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Bassa tensione ad alta risoluzione
Alta stabilità
Rilevatore di elettroni in-lens

*Carico di scambio di campioni (compatibile con 8 pollici)
Deflessione del fascio elettromagnetico con apertura multiforo
Ottima espandibilità

▶ Ottica elettronica

★ Tecnologia della colonna ottica elettronica "Super Tunnel"/decelerazione del fascio in-lens
Riduce l'effetto di carica spaziale, garantendo una bassa risoluzione della tensione.

★ Senza crossover nel percorso del fascio di elettroni
Riduce efficacemente le aberrazioni delle lenti e migliora la risoluzione.

★ Obiettivo composto elettromagnetico ed elettrostatico
Riducono le aberrazioni, migliorano significativamente la risoluzione a basse tensioni e consentono l'osservazione di campioni magnetici.

★ Obiettivo a temperatura costante raffreddato ad acqua
Garantire la stabilità, l'affidabilità e la ripetibilità del funzionamento dell'obiettivo.

★ Apertura multiforo variabile con sistema di deflessione del raggio elettromagnetico
Commutazione automatica tra le aperture senza movimento meccanico, consentendo un rapido passaggio da una modalità di acquisizione immagini all'altra.

▶ Modalità ECCI (Electron Channeling Contrast Imaging) basata su BSED

L'effetto "Electron Channeling" si riferisce a una significativa riduzione della diffusione degli elettroni da parte dei reticoli cristallini, quando il fascio di elettroni incidente soddisfa la condizione di diffrazione di Bragg, consentendo a un gran numero di elettroni di passare attraverso il reticolo, esibendo così un effetto "channeling".

Per i materiali policristallini con composizione uniforme e superfici piane e lucide, l'intensità degli elettroni retrodiffusi dipende dall'orientamento relativo tra il fascio di elettroni incidente e i piani cristallini. I grani con una maggiore variazione di orientamento mostrano segnali più intensi, quindi immagini più luminose; con tale mappa di orientamento dei grani si ottiene una caratterizzazione qualitativa.

Leghe stampate in 3D (preparate con lucidatura a fascio ionico)
Acciaio inossidabile (preparato con lucidatura a fascio ionico)

▶ Imaging multicanale simultaneo tramite vari rilevatori

È stata ottenuta un'ottima risoluzione sulle caratteristiche topografiche della superficie con l'imaging del rilevatore di elettroni nell'obiettivo
Immagini stereoscopiche di buona qualità delle caratteristiche morfologiche con imaging del rivelatore Everhart-Thornley
Immagine a contrasto di numero atomico (contrasto Z) con imaging con rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile

▶ Rilevatore di microscopia elettronica a trasmissione a scansione retrattile (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Molteplici modalità operative: Imaging in campo chiaro (BF), Imaging in campo scuro (DF), Imaging in campo scuro anulare ad alto angolo (HAADF)

Immagini in campo chiaro di sezioni vegetali (STEM-BF)
Immagini in campo oscuro di sezioni vegetali (STEM-DF)
Immagine a contrasto di numero atomico (contrasto Z) con rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile

▶ Progressi nella microscopia elettronica CIQTEK: più opzioni

>> Spettrometria a dispersione di energia

>> Catoluminescenza

>> EBSD

Galleria di immagini del microscopio CIQTEK FESEM SEM5000Pro

>> Scienza dei materiali - Nanomateriali

Materiale bidimensionale non conduttivo C3N4, caratterizzazione non distruttiva della sua struttura a strato fine in condizioni di bassa tensione a 500 V
Imaging di schiuma di nichel con forte effetto tridimensionale utilizzando una tensione di eccitazione di 2 kV con rivelatore Everhart-Thornley (ETD)
Imaging di polvere d'argento sub-nanometrica utilizzando un rilevatore di elettroni in-lens a 3 kV in condizioni di alto vuoto

>> Scienza dei materiali - Materiali energetici

Precursore del catodo della batteria agli ioni di litio - fosfato di ferro con scarsa conduttività, ripreso utilizzando un rilevatore di elettroni in-lens (in-lens) in condizioni di bassa tensione (1 kV)
La qualità della metallizzazione superficiale dei wafer di silicio fotovoltaico, ripresa utilizzando un rivelatore Everhart-Thornley (ETD) montato su camera a 2 kV
Pellicola SEI (interfase elettrolitica solida) superficiale sull'elettrodo negativo guasto, ripresa in condizioni di alto vuoto utilizzando un rilevatore di elettroni in-lens (in-lens) a 3 kV

>> Scienza dei materiali - Materiali polimerici e materiali metallici

Utilizzo del rivelatore Everhart-Thornley (ETD) in condizioni di alto vuoto e bassa tensione (1 kV) per l'imaging della morfologia di microsfere di polistirene. Non è stato osservato alcun fenomeno di carica, con conseguente forte percezione tridimensionale.
Imaging non distruttivo a 500 V delle fibre della membrana polimerica della batteria agli ioni di litio in condizioni di sensibilità superficiale
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Imaging ad alta risoluzione di precipitati di dimensioni nanometriche in superfici di frattura utilizzando il rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED)

>> Materiali magnetici - Materiali polimerici e materiali metallici

Perle magnetiche polimeriche, a bassa conduttività, caratterizzate utilizzando una bassa tensione a 2 kV con un rivelatore Everhart-Thornley (ETD) per la caratterizzazione del rilascio di farmaci biologicamente mirati
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
L'imaging a 10 kV con il rivelatore Everhart-Thornley (ETD) è stato utilizzato per caratterizzare la superficie di frattura del metallo di lega ferro-nichel
Le perle magnetiche polimeriche, caratterizzate utilizzando un rivelatore Everhart-Thornley (ETD) a bassa tensione da 2 kV, mostrano un forte senso di tridimensionalità

>> Materiali semiconduttori

Imaging dei modelli di superficie e dei circuiti su un chip utilizzando un rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED)
Caratterizzazione a bassa tensione (2 kV) del rivelatore Everhar t-Thornley (ETD) delle texture superficiali e dei bordi dei fori di un fotoresist
Imaging dei giunti di saldatura di fili d'oro su un chip utilizzando un rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED). Campione preparato con lucidatura a fascio ionico.

>> Scienze della vita

Caratterizzazione degli iridofori nelle cellule della pelle di lucertola, utilizzando il rilevatore STEM nel CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

In natura i colori degli animali possono essere classificati in due categorie, in base ai loro meccanismi di formazione: colori dei pigmenti e colori strutturali.
I colori dei pigmenti si ottengono attraverso variazioni nella composizione dei pigmenti e sovrapposizione dei colori, in modo simile ai principi dei "colori primari".
I colori strutturali, d'altra parte, sono generati dalla riflessione della luce di diverse lunghezze d'onda da parte di complesse strutture fisiologiche, basate principalmente su principi di ottica. Gli iridofori, presenti nelle cellule della pelle delle lucertole, possiedono strutture simili a reticoli di diffrazione. Chiamiamo queste strutture "piastre cristalline". Le piastre cristalline possono riflettere e diffondere la luce di diverse lunghezze d'onda. Studi hanno dimostrato che variando le dimensioni, la spaziatura e l'angolazione delle piastre cristalline negli iridofori delle lucertole, le lunghezze d'onda della luce diffusa e riflessa dalla loro pelle possono essere alterate. Questa scoperta è significativa per comprendere i meccanismi alla base del cambiamento di colore nella pelle delle lucertole.

▶ Software di analisi di particelle e pori (Particle) *Opzionale

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Il software CIQTEK SEM Microscope impiega vari algoritmi di rilevamento e segmentazione del target, adatti a diversi tipi di campioni di particelle e pori. Consente l'analisi quantitativa delle statistiche di particelle e pori e può essere applicato in campi quali la scienza dei materiali, la geologia e le scienze ambientali.

▶ Software di post-elaborazione delle immagini *Opzionale

SEM Microscope Image Post-processing Software

Esegui la post-elaborazione delle immagini online o offline su immagini acquisite da microscopi elettronici e integra le funzioni di elaborazione delle immagini EM più comunemente utilizzate, nonché strumenti di misurazione e annotazione convenienti.

▶ Misurazione automatica *Opzionale

Riconoscimento automatico dei bordi della larghezza delle linee, per misurazioni più accurate e uniformi. Supporta diverse modalità di rilevamento dei bordi, come Linea, Spazio, Passo, ecc. Compatibile con diversi formati immagine e dotato di diverse funzioni di post-elaborazione delle immagini di uso comune. Il software è facile da usare, efficiente e preciso.

▶ Kit di sviluppo software (SDK) *Opzionale

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornisce un set di interfacce per il controllo del microscopio SEM, tra cui acquisizione delle immagini, impostazioni delle condizioni operative, accensione/spegnimento, controllo del tavolino, ecc. Definizioni concise dell'interfaccia consentono il rapido sviluppo di script e software specifici per il funzionamento del microscopio elettronico, consentendo il tracciamento automatico delle regioni di interesse, l'acquisizione di dati per l'automazione industriale, la correzione della deriva delle immagini e altre funzioni. Può essere utilizzato per lo sviluppo di software in aree specializzate come l'analisi delle diatomee, l'ispezione delle impurità dell'acciaio, l'analisi della pulizia, il controllo delle materie prime, ecc.

▶ AutoMap *Opzionale

Microscopio CIQTEK FESEM SEM5000Pro presso il campus di Ulsan, Università Politecnica della Corea
I nostri clienti coreani hanno installato con successo il FESEM SEM5000 presso il campus di Ulsan. È ampiamente considerato uno dei SEM più avanzati oggi disponibili. (Video incluso)

>> Leggi di più

Introduzione a CIQTEK FESEM SEM5000Pro

CIQTEK FESEM SEM5000Pro presso il campus Ulsan dell'Università Politecnica, Corea

All'interno dello stabilimento CIQTEK: tour della produzione al microscopio elettronico

Specifiche del microscopio CIQTEK FESEM SEM5000Pro
Ottica elettronica	Risoluzione	0,8 nm a 15 kV, SE 1,2 nm a 1,0 kV, SE
	Tensione di accelerazione	0,02 kV ~ 30 kV
	Ingrandimento (Polaroid)	1 ~ 2.500.000 x
	Tipo di cannone elettronico	Cannone elettronico a emissione di campo Schottky
Camera per campioni	Telecamera	Doppia telecamera (navigazione ottica + monitor della camera)
	Telecamera
	Gamma di palcoscenici	X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 65 mm T: -10°～ +70°, R: 360°
Rilevatori ed estensioni SEM	Standard	Rilevatore di elettroni Inlens Rivelatore Everhart-Thornley (ETD)
Rilevatori ed estensioni SEM	Opzionale	Rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile (BSED) Microscopio elettronico a scansione a trasmissione retrattile (STEM) Rilevatore di basso vuoto (LVD) Spettroscopia a dispersione di energia (EDS / EDX) Modello di diffrazione della retrodiffusione degli elettroni (EBSD) Carico di scambio di campioni (4 pollici/8 pollici) Pannello di controllo con trackball e manopola
Software	Lingua	Inglese
	Sistema operativo	Finestre
	Navigazione	Navigazione ottica, navigazione rapida tramite gesti, trackball (opzionale)
	Funzioni automatiche	Luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico