NV Center ODMR Unlocks New Possibilities for 2D Materials and Spin Wave Detection In short Three research teams used CIQTEK ODMR instruments, including the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to move three different areas of advanced materials research forward. A team at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, imaged spin waves in real space near magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in YIG and LSMO films. They captured wavelength-selective scattering and, for the first time, a zig-zag wavefront distortion as spin waves crossed stripe domains. A team at the University of Science and Technology of China stripped selenium out of 2D CuCrSe₂ by vacuum annealing. The resulting Se vacancies produced room-temperature ferromagnetism while the layered crystal structure stayed intact. A team at the Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, mapped how a transverse magnetic field mixes NV center spin states, weakens optical readout, and shifts the balance between the NV⁻ and NV⁰ charge states, all of which matter for keeping NV-based sensors stable in real-world magnetic environments. Why this matters Optically detected magnetic resonance (ODMR) sits at the center of solid-state spin science. It is how researchers image microscopic magnetic fields, how they unpack spin dynamics, and how they turn a single atomic-scale defect in diamond into a working sensor. The three studies below all leaned on CIQTEK's ODMR product line, which includes the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to push into territory that older tools could not reach: spin wave imaging, room-temperature ferromagnetism in 2D materials, and the spin mixing behavior of NV centers themselves. Here is what each team found, and why it matters for anyone building magnonic devices, spintronic materials, or diamond-based sensors. Study 1: Scanning NV imaging reveals how spin waves actually propagate Where it was published: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy Paper title: Visualizing modified spin-wave wavefronts near magnetic defects and domains using nitrogen-vacancy centers Research group: The Li Yangmu group at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences The team used scanning NV imaging to perform real-space imaging and phase analysis of spin wave propagation and wavefronts near nanoscale magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in magnetic thin films (YIG and LSMO). The work revealed wavelength-selective scattering and waveform modulation, giving device designers a new set of tools for building and tuning spin wave devices. First, some background: why spin waves are hard to see Spin waves, also called magnons, are collective excitations of a magnetically ordered system. They carry information without the Joule heating losses that come with conventional charge-based devices, which makes them an attractive carri...

CIQTEK si quota sul mercato STAR di Shanghai CIQTEK ha tenuto la sua cerimonia di quotazione presso la Shanghai Stock Exchange l'11 agosto 2026. La quotazione segna una nuova fase per l'azienda, che continua a sviluppare strumenti scientifici di fascia alta. L'azienda è quotata con il codice azionario 688828 e sviluppa, produce e vende prodotti tra cui microscopi elettronici, spettrometri a risonanza paramagnetica elettronica e spettrometri a risonanza magnetica nucleare.   Informazioni sulla quotazione CIQTEK ha emesso 40,0100 milioni di azioni a 21,22 RMB per azione. I proventi lordi dell'offerta di nuove azioni sono stati pari a 849,0122 milioni di RMB. In seguito all'offerta, l'azienda contava 400,0100 milioni di azioni in circolazione. Nel 2025, CIQTEK ha registrato un fatturato di 666,191845 milioni di RMB. L'azienda ha sede a Hefei, nella provincia di Anhui.   Dalla ricerca all'uso nel mondo reale CIQTEK si concentra sulla trasformazione delle capacità di ricerca in strumenti utilizzabili in laboratori e contesti industriali. Durante la cerimonia, il Dr. He Yu, Presidente di CIQTEK, ha affermato che la quotazione rappresenta un traguardo importante e una tappa nel percorso dell'azienda dal laboratorio all'uso nel mondo reale. Il Dr. He ha ringraziato i clienti, i partner, gli investitori e i team che hanno sostenuto il processo di offerta e quotazione.   Un focus su strumenti utili e affidabili CIQTEK sviluppa strumenti scientifici di fascia alta in diverse aree di prodotto. L'azienda continua a investire in ricerca e sviluppo e ad ampliare il proprio portafoglio prodotti in base alle esigenze dei clienti. Il Dr. He ha affermato che il feedback dei clienti, la risoluzione dei problemi tecnici e l'affidabilità nelle consegne sono fondamentali per il miglioramento a lungo termine dell'azienda. CIQTEK continuerà a far avanzare i progetti finanziati dall'offerta e a rafforzare una governance trasparente e standardizzata.   Guardando al futuro Il Dr. He ha osservato che strumenti di misurazione migliori supportano la scoperta scientifica e che dati di alta qualità rimangono essenziali man mano che l'intelligenza artificiale cambia il modo in cui viene condotta la ricerca. CIQTEK continuerà a costruire strumenti per ricercatori e utenti industriali in tutto il mondo. "Rimarremo concentrati, continueremo a migliorare nel lungo termine e andremo avanti con costanza", ha detto il Dr. He in chiusura.   Nota di ristampa Le sezioni di apertura e "Informazioni sulla quotazione" sono ristampate da un comunicato pubblico della Shanghai Stock Exchange. Le sezioni rimanenti sono adattate da un discorso originale del Dr. He Yu, Presidente di CIQTEK, tenuto durante la cerimonia di quotazione.

Il microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato a doppio fascio CIQTEK DB550 combina l'imaging elettronico ad alta risoluzione e l'elaborazione di precisione tramite fascio ionico in un'unica piattaforma. CIQTEK ha convalidato il suo Microscopio elettronico a scansione con fascio ionico focalizzato DB550 (FIB-SEM) su campioni reali di chip con nodo di processo a 5 nm, Dimostrazione di una preparazione di campioni TEM pronta per la produzione con strutture a pinna intatte, assenza di amorfizzazione e strati di film chiaramente risolti. I risultati confermano che il DB550 soddisfa le rigorose esigenze dei laboratori di analisi dei guasti dei semiconduttori avanzati che operano all'avanguardia della tecnologia di processo. Nella ricerca e produzione di chip avanzati, due strumenti rivestono un'importanza fondamentale. Il microscopio elettronico a trasmissione (TEM) permette di osservare le strutture a livello atomico. Ma prima di poterlo fare, è necessario un campione sufficientemente sottile da consentire il passaggio degli elettroni. Ed è qui che entra in gioco il microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) a doppio fascio. Si tratta di un laboratorio di precisione che prepara questi campioni ultrasottili. Vi presentiamo DB550: una piattaforma unica per l'imaging e l'elaborazione su scala nanometrica. IL CIQTEK DB550 FIB-SEM Integra due potenti funzionalità su un'unica piattaforma. Da un lato, un microscopio elettronico a scansione (SEM) fornisce immagini di superficie ad alta risoluzione. Dall'altro, un fascio ionico focalizzato (FIB) esegue la rimozione di materiale su scala nanometrica con precisione chirurgica. Insieme, colmano il divario tra osservazione e fabbricazione a dimensioni misurate in miliardesimi di metro. Nel cuore della DB550 si trova un colonna elettronica a bassa tensione e alta risoluzione abbinato alla tecnologia proprietaria di CIQTEK Colonna ionica "Chengying" Sviluppata interamente internamente, la colonna Chengying è il cuore pulsante del sistema, capace di effettuare tagli e incisioni su scala nanometrica. CIQTEK controlla l'intero processo di progettazione e produzione di questo componente fondamentale. La sfida dei 5 nm: perché la preparazione dei campioni diventa più difficile a ogni nodo tecnologico. A 5 nm e inferiori Le architetture dei chip si basano su transistor a effetto di campo di tipo aletta (FinFET) con larghezze e passi delle alette misurati in pochi nanometri. Il DB550 è progettato per gestire l'intero flusso di lavoro di preparazione del campione per questi nodi di processo esigenti. Inizia con taglio grosso ad alta corrente per rimuovere rapidamente il materiale ingombrante e raggiungere la regione target. Quindi passa a lucidatura fine a bassa tensione assottigliare il campione fino alle dimensioni adatte alla microscopia elettronica a trasmissione (TEM) senza danneggiare le delicate strutture sottostanti. Validazione TEM: la prova è nell'immagine CIQTEK...