CIQTEK lancia una soluzione per test meccanici in situ: una piattaforma di ricerca e sviluppo aperta per la ricerca multi-scenario

La ricerca sul comportamento microscopico dei materiali sta entrando in una nuova era accoppiamento multi-scenario e caratterizzazione dinamica in situ . CIQTEK ha lanciato un'innovativa Soluzione per prove meccaniche in situ , progettato con eccezionale apertura e compatibilità. Consente un'integrazione perfetta dell'intera gamma di CIQTEK microscopi elettronici con i principali dispositivi di prova in situ, fornendo una piattaforma flessibile ed efficiente per analisi accoppiate in diversi scenari di ricerca.

Rompendo i limiti dei sistemi chiusi, la soluzione integra tutti gli elementi critici richiesti per EM in situ adattabilità, caratterizzata da:

• Corrente abbagliante : >100 nA, ideale per analisi EDS/EBSD rapide

• Ampio spazio : 360 × 310 × 288 mm (L × P × A)

• Elevata capacità di carico : 5 kg (fino a 10 kg con fissaggi personalizzati)

• CCD multi-vista : garantire la sicurezza del sistema durante il funzionamento in situ

• Interfacce multiple : supporto di accessori flangiati personalizzati

• Pre-accettazione : debug completo degli accessori prima della consegna, garantendo la completa funzionalità senza problemi di installazione in loco

La soluzione può essere configurata su La gamma completa di prodotti per la microscopia elettronica di CIQTEK , compreso CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Sistemi a doppio raggio DB550 e altro ancora. Offre inoltre una compatibilità perfetta con stadi di trazione, stadi di riscaldamento, nanoindentatori e stazioni di lavoro elettrochimiche di fornitori leader a livello mondiale. Questa architettura aperta consente ai ricercatori di combinare in modo flessibile le apparecchiature più adatte, massimizzando le prestazioni sperimentali.

Soluzione di scena in situ di CIQTEK ha supportato i clienti nella pubblicazione di un carta ad alto impatto (DOI: 10.1126/science.adq6807).

Soluzione meccanica in situ di CIQTEK Supporta inoltre l'accoppiamento multicampo (meccanico, termico, elettrochimico), consentendo l'osservazione in tempo reale su scala nanometrica di materiali in ambienti complessi. Sincronizzando l'imaging ad alta risoluzione con i segnali in situ, i ricercatori possono catturare con precisione fenomeni critici come la propagazione di cricche, le transizioni di fase e le reazioni interfacciali.

Con un intervallo di temperatura da -170 a 1200 °C, un controllo avanzato del carico e sistemi di risposta rapida, simula accuratamente le condizioni di servizio dei materiali in diversi settori industriali. In combinazione con EBSD ed EDS, fornisce set di dati completi per comprendere il comportamento dei materiali sottoposti a stimoli accoppiati.

Applicato con successo in materiali aerospaziali, nuovi dispositivi energetici e materiali biomedici , questa soluzione dimostra l'eccezionale compatibilità e scalabilità di CIQTEK nelle piattaforme avanzate di microscopia elettronica.