CIQTEK alla conferenza della Società egiziana di microscopia elettronica del 2025
CIQTEK alla conferenza della Società egiziana di microscopia elettronica del 2025
August 19, 2025
O
e,
CIQTEK,
sono lieti di
vi invitiamo alla Conferenza sulla microscopia elettronica 2025,
tenuto
dal 13 al 15 ottobre 2025, presso il Centro di Ricerca Theodor Bilharz
Istituto,
Egitto.
Il tema della conferenza di quest'anno è: "L'importanza di
Microscopia elettronica nell'illuminazione dell'invisibile". Riflette l'
profondo impatto che la microscopia elettronica continua ad avere
in diverse discipline scientifiche, dalla biologia ai materiali
scienza.
Nel corso dei tre giorni della conferenza avremo:
opportunità di partecipare a tutorial approfonditi, sessioni principali,
ed esplorare gli ultimi progressi tecnologici nel
campo di
Microscopi elettronici
.
Lo farà
seguire un formato ibrido, consentendo ai partecipanti di tutto il mondo
il mondo per unirsi a noi sia di persona che virtualmente, garantendo un
un'esperienza inclusiva e accessibile a tutti.
Incontrateci a
ESEM
Data:
13 ottobre
- 15
, 2025
Posizione
:
Ricerca di Theodor Bilharz
Istituto,
Egitto
SEM a filamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni Microscopio IL Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con un'eccellente espandibilità.
Ga + Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico, e presenta la caratteristica "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano un Ga + Sorgente di ioni di metallo liquido con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.