field emission sem price

FESEM | SEM4000X

Stabile, versatile, flessibile ed efficiente

Il CIQTEK SEM4000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) stabile, versatile, flessibile ed efficiente. Raggiunge una risoluzione di 1,9 nm a 1,0 kV e affronta facilmente le sfide dell'imaging ad alta risoluzione per vari tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di decelerazione a ultra-raggio per migliorare ulteriormente la risoluzione a bassa tensione.

Il microscopio utilizza la tecnologia multi-rivelatore, con un rilevatore di elettroni (UD) in colonna in grado di rilevare segnali SE e BSE fornendo allo stesso tempo prestazioni ad alta risoluzione. Il rilevatore di elettroni montato sulla camera (LD) incorpora cristalli scintillatori e tubi fotomoltiplicatori, offrendo sensibilità ed efficienza più elevate, ottenendo immagini stereoscopiche di qualità eccellente. L'interfaccia utente grafica è intuitiva e presenta funzioni di automazione come luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico e allineamento automatico, consentendo l'acquisizione rapida di immagini ad altissima risoluzione.

ⶠOttica elettronica

sem Electron Optics

ⶠSoftware di analisi delle particelle e dei pori (particelle) *Opzionale

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Il software del microscopio CIQTEK SEM utilizza vari algoritmi di rilevamento e segmentazione del target, adatti a diversi tipi di campioni di particelle e pori. consente l'analisi quantitativa delle statistiche di particelle e pori e può essere applicato in campi quali la scienza dei materiali, la geologia e la scienza ambientale.


ⶠSoftware di post-elaborazione delle immagini *Opzionale

SEM Microscope Image Post-processing Software

Esegui la post-elaborazione delle immagini online o offline su immagini catturate da microscopi elettronici e integra funzioni di elaborazione delle immagini EM comunemente utilizzate, pratici strumenti di misurazione e annotazione.


ⶠMisurazione automatica *Opzionale

SEM Microscope software Auto Measure

Riconoscimento automatico dei bordi della larghezza della linea, con conseguenti misurazioni più accurate e maggiore coerenza. Supporta più modalità di rilevamento dei bordi, come Linea, Spazio, Passo, ecc. Compatibile con più formati di immagine e dotato di varie funzioni di post-elaborazione delle immagini di uso comune. Il software è facile da usare, efficiente e accurato.


ⶠKit di sviluppo software (SDK) *Opzionale

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornire una serie di interfacce per il controllo del microscopio SEM, inclusa l'acquisizione di immagini, le impostazioni delle condizioni operative, l'accensione/spegnimento, il controllo del palco, ecc. Le definizioni concise dell'interfaccia consentono il rapido sviluppo di script e software specifici per il funzionamento del microscopio elettronico, consentendo tracciamento automatizzato delle regioni di interesse, acquisizione dati di automazione industriale, correzione della deriva dell'immagine e altre funzioni. Può essere utilizzato per lo sviluppo di software in aree specializzate come l'analisi delle diatomee, l'ispezione delle impurità dell'acciaio, l'analisi della pulizia, il controllo delle materie prime, ecc.


ⶠMappa automatica *Opzionale

FESEM Microscope software Auto Measure

Specifiche del microscopio CIQTEK SEM4000X FESEM
Ottica elettronica Risoluzione 0,9 nm@30 kV, SE
1,2 nm@15 kV, SE
1,9 nm@1 kV, SE
1,5 nm@1 kV (decelerazione ultra-raggio)
1 nm@15 kV (decelerazione del raggio ultra)
Tensione di accelerazione 0,2 kV ~ 30 kV
Ingrandimento (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Tipo di pistola elettronica Cannone elettronico a emissione di campo Schottky
Camera dei campioni Fotocamera Doppia fotocamera (navigazione ottica + monitoraggio della camera)
Intervallo di livelli

X: 110 mm

Y: 110 mm

Z: 50mm

T: -10°~ +70°

R: 360°

Rivelatori ed Estensioni SEM Norma

Rilevatore di elettroni nell'obiettivo: UD-BSE/UD-SE

Rivelatore Everhart-Thornley: LD

Facoltativo

Rivelatore di elettroni retrodiffusi (BSED)

Rivelatore retrattile per microscopia elettronica a trasmissione a scansione (STEM)

Rilevatore di basso vuoto (LVD)

Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX)

Modello di diffrazione della retrodiffusione elettronica (EBSD)

Blocco di carico per lo scambio dei campioni (4 pollici/8 pollici)

Pannello di controllo con trackball e manopola

Tecnologia della modalità di decelerazione Ultra Beam

Interfaccia utente Lingua Inglese
Sistema operativo Finestre
Navigazione Navigazione ottica, Navigazione rapida gestuale, Trackball (opzionale)
Funzioni automatiche Luminosità e contrasto automatici, Messa a fuoco automatica, Stigmatizzatore automatico
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