CIQTEK e USTC celebrano un anno di collaborazione presso il laboratorio congiunto di microscopia elettronica in situ di fascia alta

Gli strumenti avanzati da soli non sono sufficienti a determinare le scoperte scientifiche. Il vero progresso si ottiene quando la tecnologia e i ricercatori lavorano a stretto contatto.

Un anno dopo il lancio del Laboratorio congiunto di microscopia elettronica in situ di fascia alta , la collaborazione tra il Centro Sperimentale di Ingegneria e Scienza dei Materiali e CIQTEK ha dimostrato come una mentalità di innovazione condivisa possa sbloccare nuove possibilità in ricerca sui materiali in situ, micro e nanofabbricazione e studi relativi alla meccanica .

"Scegliere CIQTEK non è mai stato solo una questione di acquisto di uno strumento", afferma il professor Ming Gong, vicedirettore del Centro sperimentale di ingegneria e scienza dei materiali. "Abbiamo scelto un partner in grado di collaborare con noi per esplorare e risolvere sfide scientifiche all'avanguardia".

Una piattaforma di ricerca fondamentale basata sulla microscopia elettronica in situ

Il Centro Sperimentale di Ingegneria e Scienza dei Materiali è una delle sei piattaforme sperimentali pubbliche a livello universitario dell'Università della Scienza e della Tecnologia della Cina. Supporta un'ampia gamma di discipline, tra cui meccanica, ingegneria meccanica, scienza della strumentazione e termofisica ingegneristica.

Il centro svolge un ruolo chiave nel progresso della ricerca sul comportamento meccanico dei materiali, sui sistemi fluidi complessi, sulle misurazioni di precisione, sulla fabbricazione di micro e nanodispositivi e sui materiali per le energie rinnovabili. Combinando l'accesso aperto con servizi analitici professionali, consente la collaborazione interdisciplinare e collega la ricerca accademica con le reali esigenze industriali.

In questo quadro, microscopia elettronica in situ è diventata una capacità critica. Permette ai ricercatori di osservare direttamente i cambiamenti strutturali e funzionali nei materiali in condizioni reali, fornendo informazioni che i tradizionali metodi di post-analisi non possono fornire.

Perché un Microscopio a doppio raggio FIB-SEM Importa

Poiché la ricerca scientifica sui materiali continua a muoversi verso scale di lunghezza più piccole e processi più dinamici, i metodi tradizionali di preparazione dei campioni non sono più sufficienti. Gli studi moderni richiedono sempre più preparazione specifica del sito, osservazione in situ e ricostruzione tridimensionale su scala micro e nanometrica.

Per soddisfare queste esigenze, il centro ha introdotto un Microscopio elettronico a doppio raggio FIB-SEM , fornito da CIQTEK Questa strumentazione scientifica avanzata consente una micro e nanofabbricazione precisa, mantenendo al contempo prestazioni di imaging ad alta risoluzione, il che la rende uno strumento essenziale per la ricerca di frontiera.

"Il nostro obiettivo era molto chiaro", spiega il professor Gong. "Volevamo fornire condizioni sperimentali avanzate che supportassero le innovazioni nella scienza e nell'ingegneria d'avanguardia, offrendo al contempo una solida base tecnica per la futura innovazione industriale".

CIQTEK FIBSEM presso il laboratorio congiunto di microscopia elettronica in situ di fascia alta

Scegliere CIQTEK: tecnologia, affidabilità e collaborazione

Durante il processo di selezione degli strumenti, il centro si è concentrato su tre fattori fondamentali: stabilità del sistema, precisione delle prestazioni e supporto tecnico a lungo termine .

"Le specifiche fondamentali di FIB-SEM di CIQTEK "Sono già alla pari con i sistemi leader a livello mondiale", afferma il professor Gong. "Questo ci ha dato fiducia fin dall'inizio. Ciò che ci ha davvero convinto, tuttavia, è stata l'apertura di CIQTEK alla collaborazione".

CIQTEK ha collaborato a stretto contatto con i ricercatori per comprendere le reali esigenze sperimentali, offrendo un supporto flessibile nello sviluppo delle applicazioni e nella compatibilità del software. Questo approccio ha trasformato microscopio elettronico a doppio raggio in una piattaforma che potesse evolversi continuamente con la ricerca in corso, anziché rimanere in una configurazione fissa.

Più che semplici attrezzature: un partner di ricerca a lungo termine

Dopo oltre un anno di funzionamento quotidiano, il CIQTEK Microscopio elettronico a doppio raggio FIB-SEM ha dimostrato di essere stabile e affidabile in condizioni di ricerca ad alta intensità.

"L'esperienza complessiva ha superato le nostre aspettative", afferma Yu Bai, ingegnere presso il Centro Sperimentale di Ingegneria e Scienza dei Materiali. "Il sistema offre prestazioni costantemente elevate sia nella microfabbricazione che nella nanofabbricazione e nell'imaging ad alta risoluzione, un aspetto essenziale per la nostra ricerca sui materiali in situ".

Altrettanto importante, CIQTEK ha continuato a monitorare il feedback degli utenti e a tradurre le sfide della ricerca in concrete indicazioni di ottimizzazione e aggiornamento. Questa interazione continua garantisce che lo strumento rimanga allineato alle mutevoli esigenze sperimentali.

Risposta rapida alle sfide sperimentali non standard

Un esempio illustra chiaramente il valore di questa collaborazione. Durante un progetto che andava oltre gli scenari applicativi standard del sistema, il team di ricerca si è imbattuto in un collo di bottiglia tecnico critico.

"Gli ingegneri applicativi di CIQTEK sono intervenuti immediatamente", ricorda Bai. "Hanno collaborato con noi per perfezionare l'approccio sperimentale e hanno rapidamente fornito un aggiornamento software personalizzato".

Questa rapida risposta ha permesso al team di completare l'esperimento con successo e di dimostrare come collaborazione università-industria può accelerare direttamente il progresso scientifico.

"In quel momento, abbiamo capito davvero cosa significa avere un partner", aggiunge Bai. "Non solo un fornitore di attrezzature, ma un team che ci affianca durante tutto il processo di innovazione."

Guardando al futuro: far progredire insieme la ricerca sui materiali in situ

La collaborazione tra l'Engineering and Materials Science Experimental Center e il CIQTEK offre un chiaro esempio di come una strumentazione scientifica avanzata e una stretta collaborazione possano supportare l'innovazione indipendente.

Come il Laboratorio congiunto di microscopia elettronica in situ di fascia alta continua a svilupparsi, entrambe le parti si concentreranno ulteriormente su ricerca sui materiali in situ relativa alla meccanica, alla micro e nanofabbricazione e alle metodologie sperimentali avanzate Attraverso una collaborazione continua, mirano a fornire un solido supporto tecnico per la ricerca di alto livello e per le future scoperte scientifiche.