【Intervista esclusiva con il primo autore di un articolo scientifico】Utilizziamo i microscopi elettronici CIQTEK!
【Intervista esclusiva con il primo autore di un articolo scientifico】Utilizziamo i microscopi elettronici CIQTEK!
June 11, 2025
Di recente, la principale rivista accademica internazionale "Science" ha pubblicato un articolo di ricerca intitolato "Affaticamento dell'anodo metallico al litio nelle batterie allo stato solido", redatto dal professor Wei Luo della Tongji University, insieme al professor Yunhui Huang della Huazhong University of Science and Technology e ad altri collaboratori.
Questo studio ha rivelato per la prima volta il fenomeno del guasto per fatica dell'anodo di litio metallico nelle batterie allo stato solido, ha svelato un nuovo meccanismo di guasto per fatica e ha proposto nuove strategie per inibire il guasto per fatica e migliorare le prestazioni delle batterie allo stato solido.
In questa ricerca, il team ha utilizzato il
Filamento di tungsteno SEM
da CIQTEK
per prove di fatica SEM in situ e ha ottenuto risultati di prova eccellenti.
Di recente, il primo autore di questo articolo, il professor Bo Chen della Tongji University, è stato invitato a visitare il CIQTEK e gli è stato concesso un'intervista.
Il Professor Bo Chen introduce: "Il nostro gruppo di ricerca si concentra principalmente su due aspetti, uno è l'imaging con raggi X di sincrotrone e l'altro riguarda l'imaging con microscopia elettronica, come con CIQTEK. Il lavoro dell'intero gruppo di ricerca ruota attorno alle nanostrutture e microstrutture dei materiali, in particolare alle nanostrutture e microstrutture tridimensionali. Pertanto, il nostro intero gruppo di ricerca può essere definito gruppo di ricerca sulle nanostrutture e microstrutture dei materiali."
Riguardo all'articolo recentemente pubblicato su "Science", il professor Bo Chen ha dichiarato: "L'articolo ha colto un fenomeno che non era stato ampiamente considerato in precedenza, ovvero la fatica del litio metallico. In precedenza, tutti credevano che si trattasse di fatica elettrochimica generata durante i processi di carica e scarica, ma in realtà, durante questi processi, presenta anche fatica meccanica."
La scoperta principale di questa ricerca è che il litio mostra non solo fatica elettrochimica durante la carica e la scarica, ma anche fatica meccanica durante questi processi, che insieme rappresentano le principali cause di distruzione del litio metallico nelle batterie allo stato solido. L'articolo suggerisce inoltre che, legando il litio metallico per migliorarne le proprietà fisiche, è possibile aumentare la durata delle batterie allo stato solido. Questa è una scoperta rivoluzionaria e molto interessante.
Durante la progettazione degli esperimenti, il team ha osservato entrambi i tipi di fatica installando dispositivi di fatica sul microscopio elettronico. Poiché il gruppo di ricerca disponeva di un solo microscopio elettronico, per un'osservazione completa ha utilizzato un tavolino di trazione in situ sviluppato dal Professor Jixue Li presso la Hangzhou Yuanwei Technology Company. Il Professor Bo Chen ha affermato: "Con l'aiuto del Professor Li, abbiamo creato congiuntamente un dispositivo per prove di trazione a fatica. L'esperimento di fatica meccanica del litio metallico è stato condotto dal Professor Li utilizzando il microscopio elettronico di CIQTEK per prove di trazione in situ".
Quando gli è stato chiesto il suo punto di vista su
Microscopi elettronici CIQTEK
Il professor Bo Chen è stato molto schietto e sincero: "Per noi, l'unica richiesta è che l'attrezzatura funzioni bene".
In qualità di ricercatore scientifico amante dell'esplorazione pratica, il Professor Bo Chen ha anche condiviso alcune riflessioni personali sull'utilizzo degli strumenti CIQTEK. Ha affermato che, quando lo strumento offre sia qualità che economicità, aumenta notevolmente l'interesse dei ricercatori a sperimentare con la macchina, riduce il senso di alienazione nei confronti di strumenti costosi e incoraggia i ricercatori a utilizzare la macchina in modo più efficace, liberando così maggiore creatività nella ricerca.
Concludendo con le parole del professor Bo Chen,
CIQTEK
continuerà a seguire lo slogan: Clienti di successo, compagni di successo!
Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Ad alta velocità Emissione di campo completamente automatizzata Microscopio elettronico a scansione Postazione di lavoro CIQTEK HEM6000 tecnologie delle strutture quali il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio elettronico ad alta velocità, la decelerazione dello stadio di campionamento ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere un'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al contempo una risoluzione su scala nanometrica. Il processo di funzionamento automatizzato è progettato per applicazioni come un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su ampie aree più efficiente e intelligente. La sua velocità di imaging è oltre cinque volte superiore a quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
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