scanning electron microscope market

Filamento di tungsteno SEM | SEM3300

Microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno di nuova generazione

Il CIQTEK SEM3300 microscopio elettronico a scansione (SEM) incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", rilevatori di elettroni interni e obiettivi composti elettrostatici ed elettromagnetici. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, il limite di risoluzione di lunga data di tale SEM viene superato, consentendo al SEM del filamento di tungsteno di eseguire attività di analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con SEM a emissione di campo.

ⶠRilevatore di elettroni nell'obiettivo

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    Immagini del diaframma di una batteria al litio scattate a 1 kV con un ingrandimento di 20.000 volte su pellicola, immagini scattate con SEM3300


ⶠNavigazione ottica

L'utilizzo di una telecamera a camera montata verticalmente per acquisire immagini ottiche per la navigazione sul palco del campione consente un posizionamento del campione più intuitivo e accurato.

  • SEM Optical Navigation

ⶠFunzioni automatiche

Funzioni di luminosità e contrasto automatiche migliorate, messa a fuoco automatica e correzione automatica dell'astigmatismo. Immagine con un solo clic!

Messa a fuoco automatica

  • during autofocus
  • after autofocus

Correzione automatica dell'astigmatismo

  • during autofocus
  • after autofocus

Luminosità e contrasto automatici

  • during autofocus
  • after autofocus

ⶠPiù sicuro da usare


ⶠSostituzione semplice del filamento

Modulo filamento sostitutivo preallineato pronto per l'uso.

Galleria di immagini del microscopio SEM CIQTEK SEM3300


ⶠSoftware di analisi delle particelle e dei pori (particelle) *Opzionale

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Il software del microscopio CIQTEK SEM utilizza vari algoritmi di rilevamento e segmentazione del target, adatti a diversi tipi di campioni di particelle e pori. consente l'analisi quantitativa delle statistiche di particelle e pori e può essere applicato in campi quali la scienza dei materiali, la geologia e la scienza ambientale.


ⶠSoftware di post-elaborazione delle immagini

SEM Microscope Image Post-processing Software

Esegui la post-elaborazione delle immagini online o offline su immagini catturate da microscopi elettronici e integra funzioni di elaborazione delle immagini EM comunemente utilizzate, pratici strumenti di misurazione e annotazione.


ⶠMisurazione automatica *Opzionale

SEM Microscope software Auto Measure

Riconoscimento automatico dei bordi della larghezza della linea, con conseguenti misurazioni più accurate e maggiore coerenza. Supporta più modalità di rilevamento dei bordi, come Linea, Spazio, Passo, ecc. Compatibile con più formati di immagine e dotato di varie funzioni di post-elaborazione delle immagini di uso comune. Il software è facile da usare, efficiente e accurato.


ⶠKit di sviluppo software (SDK) *Opzionale

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornire una serie di interfacce per il controllo del microscopio SEM, inclusa l'acquisizione di immagini, le impostazioni delle condizioni operative, l'accensione/spegnimento, il controllo del palco, ecc. Le definizioni concise dell'interfaccia consentono il rapido sviluppo di script e software specifici per il funzionamento del microscopio elettronico, consentendo tracciamento automatizzato delle regioni di interesse, acquisizione dati di automazione industriale, correzione della deriva dell'immagine e altre funzioni. Può essere utilizzato per lo sviluppo di software in aree specializzate come l'analisi delle diatomee, l'ispezione delle impurità dell'acciaio, l'analisi della pulizia, il controllo delle materie prime, ecc.


ⶠMappa automatica *Opzionale

  • during autofocus

Specifiche del microscopio SEM CIQTEK SEM3300
Ottica elettronica Risoluzione 2,5 nm a 15 kV, SE
4 nm a 3 kV, SE
5 nm a 1 kV, SE
Tensione di accelerazione 0,1 kV ~ 30 kV
Ingrandimento (Polaroid) 1 x ~ 300.000 x
Camera dei campioni Fotocamera Navigazione ottica
Monitoraggio della camera
Tipo di fase Motorizzato compatibile con il vuoto a 5 assi
Intervallo XY 125mm
Intervallo Z 50mm
Intervallo T - 10° ~ 90°
Gamma R 360°
Rivelatori SEM Norma Rivelatore di elettroni integrato nell'obiettivo (Inlens)
Rivelatore Everhart-Thornley (ETD)
Facoltativo Rivelatore retrattile di elettroni retrodiffusi (BSED)
Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX)
Modello di diffrazione di elettroni retrodiffusi (EBSD)
Facoltativo Blocco di carico per lo scambio dei campioni
Pannello di controllo con trackball e manopola
Interfaccia utente Sistema operativo Finestre
Navigazione Navigazione ottica, Navigazione rapida gestuale, Trackball (opzionale)
Funzioni automatiche Luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatore automatico
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