Notizie & Eventi

CIQTEK continua ad espandere la sua presenza in Europa con la costituzione di un Stazione dimostrativa SEM in Spagna , gestito dal distributore locale di fiducia IESMAT Situata a Madrid, la stazione dimostrativa è dotata di un Microscopio SEM a filamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni CIQTEK SEM3200 , offrendo agli utenti spagnoli un comodo accesso a dimostrazioni dal vivo, test di campioni e operazioni pratiche. La struttura offre anche corsi professionali Servizio in lingua spagnola e consulenza tecnica , aiutando i clienti locali a comprendere e applicare meglio le tecnologie avanzate di microscopia elettronica di CIQTEK. Dall'installazione del CIQTEK SEM3200, IESMAT ha organizzato attivamente una serie di seminari e workshop per tutto il 2025 , che si tengono in genere ogni uno o due mesi. Questi eventi accolgono ricercatori e professionisti del mondo accademico e industriale per esplorare le prestazioni e i vantaggi di Microscopi elettronici a scansione CIQTEK Attraverso sessioni pratiche E esperienze di apprendimento interattive . Workshop IESMAT SEM a gennaio 2025 Seminario IESMAT SEM nel febbraio 2025 Seminario SEM più recente dell'IESMAT a settembre 2025 Il prossimo evento, Microscopia elettronica IESMAT, giornata II , avrà luogo il 6 novembre 2025, a Madrid I partecipanti potranno godere di: Microscopia elettronica pratica dal vivo con il CIQTEK SEM3200 Analisi all'avanguardia utilizzando EDS ed EBSD Approfondimenti sulle tendenze attuali e sulle direzioni future della microscopia elettronica in Spagna IL Stazione dimostrativa SEM presso IESMAT segna un traguardo importante nella storia di CIQTEK Strategia di sviluppo europea Migliora l'accessibilità locale alle tecnologie avanzate di microscopia elettronica e offre ai ricercatori un'esperienza autentica e concreta. Grazie alla stretta collaborazione con partner come IESMAT, CIQTEK sta consolidando il suo impegno nel mercato europeo, promuovendo l'innovazione e costruendo legami più solidi con la comunità scientifica. CIQTEK continua a impegnarsi per supportare gli utenti globali attraverso strumentazione avanzata, assistenza localizzata e collaborazione continua per il progresso scientifico.

Questa settimana, CIQTEK è stato lieto di dare il benvenuto al team del nostro distributore coreano GSEM Fabbrica di microscopi elettronici CIQTEK a Wuxi, in Cina. La visita ha coinvolto membri dei reparti vendite, applicazioni e assistenza, che hanno partecipato a una serie di sessioni di formazione intensiva e professionale incentrate sul funzionamento e la manutenzione dei microscopi elettronici. Lo stabilimento di microscopi elettronici CIQTEK è il centro di produzione e formazione aziendale dedicato ai sistemi di microscopia elettronica. Dotato di impianti di produzione all'avanguardia, linee di assemblaggio di precisione e laboratori dimostrativi, lo stabilimento integra ricerca e sviluppo, produzione, controllo qualità e formazione degli utenti per garantire elevate prestazioni e affidabilità in tutti i settori. CIQTEK SEM , FIB-SEM , E TEM linee di prodotto. Il corso è stato tenuto dal Sig. Gao, Responsabile del Dipartimento Soluzioni di Microscopia Elettronica di CIQTEK, insieme a ingegneri senior del team di microscopia elettronica di CIQTEK. Durante il programma, i partecipanti hanno ricevuto istruzioni sistematiche su procedure chiave come la cottura della pompa ionica, l'ispezione della posizione dell'apertura, il centraggio del filamento, la pratica dell'imaging ad alta risoluzione e l'installazione e la calibrazione degli accessori. Durante la settimana, il team GSEM ha lavorato a stretto contatto con gli ingegneri CIQTEK per acquisire una conoscenza sia teorica che pratica della tecnologia di microscopia elettronica di CIQTEK. Le sessioni sono state progettate per garantire che i tecnici addetti alle vendite e all'assistenza di GSEM siano pienamente dotati delle competenze tecniche necessarie per supportare i clienti locali in Corea, dall'installazione e gestione del sistema alla risoluzione avanzata dei problemi e alla manutenzione. Questa formazione non solo ha migliorato le capacità tecniche di GSEM, ma ha anche rafforzato la partnership tra CIQTEK e GSEM. Grazie alla continua collaborazione nella conoscenza dei prodotti, nel supporto applicativo e nel servizio clienti, CIQTEK e GSEM forniranno congiuntamente soluzioni più professionali, efficienti e affidabili. Mercato coreano della microscopia elettronica . CIQTEK continua a impegnarsi a supportare i partner globali attraverso la formazione professionale, la collaborazione tecnica e l'innovazione continua nella strumentazione scientifica.

CIQTEK ha raggiunto un traguardo globale completando il il primo al mondo Modernizzazione dello spettrometro EPR progetto presso la Queen Mary University di Londra. Il successo dell'aggiornamento dimostra la solida competenza tecnica e l'impegno di CIQTEK nel fornire servizi efficienti e di alta qualità ai ricercatori di tutto il mondo. Il progetto ha avuto luogo presso Queen Mary University di Londra , all'interno del Scuola di Scienze Fisiche e Chimiche , dove il gruppo di ricerca EPR si era a lungo affidato a uno spettrometro EPR obsoleto. Col tempo, il sistema non era più in grado di soddisfare le esigenze degli studi avanzati di risonanza magnetica. Di fronte a questa sfida, il team ha cercato un modo affidabile ed efficace per migliorare le proprie capacità EPR senza sostituire completamente lo strumento esistente. Dopo aver appreso di Il servizio di modernizzazione EPR completo e leader del settore di CIQTEK e, dopo un'approfondita comunicazione con il team EPR di CIQTEK, i ricercatori hanno identificato la soluzione perfetta. L'approccio di modernizzazione di CIQTEK offre un percorso conveniente per estendere la durata degli strumenti EPR esistenti, migliorando significativamente le prestazioni attraverso hardware aggiornato, sistemi di controllo ottimizzati e funzionalità avanzate come EPR a onda continua (CW) . Il team EPR prepara la spedizione Nell'ottobre 2025, gli ingegneri addetti all'installazione e alla formazione di CIQTEK hanno fornito un servizio completo e impeccabile, dalla spedizione e installazione in loco alla formazione professionale degli utenti. La modernizzazione è stata completata in modo efficiente, consentendo al gruppo EPR della Queen Mary University di proseguire la propria ricerca con un sistema rinnovato e ad alte prestazioni. Team EPR di CIQTEK e Queen Mary University Il dott. Liu, responsabile del team di ricerca EPR, ha condiviso il suo feedback dopo il completamento del progetto: "Questa collaborazione ha superato di gran lunga le nostre aspettative. L'efficienza del servizio è stata eccellente, la formazione è stata completa e ben organizzata e siamo molto soddisfatti dei risultati dei test. Non vediamo l'ora di collaborare nuovamente con CIQTEK in futuro." I suoi commenti riflettono perfettamente I principi del servizio CIQTEK: "Servizio di qualità. Partner affidabile". Vorremmo inoltre esprimere la nostra sincera gratitudine al nostro Il partner britannico SciMed per il prezioso supporto locale e il coordinamento durante l'intero progetto. La loro collaborazione ha garantito una comunicazione fluida e progressi tempestivi in ogni fase. Informazioni sul servizio di modernizzazione EPR di CIQTEK Servizio di modernizzazione e aggiornamento EPR CIQTEK Offre agli attuali utenti EPR una seconda vita per i loro strumenti. Sostituendo i moduli di controllo e rilevamento obsoleti con la tecnologia all'avanguardia di CIQTEK, i ricercatori possono godere di maggiore stabilità, sensibilità ed esperienza utente parago...

CIQTEK ha compiuto un altro importante passo avanti in Europa con l'installazione del Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) SEM4000Pro al Showroom dimostrativo SYNERGIE4 In Francia . La nuova configurazione consente ai ricercatori e agli utenti industriali in Europa di sperimentare immagini ad alta risoluzione, prestazioni analitiche e facilità d'uso offerto dal CIQTEK SEM4000Pro. Il sistema fornisce una qualità d'immagine eccezionale per l'osservazione microstrutturale fine e supporta un'ampia gamma di applicazioni nella scienza dei materiali, nella microelettronica e nella ricerca e sviluppo. SYNERGIE4 è il distributore e fornitore francese di CIQTEK per soluzioni avanzate di microscopia e microanalisi. Con una vasta esperienza nella microscopia elettronica e negli strumenti analitici, SYNERGIE4 supporta università, istituti di ricerca e laboratori industriali in tutta la Francia con soluzioni personalizzate, competenze tecniche e formazione. Ora il centro dimostrativo di SYNERGIE4 è dotato di un CIQTEK SEM4000Pro completamente operativo, che offre dimostrazioni pratiche ai visitatori per esplorare le sue capacità di imaging, l'interfaccia software intuitiva e la versatilità in vari campi di ricerca. "Avere il CIQTEK SEM4000Pro disponibile nel nostro showroom ci consente di mostrare le sue prestazioni di imaging direttamente ai nostri clienti", ha affermato un rappresentante di SYNERGIE4. "È un'ottima aggiunta alle nostre strutture dimostrative e un passo importante nell'ampliamento del nostro portfolio di microscopi". Con il SEM4000Pro ora disponibile in Francia, gli utenti europei possono valutarne direttamente le prestazioni, supportati dall'esperienza locale e dai servizi di dimostrazione tecnica di SYNERGIE4. Questa collaborazione segna una pietra miliare significativa nell'impegno continuo di CIQTEK per migliorare l'accessibilità alle tecnologie avanzate di microscopia elettronica in tutta Europa .

Con l'avanzare della produzione di semiconduttori verso nodi di processo più raffinati, l'analisi dei difetti a livello di wafer, l'individuazione dei guasti e la fabbricazione micro-nano sono diventati fondamentali per migliorare la resa. CIQTEK introduce il Soluzione di elaborazione full-size a doppio raggio da 8 pollici , combinando imaging ad alta risoluzione ed elaborazione precisa del fascio di ioni per ottenere un "taglio di osservazione-analisi" sull'intero wafer, fornendo un solido supporto tecnico per processi avanzati di semiconduttori. Questa soluzione è dotata di un portacampioni ad alta precisione a corsa lunga da 150 mm, che consente l'osservazione e l'elaborazione non distruttive dell'intero wafer da 8 pollici. Grazie a un sistema di navigazione ottica esterno e ad algoritmi anticollisione intelligenti, garantisce un posizionamento rapido e preciso del wafer e un funzionamento sicuro. Il sistema è dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky, con una risoluzione di 0,9 nm a 15 kV e una risoluzione del fascio ionico di 3 nm a 30 kV, in grado di rilevare difetti, sezionare sezioni trasversali e fabbricare microstrutture su scala nanometrica. Vantaggi principali: Fase di corsa da 150 mm: Combina lunga escursione con elevata precisione per un ampio raggio di osservazione. Ottima compatibilità con apparecchi di diverse dimensioni. La struttura robusta garantisce la stabilità del wafer e un caricamento rapido e affidabile. Scambio rapido da 8 pollici: Design intelligente con base scorrevole per garantire stabilità e durata. Compatibilità full-size: supporta wafer da 2/4/6/8 pollici. Sostituzione rapida dei campioni: pompaggio del vuoto e caricamento del campione in un minuto. Software e anticollisione: Navigazione intelligente completamente automatica con movimento e posizionamento precisi. Movimento coordinato multiasse per l'osservazione dell'intero wafer. Anti-collisione intelligente: simulazione della traiettoria e calcoli spaziali algoritmici per evitare rischi. Monitoraggio multiplo in tempo reale: monitoraggio multi-angolo in tempo reale della posizione del wafer. Navigazione ottica esterna: La struttura ultra stabile elimina le vibrazioni dell'immagine. Immagini ad alta definizione con un campo visivo preciso per la visualizzazione full-wafer. L'illuminazione professionale antiriflesso riduce i riflessi sulla superficie del wafer. Campo di osservazione del wafer Soluzione di microscopio elettronico a doppio fascio CIQTEK combina hardware eccezionale con sistemi software intelligenti, consentendo un rilevamento efficiente dei difetti e l'ottimizzazione dei processi tramite la regolazione della luminosità e del contrasto con un clic, la messa a fuoco automatica e l'output di immagini multiformato, consentendo agli utenti di completare l'intera catena di attività, dalla scoperta dei difetti all'ottimizzazione dei processi.

Nelle scienze della vita, ottenere analisi strutturali e dinamiche 3D ad alta precisione e su larga scala di campioni biologici come cellule e tessuti è diventato fondamentale per superare i colli di bottiglia della ricerca. CIQTEK ha introdotto un percorso multitecnologico Microscopia elettronica volumetrica (VEM) soluzione, integrazione SS-SEM, SBF-SEM e FIB-SEM Ciò fornisce una piattaforma completa, ad alte prestazioni e intelligente per la ricostruzione biologica 3D, aiutando i ricercatori a scoprire i misteri della vita a livello microscopico. Tre percorsi tecnici avanzati 01. Immagini ad alta velocità SS-SEM Combinando il sezionamento seriale esterno con CIQTEK SEM bio-HEM6000 ad alta velocità Questa soluzione consente l'imaging rapido e l'acquisizione automatizzata di campioni di grandi volumi. L'efficienza di acquisizione dati è oltre 5 volte superiore rispetto al SEM convenzionale, supportando un funzionamento ad alta produttività 24 ore su 24, 7 giorni su 7, senza supervisione. 02. Sezionamento in situ SBF-SEM Basato sul CIQTEK SEM5000X ad altissima risoluzione Grazie al microtomo integrato, questo approccio consente cicli di sezionamento e imaging in situ. Offre semplicità d'uso, elevata automazione ed evita efficacemente la contaminazione superficiale. 03. FIB-SEM Analisi ad alta precisione Sfruttando sistemi a doppio fascio focalizzato a fascio ionico-elettronico, questa tecnica offre una risoluzione sull'asse Z su scala nanometrica per analizzare strutture fini come organelli e membrane. Consente la ricostruzione 3D in situ senza slicing fisico. Integrazione intelligente e ampie applicazioni La soluzione CIQTEK VEM integra profondamente algoritmi di intelligenza artificiale E una piattaforma software multilingue , supportando un flusso di lavoro completo, dall'acquisizione dei dati, all'allineamento delle immagini e alla segmentazione, fino alla visualizzazione 3D. Compatibile con i principali software di ricostruzione, riduce significativamente la curva di apprendimento. I casi applicativi spaziano dalle neuroscienze alla biologia cellulare e alla microbiologia patogena, offrendo uno strumento potente per far progredire la ricerca nelle scienze della vita.

La ricerca sul comportamento microscopico dei materiali sta entrando in una nuova era accoppiamento multi-scenario e caratterizzazione dinamica in situ . CIQTEK ha lanciato un'innovativa Soluzione per prove meccaniche in situ , progettato con eccezionale apertura e compatibilità. Consente un'integrazione perfetta dell'intera gamma di CIQTEK microscopi elettronici con i principali dispositivi di prova in situ, fornendo una piattaforma flessibile ed efficiente per analisi accoppiate in diversi scenari di ricerca. Rompendo i limiti dei sistemi chiusi, la soluzione integra tutti gli elementi critici richiesti per EM in situ adattabilità, caratterizzata da: Corrente abbagliante : >100 nA, ideale per analisi EDS/EBSD rapide Ampio spazio : 360 × 310 × 288 mm (L × P × A) Elevata capacità di carico : 5 kg (fino a 10 kg con fissaggi personalizzati) CCD multi-vista : garantire la sicurezza del sistema durante il funzionamento in situ Interfacce multiple : supporto di accessori flangiati personalizzati Pre-accettazione : debug completo degli accessori prima della consegna, garantendo la completa funzionalità senza problemi di installazione in loco La soluzione può essere configurata su La gamma completa di prodotti per la microscopia elettronica di CIQTEK , compreso CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemi a doppio raggio DB550 e altro ancora. Offre inoltre una compatibilità perfetta con stadi di trazione, stadi di riscaldamento, nanoindentatori e stazioni di lavoro elettrochimiche di fornitori leader a livello mondiale. Questa architettura aperta consente ai ricercatori di combinare in modo flessibile le apparecchiature più adatte, massimizzando le prestazioni sperimentali. Soluzione di scena in situ di CIQTEK ha supportato i clienti nella pubblicazione di un carta ad alto impatto (DOI: 10.1126/science.adq6807). Soluzione meccanica in situ di CIQTEK Supporta inoltre l'accoppiamento multicampo (meccanico, termico, elettrochimico), consentendo l'osservazione in tempo reale su scala nanometrica di materiali in ambienti complessi. Sincronizzando l'imaging ad alta risoluzione con i segnali in situ, i ricercatori possono catturare con precisione fenomeni critici come la propagazione di cricche, le transizioni di fase e le reazioni interfacciali. Con un intervallo di temperatura da -170 a 1200 °C, un controllo avanzato del carico e sistemi di risposta rapida, simula accuratamente le condizioni di servizio dei materiali in diversi settori industriali. In combinazione con EBSD ed EDS, fornisce set di dati completi per comprendere il comportamento dei materiali sottoposti a stimoli accoppiati. Applicato con successo in materiali aerospaziali, nuovi dispositivi energetici e materiali biomedici , questa soluzione dimostra l'eccezionale compatibilità e scalabilità di CIQTEK nelle piattaforme avanzate di microscopia elettronica.

Microscopia elettronica a trasmissione a scansione quadridimensionale (4D-STEM) è una delle direzioni più all'avanguardia nella microscopia elettronica. Eseguendo una scansione bidimensionale sulla superficie del campione e registrando un pattern di diffrazione completo in ogni punto di scansione con un rilevatore pixelato, 4D-STEM genera un set di dati quadridimensionale contenente informazioni sia nello spazio reale che nello spazio reciproco. Questa tecnica supera i limiti della microscopia elettronica convenzionale, che in genere raccoglie un singolo segnale di scattering. Cattura e analizza invece l'intero spettro delle interazioni elettrone-campione. Con 4D-STEM, i ricercatori possono ottenere molteplici funzionalità avanzate all'interno di un singolo esperimento, tra cui imaging virtuale, orientamento dei cristalli e mappatura delle deformazioni, analisi della distribuzione del campo elettrico e magnetico (contrasto di fase differenziale) e persino ricostruzione a risoluzione atomica tramite diffrazione. Amplia notevolmente la dimensionalità e la profondità della caratterizzazione dei materiali, offrendo uno strumento senza precedenti per la nanoscienza e la ricerca sui materiali. Alla Conferenza nazionale cinese sulla microscopia elettronica 2025 (26-30 settembre, Wuhan), CIQTEK rilascia il suo Soluzione 4D-STEM , progettato per superare i confini dell'imaging tradizionale e fornire dati con dimensionalità e potenza analitica senza pari. Flusso di lavoro del sistema IL Soluzione CIQTEK 4D-STEM caratteristiche alta risoluzione spaziale, analisi multidimensionale, funzionamento a basso dosaggio per ridurre al minimo i danni al fascio e l'elaborazione flessibile dei dati , fornendo ai ricercatori metodi affidabili e straordinari per l'analisi avanzata dei materiali.