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FESEM | SEM4000X

Stabile, versatile, flessibile ed efficiente

IL CIQTEK SEM4000X è stabile, versatile, flessibile ed efficiente microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) Raggiunge una risoluzione di 1,8 nm a 1,0 kV e affronta facilmente le sfide dell'imaging ad alta risoluzione per vari tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di decelerazione ultra-fascio per migliorare ulteriormente la risoluzione a bassa tensione.

Il microscopio utilizza la tecnologia multi-detector, con un rivelatore di elettroni (UD) in colonna in grado di rilevare segnali SE e BSE garantendo al contempo prestazioni ad alta risoluzione. Il rivelatore di elettroni (LD) montato nella camera incorpora uno scintillatore a cristallo e tubi fotomoltiplicatori, offrendo maggiore sensibilità ed efficienza, con conseguenti immagini stereoscopiche di eccellente qualità. L'interfaccia utente grafica è intuitiva e dotata di funzioni di automazione come luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico e allineamento automatico, consentendo l'acquisizione rapida di immagini ad altissima risoluzione.

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▶ Ottica elettronica

sem Electron Optics

▶ Software di analisi di particelle e pori (Particle) *Opzionale

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Il software CIQTEK SEM Microscope impiega vari algoritmi di rilevamento e segmentazione del target, adatti a diversi tipi di campioni di particelle e pori. Consente l'analisi quantitativa delle statistiche di particelle e pori e può essere applicato in campi quali la scienza dei materiali, la geologia e le scienze ambientali.

▶ Software di post-elaborazione delle immagini *Opzionale

SEM Microscope Image Post-processing Software

Esegui la post-elaborazione delle immagini online o offline su immagini acquisite da microscopi elettronici e integra le funzioni di elaborazione delle immagini EM più comunemente utilizzate, strumenti di misurazione e annotazione convenienti.

▶ Misurazione automatica *Opzionale

SEM Microscope software Auto Measure

Riconoscimento automatico dei bordi della larghezza delle linee, per misurazioni più accurate e uniformi. Supporta diverse modalità di rilevamento dei bordi, come Linea, Spazio, Passo, ecc. Compatibile con diversi formati immagine e dotato di varie funzioni di post-elaborazione delle immagini di uso comune. Il software è facile da usare, efficiente e preciso.

▶ Kit di sviluppo software (SDK) *Opzionale

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornisce un set di interfacce per il controllo del microscopio SEM, tra cui acquisizione delle immagini, impostazioni delle condizioni operative, accensione/spegnimento, controllo del tavolino, ecc. Definizioni concise dell'interfaccia consentono il rapido sviluppo di script e software specifici per il funzionamento del microscopio elettronico, consentendo il tracciamento automatico delle regioni di interesse, l'acquisizione di dati di automazione industriale, la correzione della deriva delle immagini e altre funzioni. Può essere utilizzato per lo sviluppo di software in aree specializzate come l'analisi delle diatomee, l'ispezione delle impurità dell'acciaio, l'analisi della pulizia, il controllo delle materie prime, ecc.

▶ AutoMap *Opzionale

FESEM Microscope software Auto Measure

Specifiche del microscopio FESEM CIQTEK SEM4000X
Ottica elettronica Risoluzione 0,9 nm a 30 kV, SE
1,0 nm a 15 kV, SE
1,8 nm a 1 kV, SE
1,5 nm a 1 kV (decelerazione del raggio ultra)
0,8 nm a 15 kV (decelerazione degli ultra-raggi)
Tensione di accelerazione 0,2 kV ~ 30 kV
Ingrandimento (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Tipo di cannone elettronico Cannone elettronico a emissione di campo Schottky
Camera per campioni Telecamera Doppia telecamera (navigazione ottica + monitoraggio della camera)
Gamma di palcoscenici

X: 110 mm

Y: 110 mm

Z: 65 mm

Temperatura: -10°~ +70°

R: 360°

Rilevatori ed estensioni SEM Standard

Rilevatore di elettroni nell'obiettivo: UD-BSE/UD-SE

Rilevatore Everhart-Thornley: LD

Opzionale

Rilevatore di elettroni retrodiffusi (BSED)

Rilevatore di microscopia elettronica a trasmissione a scansione retrattile (STEM)

Rilevatore di basso vuoto (LVD)

Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX)

Modello di diffrazione della retrodiffusione degli elettroni (EBSD)

Carico di scambio di campioni (4 pollici / 8 pollici)

Pannello di controllo con trackball e manopola

Tecnologia Ultra Beam Deceleration Mode

Interfaccia utente Lingua Inglese
Sistema operativo Finestre
Navigazione Navigazione ottica, navigazione rapida tramite gesti, trackball (opzionale)
Funzioni automatiche Luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico
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