Beyond Nano presenta CIQTEK SEM3200 al 33° Congresso Internazionale sulla Ricerca sui Materiali in Messico
Beyond Nano presenta CIQTEK SEM3200 al 33° Congresso Internazionale sulla Ricerca sui Materiali in Messico
August 19, 2025
Beyond Nano, distributore di CIQTEK e innovatore leader nel campo della nanotecnologia, ha presentato con orgoglio il
CIQTEK SEM3200
al
33° Congresso Internazionale sulla Ricerca sui Materiali (IMRC 2025)
, 17-21 agosto.
L'IMRC è riconosciuto come uno degli incontri più prestigiosi nel campo della scienza dei materiali, riunendo pionieri e opinion leader a livello mondiale. Quest'anno, ha offerto a Beyond Nano la piattaforma ideale per presentare le tecnologie all'avanguardia di CIQTEK.
Microscopio elettronico a scansione SEM3200
a un pubblico internazionale.
Progettato per
imaging avanzato, prestazioni superiori e applicazioni versatili
, il CIQTEK SEM3200 è progettato per soddisfare le esigenze in continua evoluzione dei ricercatori del mondo accademico e industriale.
I visitatori dello stand Beyond Nano hanno avuto l'opportunità di sperimentare
Le capacità innovative del SEM3200 in prima persona
e per interagire con gli esperti del team sulle sue caratteristiche, il potenziale applicativo e gli sviluppi futuri. Con il SEM3200, CIQTEK continua ad espandere le possibilità di
microscopia elettronica
, supportando i ricercatori nell'apertura di nuove frontiere nella scienza dei materiali.
SEM a filamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni Microscopio IL Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con un'eccellente espandibilità.
Ga + Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico, e presenta la caratteristica "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano un Ga + Sorgente di ioni di metallo liquido con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.