le applicazioni avanzate. Le sessioni interattive hanno garantito agli utenti un'esperienza pratica nell'utilizzo dello strumento, dalla preparazione dei campioni all'imaging ad alta risoluzione e all'analisi dei dati. L'entusiasmo e il coinvolgimento del team GSEM hanno evidenziato il forte potenziale del DB550 nel supportare diversi progetti di ricerca presso il centro. Questa collaborazione riflette l'impegno di CIQTEK nel lavorare a stretto contatto con partner in tutto il mondo. Dotando la struttura di GSEM del DB550, non solo rafforziamo la nostra presenza sul mercato coreano, ma aiutiamo anche i ricercatori locali ad accedere a strumenti all'avanguardia per l'innovazione scientifica. Non vediamo l'ora di vedere gli entusiasmanti risultati che l'Electron Microscope Center del GSEM otterrà con il DB550 e restiamo impegnati a fornire supporto tecnico e collaborazione continui.