TEM+FIB! CIQTEK ha ricevuto un alto riconoscimento dagli esperti presenti al CEMS

La Conferenza nazionale sulla microscopia elettronica(CEMS) si è tenuta a Dongguan dal 17 al 21 ottobre 2024. La conferenza ha attirato quasi 2.000 esperti, studiosi e rappresentanti di università, istituti di ricerca, imprese e aziende di tecnologia strumentale.

CIQTEK ha presentato il microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato DB550 e il microscopio elettronico sul campo a trasmissione di emissione microscopio elettronico TH-F120 e condotto dimostrazioni dal vivo sul posto, che hanno ricevuto ampia attenzione da parte dei partecipanti.

"NTecnologia e progresso di rilevamento selettivo degli elettroni del segnale in asse di generazione successiva

nello sviluppo del microscopio elettronico a scansione FEG freddo"

Il signor. Cao Feng, Vice Presidente di CIQTEK, ha tenuto un discorso programmatico durante durante la conferenza, presentando le ultime scoperte tecnologiche e i risultati innovativi dell'azienda nel campo della microscopia elettronica, e ricevendo importanti riconoscimenti da gli esperti presenti.

Per fornire agli utenti un'esperienza tangibile dei risultati dello sviluppo dei microscopi elettronici di fascia alta e per dimostrare le reali prestazioni dei prodotti, CIQTEK ha allestito ancora una volta il "Laboratorio del microscopio elettronico" presso la sede della conferenza.

Con un'attenta disposizione da parte di un team di professionisti, lo stand non solo ha ricreato un ambiente di laboratorio, ma ha anche realizzato la dimostrazione dal vivo del microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato DB550 e del microscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo TH-F120. La preparazione dei campioni e l'imaging in loco hanno dimostrato pienamente le prestazioni superiori dei microscopi elettronici di fascia alta prodotti a livello nazionale, attirando un gran numero di visitatori professionali per scambi di visite.