CIQTEK esporrà all'analytica Lab Africa 2025 a Johannesburg, Sudafrica
CIQTEK esporrà all'analytica Lab Africa 2025 a Johannesburg, Sudafrica
July 03, 2025
CIQTEK
è lieta di annunciare la nostra partecipazione a
Laboratorio analytica Africa 2025
, che si terrà dall'8 al 10 luglio al Gallagher Convention Centre di Johannesburg, in Sudafrica.
Analytica Lab Africa, una delle principali fiere dedicate alle tecnologie e alle analisi di laboratorio nella regione, offre una piattaforma preziosa per i professionisti del settore che desiderano scoprire gli ultimi progressi nella strumentazione scientifica.
Invitiamo i partecipanti a farci visita a
Stand n. M04
, dove presenteremo l'ampio portafoglio di strumenti all'avanguardia di CIQTEK, tra cui:
E altre soluzioni per la ricerca scientifica e le applicazioni industriali
Non vediamo l'ora di entrare in contatto con ricercatori, partner e clienti provenienti da tutta l'Africa e oltre. Unitevi a noi a Johannesburg per scoprire come CIQTEK promuove l'innovazione attraverso tecnologie avanzate!
Serie CIQTEK Climber: gli analizzatori di area superficiale specifica e dimensione dei pori sono progettati per test rapidi, accurati e stabili, supportano fino a 6 campioni da analizzare contemporaneamente, offrendo un'esperienza di test completamente nuova. ⪠Testare l'area superficiale specifica e la distribuzione delle dimensioni dei pori di solidi, fanghi e polveri ⪠0,0005 m2/ge superiore all'analisi dell'area superficiale specifica ⪠Analisi della dimensione dei pori a 0,35 ~ 500 nm ⪠Il test BET a cinque punti può essere completato entro 20 minuti
Microscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo (TEM) da 120 kV 1. Spazi di lavoro divisi: Gli utenti utilizzano TEM in una stanza divisa con comodità riducendo le interferenze ambientali al TEM. 2. Elevata efficienza operativa: Il software designato integra processi altamente automatizzati, consentendo un'interazione TEM efficiente con il monitoraggio in tempo reale. 3. Esperienza operativa migliorata: Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo con un sistema altamente automatizzato. 4. Elevata espandibilità: Sono presenti interfacce sufficienti riservate agli utenti per l'aggiornamento a una configurazione superiore, che soddisfa diversi requisiti applicativi.
Il CIQTEK CAN600 è un sensore di stato liquido intelligente di nuova generazione spettrometro di risonanza magnetica nucleare (NMR) , dotato di un ultra-schermato, ultra-omogeneo Magnete superconduttore da 600 MHz , un'architettura di sistema distribuita avanzata con una console modulare integrata e sonde di sintonizzazione completamente automatizzate e ad alta sensibilità. Il CAN600 è dotato di canali RF transceiver altamente integrati, che consentono esperimenti multi-ricevitore. Il suo design innovativo supporta la sintonizzazione e lo shimming rapidi, riducendo significativamente i tempi di configurazione degli esperimenti. Accessori come il touchscreen di controllo intelligente ampliano la gestione del sistema, consentendo agli utenti di monitorare lo stato dello strumento e di controllare l'accesso ai campioni direttamente tramite tocco, migliorando la flessibilità degli esperimenti NMR. Combinando hardware ad alte prestazioni con software intelligente, CAN600 offre ai ricercatori una piattaforma NMR più affidabile e intuitiva.
Ad alta velocità Emissione di campo completamente automatizzata Microscopio elettronico a scansione Postazione di lavoro CIQTEK HEM6000 tecnologie delle strutture quali il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio elettronico ad alta velocità, la decelerazione dello stadio di campionamento ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere un'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al contempo una risoluzione su scala nanometrica. Il processo di funzionamento automatizzato è progettato per applicazioni come un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su ampie aree più efficiente e intelligente. La sua velocità di imaging è oltre cinque volte superiore a quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
Spettrometro a risonanza paramagnetica elettronica da banco a banda X IL CIQTEK EPR200M è un nuovo design spettrometro EPR da banco specializzato nell'analisi qualitativa e quantitativa di radicali liberi, ioni di metalli di transizione, drogaggio dei materiali e difetti È un eccellente strumento di ricerca per il monitoraggio in tempo reale delle reazioni chimiche, la valutazione approfondita delle proprietà dei materiali e l'esplorazione dei meccanismi di degradazione degli inquinanti nelle scienze ambientali. L'EPR200M adotta un design compatto e integra in modo ottimale la sorgente a microonde, il campo magnetico, la sonda e il controller principale, garantendo sensibilità e stabilità e allo stesso tempo adattandosi a diverse esigenze sperimentali. L'interfaccia intuitiva consente anche agli utenti meno esperti di iniziare rapidamente a utilizzarlo, rendendo lo strumento EPR davvero semplice da usare. ★ Invia un'e-mail ai nostri esperti per soluzioni personalizzate, preventivi o brochure dettagliate: info@ciqtek.com
Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.