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Filamento di tungsteno SEM | SEM3300

Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno

IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.

Informarsi ora

▶ Rilevatore di elettroni in-lens

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    Immagini del diaframma della batteria al litio scattate a 1 kV con un ingrandimento di 20.000 volte su pellicola, immagini scattate con SEM3300

▶ Navigazione ottica

L'utilizzo di una telecamera montata verticalmente per catturare immagini ottiche utili alla navigazione del portacampione consente un posizionamento del campione più intuitivo e preciso.

▶ Funzioni automatiche

Funzioni migliorate di luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica e correzione automatica dell'astigmatismo. Immagini perfette con un solo clic!

>> Messa a fuoco automatica

>> Correzione automatica dell'astigmatismo

>> Luminosità e contrasto automatici

▶ Più sicuro da usare

▶ Facile sostituzione del filamento

Modulo di filamento sostitutivo preallineato pronto all'uso.

Galleria di immagini del microscopio SEM CIQTEK SEM3300

▶ Software di analisi di particelle e pori (Particle) *Opzionale

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Il software CIQTEK SEM Microscope impiega vari algoritmi di rilevamento e segmentazione del target, adatti a diversi tipi di campioni di particelle e pori. Consente l'analisi quantitativa delle statistiche di particelle e pori e può essere applicato in campi quali la scienza dei materiali, la geologia e le scienze ambientali.

▶ Software di post-elaborazione delle immagini

SEM Microscope Image Post-processing Software

Esegui la post-elaborazione delle immagini online o offline su immagini acquisite da microscopi elettronici e integra le funzioni di elaborazione delle immagini EM più comunemente utilizzate, nonché strumenti di misurazione e annotazione convenienti.

▶ Misurazione automatica *Opzionale

SEM Microscope software Auto Measure

Riconoscimento automatico dei bordi della larghezza delle linee, per misurazioni più accurate e uniformi. Supporta diverse modalità di rilevamento dei bordi, come Linea, Spazio, Passo, ecc. Compatibile con diversi formati immagine e dotato di diverse funzioni di post-elaborazione delle immagini di uso comune. Il software è facile da usare, efficiente e preciso.

▶ Kit di sviluppo software (SDK) *Opzionale

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornisce un set di interfacce per il controllo del microscopio SEM, tra cui acquisizione delle immagini, impostazioni delle condizioni operative, accensione/spegnimento, controllo del tavolino, ecc. Definizioni concise dell'interfaccia consentono il rapido sviluppo di script e software specifici per il funzionamento del microscopio elettronico, consentendo il tracciamento automatico delle regioni di interesse, l'acquisizione di dati per l'automazione industriale, la correzione della deriva delle immagini e altre funzioni. Può essere utilizzato per lo sviluppo di software in aree specializzate come l'analisi delle diatomee, l'ispezione delle impurità dell'acciaio, l'analisi della pulizia, il controllo delle materie prime, ecc.

▶ AutoMap *Opzionale

Specifiche del microscopio SEM CIQTEK SEM3300
Ottica elettronica Risoluzione 2,5 nm a 15 kV, SE
4 nm a 3 kV, SE
5 nm a 1 kV, SE
Tensione di accelerazione 0,1 kV ~ 30 kV
Ingrandimento (Polaroid) 1 x ~ 300.000 x
Camera per campioni Telecamera Navigazione ottica
Monitoraggio della camera
Tipo di fase Motorizzato a 5 assi compatibile con il vuoto
Gamma XY 125 millimetri
Gamma Z 50 millimetri
Gamma T - 10° ~ 90°
Gamma R 360°
Rilevatori SEM Standard Rilevatore di elettroni in-lens (Inlens)
Rivelatore Everhart-Thornley (ETD)
Opzionale Rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED)
Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX)
Modello di diffrazione retrodiffusa di elettroni (EBSD)
Opzionale Carico di scambio di campioni
Pannello di controllo con trackball e manopola
Interfaccia utente Sistema operativo Finestre
Navigazione Navigazione ottica, navigazione rapida tramite gesti, trackball (opzionale)
Funzioni automatiche Luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico
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