Microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno | SEM2000

Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) con colonne a fascio ionico focalizzato (FIB) Il microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato CIQTEK DB500 (FIB-SEM) adotta la tecnologia ottica elettronica "SuperTunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico con bassa tensione e capacità di alta risoluzione per garantire l’analisi su scala nanometrica. La colonna ionica facilita una sorgente ionica di metallo liquido Ga+ con un fascio ionico altamente stabile e di alta qualità per la nanofabbricazione. FIB-SEM DB500 è dotato di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione del gas, un meccanismo elettrico anticontaminazione per la lente dell'obiettivo e 24 porte di espansione, che lo rendono una piattaforma di nanoanalisi e fabbricazione completa con configurazioni complete ed espandibilità .

Microscopio elettronico a scansione ad alta velocità per l'imaging su scala incrociata di campioni di grandi volumi Ciqtek HEM6000 dispone di tecnologie quali il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio elettronico ad alta velocità, la decelerazione dello stadio campione ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere risultati elevati -velocità di acquisizione delle immagini garantendo allo stesso tempo una risoluzione su scala nanometrica. Il processo operativo automatizzato è progettato per applicazioni quali un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su grandi aree più efficiente e intelligente. La velocità di imaging può raggiungere più di 5 volte più velocemente di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (fesem).

Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM): 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV Il FESEM ad altissima risoluzione CIQTEK SEM5000X utilizza il processo di progettazione della colonna aggiornato, la tecnologia "SuperTunnel" e il design dell'obiettivo ad alta risoluzione per migliorare la risoluzione dell'immagine a bassa tensione. Le porte della camera dei campioni FESEM SEM5000X si estendono a 16 e il blocco del carico per lo scambio dei campioni supporta wafer fino a 8 pollici (diametro massimo 208 mm), espandendo in modo significativo le applicazioni. Le modalità di scansione avanzate e le funzioni automatizzate migliorate offrono prestazioni più potenti e un'esperienza ancora più ottimizzata.

CIQTEK SEM5000Pro è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FESEM) con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e Obiettivo MFL, consente di ottenere immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.

Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo analitico (FESEM) dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta luminosità Con il design della colonna ottica elettronica a condensatore a tre stadi per correnti del fascio fino a 200 nA, SEM4000Pro offre vantaggi in EDS, EBSD, WDS e altre applicazioni analitiche. Il sistema supporta la modalità a basso vuoto, nonché un rilevatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni e un rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che possono aiutare a osservare direttamente campioni scarsamente conduttivi o addirittura non conduttivi. La modalità di navigazione ottica standard e un'interfaccia utente intuitiva semplificano il lavoro di analisi.

Next-generation Tungsten Filament Scanning Electron Microscope   The CIQTEK SEM3300 scanning electron microscope (SEM) incorporates technologies such as "Super-Tunnel" electron optics, inlens electron detectors, and electrostatic & electromagnetic compound objective lens. By applying these technologies into the tungsten filament microscope, the long-standing resolution limit of such SEM is surpassed, enabling the tungsten filament SEM to perform low-voltage analysis tasks previously only achievable with field emission SEMs.

Microscopio SEM con filamento di tungsteno ad alte prestazioni con eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità alto che basso vuoto Il CIQTEK SEM3200 microscopio SEM ha un'ampia profondità di campo con un'interfaccia intuitiva per consentire agli utenti di caratterizzare i campioni ed esplorare il mondo dell'imaging e dell'analisi microscopica.

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