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FESEM | SEM4000Pro

Analitico Schottky Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FESEM)

CIQTEK SEM4000Pro È un modello FE-SEM analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky ad alta luminosità e lunga durata. Il suo design a lente elettromagnetica a tre stadi offre vantaggi significativi in applicazioni analitiche come EDS/EDX, EBSD, WDS e altre ancora. Il modello è dotato di serie di una modalità a basso vuoto e di un rivelatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni, nonché di un rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che agevola l'osservazione di campioni scarsamente conduttivi o non conduttivi.

Informarsi ora

▶ Ottica elettronica

sem4000pro Electron Optics

▶ Modalità a basso vuoto

In modalità a basso vuoto, è possibile raggiungere un intervallo di pressione di 10-180 Pa senza un'apertura che limiti la pressione. La camera a vuoto dell'obiettivo, appositamente progettata, riduce al minimo il cammino libero medio degli elettroni in condizioni di basso vuoto e raggiunge una risoluzione di 1,5 nm a 30 kV in modalità a basso vuoto.

L'emissione di elettroni secondari dalla superficie del campione ionizza le molecole d'aria e genera simultaneamente elettroni, ioni e fotoni. Gli elettroni generati ionizzano ulteriormente altre molecole d'aria; il rivelatore di elettroni secondari a basso vuoto (LVD) cattura una grande quantità di segnali fotonici prodotti in tale processo.

Il fascio di elettroni incidente ionizza le molecole d'aria sulla superficie del campione, generando elettroni e ioni. Questi ioni neutralizzano la carica superficiale, riducendone così l'effetto.

▶ Software di analisi di particelle e pori (Particle) *Opzionale

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Il software CIQTEK SEM Microscope impiega vari algoritmi di rilevamento e segmentazione del target, adatti a diversi tipi di campioni di particelle e pori. Consente l'analisi quantitativa delle statistiche di particelle e pori e può essere applicato in campi quali la scienza dei materiali, la geologia e le scienze ambientali.

▶ Software di post-elaborazione delle immagini *Opzionale

SEM Microscope Image Post-processing Software

Esegui la post-elaborazione delle immagini online o offline su immagini acquisite da microscopi elettronici e integra le funzioni di elaborazione delle immagini EM più comunemente utilizzate, nonché strumenti di misurazione e annotazione convenienti.

▶ Misurazione automatica *Opzionale

SEM Microscope software Auto Measure

Riconoscimento automatico dei bordi della larghezza delle linee, per misurazioni più accurate e uniformi. Supporta diverse modalità di rilevamento dei bordi, come Linea, Spazio, Passo, ecc. Compatibile con diversi formati immagine e dotato di diverse funzioni di post-elaborazione delle immagini di uso comune. Il software è facile da usare, efficiente e preciso.

▶ Kit di sviluppo software (SDK) *Opzionale

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornisce un set di interfacce per il controllo del microscopio SEM, tra cui acquisizione delle immagini, impostazioni delle condizioni operative, accensione/spegnimento, controllo del tavolino, ecc. Definizioni concise dell'interfaccia consentono il rapido sviluppo di script e software specifici per il funzionamento del microscopio elettronico, consentendo il tracciamento automatico delle regioni di interesse, l'acquisizione di dati per l'automazione industriale, la correzione della deriva delle immagini e altre funzioni. Può essere utilizzato per lo sviluppo di software in aree specializzate come l'analisi delle diatomee, l'ispezione delle impurità dell'acciaio, l'analisi della pulizia, il controllo delle materie prime, ecc.

▶ AutoMap *Opzionale

FESEM Microscope software Auto Measure

Specifiche del microscopio FESEM CIQTEK SEM4000Pro
Ottica elettronica Risoluzione Alto vuoto

0,9 nm a 30 kV, SE

Basso vuoto

2,5 nm a 30 kV, BSE, 30 Pa

1,5 nm a 30 kV, SE, 30 Pa

Tensione di accelerazione 0,2 kV ~ 30 kV
Ingrandimento (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Tipo di cannone elettronico Cannone elettronico a emissione di campo Schottky
Camera per campioni Basso vuoto Massimo 180 Pa
Telecamera Doppia telecamera (navigazione ottica + monitoraggio della camera)
Gamma XY 110 millimetri
Gamma Z 65 millimetri
Gamma T -10° ~ +70°
Gamma R 360°
Rilevatori ed estensioni SEM Standard

Rivelatore Everhart-Thornley (ETD)

Rilevatore di basso vuoto (LVD)

Rilevatore di elettroni retrodiffusi (BSED)

Opzionale

Rilevatore di microscopia elettronica a trasmissione a scansione retrattile (STEM)

Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX)

Modello di diffrazione della retrodiffusione degli elettroni (EBSD)

Blocco di carico per lo scambio di campioni (4 pollici / 8 pollici)

Pannello di controllo con trackball e manopola

Interfaccia utente Lingua Inglese
Sistema operativo Finestre
Navigazione Navigazione ottica, navigazione rapida tramite gesture, trackball (opzionale)
Funzioni automatiche Luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico
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