Analisi delle celle solari - Applicazioni di microscopia elettronica a scansione (SEM).
Recentemente, i prezzi globali del petrolio sono aumentati notevolmente e il settore delle energie rinnovabili, rappresentato dalla produzione di energia solare fotovoltaica (PV), ha ricevuto ampia attenzione. In quanto componente centrale della produzione di energia fotovoltaica, le prospettive di sviluppo e il valore di mercato delle celle solari fotovoltaiche sono al centro dell'attenzione. Nel mercato globale delle batterie, le celle fotovoltaiche rappresentano circa il 27%[1]. Il microscopio elettronico a scansione svolge un ruolo importante nel migliorare il processo di produzione e la relativa ricerca delle celle fotovoltaiche.
La cella fotovoltaica è un sottile foglio di semiconduttore optoelettronico che converte l'energia solare direttamente in energia elettrica. Le attuali celle fotovoltaiche commerciali prodotte in serie sono principalmente celle in silicio, che si dividono in celle in silicio monocristallino, celle in silicio policristallino e celle in silicio amorfo.
Metodi di testurizzazione superficiale per il miglioramento dell'efficienza delle celle solari
Nell'attuale processo di produzione delle celle fotovoltaiche, al fine di migliorare ulteriormente l'efficienza di conversione energetica, sulla superficie della cella viene solitamente realizzata una speciale struttura testurizzata e tali celle sono chiamate celle "non riflettenti". Nello specifico, la struttura strutturata sulla superficie di queste celle solari migliora l'assorbimento della luce aumentando il numero di riflessioni della luce irradiata sulla superficie del wafer di silicio, il che non solo riduce la riflettività della superficie, ma crea anche trappole di luce all'interno della cella, aumentando così in modo significativo l’efficienza di conversione delle celle solari, il che è importante per migliorare l’efficienza e ridurre il costo delle celle fotovoltaiche in silicio esistenti[2].
Confronto tra superficie piana e superficie con struttura piramidale
Rispetto ad una superficie piana, un wafer di silicio con struttura piramidale ha una maggiore probabilità che la luce riflessa dalla luce incidente agisca nuovamente sulla superficie del wafer anziché riflettersi direttamente nell'aria, aumentando così il numero di luce diffusa e riflesso sulla superficie della struttura, consentendo l'assorbimento di più fotoni e fornendo più coppie elettrone-lacuna.
Percorsi luminosi per diversi angoli di incidenza della luce che colpiscono la struttura piramidale
I metodi comunemente utilizzati per la testurizzazione superficiale includono l'attacco chimico, l'attacco con ioni reattivi, la fotolitografia e la scanalatura meccanica. Tra questi, il metodo dell'attacco chimico è ampiamente utilizzato nel settore a causa del suo basso costo, dell'elevata produttività e del metodo semplice [3] . Per le celle fotovoltaiche in silicio monocristallino, l'attacco anisotropo prodotto dalla soluzione alcalina su diversi strati cristallini di silicio cristallino viene solitamente utilizzato per formare una struttura simile alla formazione "piramidale" che è il risultato dell'anisotropia della soluzione alcalina su diversi strati cristallini di silicio cristallino. La formazione della struttura piramidale è causata dalla reazione anisotropa degli alcali con il silicio [4] . In una certa concentrazione di soluzione alcalina, la velocità di reazione di OH- con la superficie di Si(100) è molte volte o addirittura una dozzina di volte superiore a quella della superficie di Si(111), ed è questa differenza nella velocità di reazione che porta alla formazione della struttura piramidale.
I microscopi elettronici a scansione contribuiscono al miglioramento della qualità delle celle solari
Nel processo di incisione chimica, la concentrazione della soluzione di incisione, la temperatura, il tempo di reazione e altri fattori influenzeranno la preparazione della superficie del vello delle cellule di cristallo di silicio, determinando una diversa riflettività. Utilizzando il microscopio elettronico a scansione di filamenti di tungsteno CIQTEK SEM3100 è possibile osservare efficacemente la dimensione dell'area incisa e la struttura piramidale superficiale durante il processo di fabbricazione.
Grazie ai vantaggi del vano campioni di grande capacità del microscopio elettronico CIQTEK SEM3100, gli utenti possono inserire campioni fino a 370 mm di diametro senza tagliarli e il tavolino portacampioni completamente automatizzato a cinque assi del microscopio elettronico può essere inclinato da -10° a 75 °, consentendo l'osservazione multiangolo di diverse posizioni del campione.
Tavolo campione inclinato a 45°
Tavolo portacampioni inclinato a 30°
Campione posizionato orizzontalmente
La tensione di accelerazione inferiore di 3 ~ 5 kV viene utilizzata per osservare la struttura piramidale superficiale delle celle fotovoltaiche nel microscopio elettronico SEM3100, che può ridurre la profondità di penetrazione del fascio di elettroni sulla superficie del campione e rendere più ricchi i dettagli della superficie osservata e caratterizzare meglio la superficie difetti e forma della struttura, aiutando così gli utenti a confrontare e analizzare i diversi processi di produzione del velluto.
Secondo la ricerca GIR (Global Info Research), il fatturato globale delle apparecchiature per celle solari (PV) sarà pari a circa 44,7 miliardi di dollari nel 2021 e si prevede che raggiungerà i 55,57 miliardi di dollari nel 2028. Tra i tipi di prodotto, il silicio monocristallino continuerà a occupare una posizione posizione importante. Essendo un potente strumento per l'analisi microscopica, CIQTEK SEM3100 sarà un potente strumento per migliorare il processo di produzione delle celle fotovoltaiche e la ricerca correlata.
Riferimenti:
[1]Wu Jiejie, et al. Ricerca e prospettive nel settore delle batterie[J]. Chimica moderna, 2017, 37(9):5.
[2]Li Jiayuan. Studio della superficie del vello delle celle solari [D]. Università della Tecnologia di Dalian, 2009.
[3] Li HL, Zhao L, Diao HW et al. Analisi dei fattori che influenzano la struttura piramidale nella produzione del flusso di silicio monocristallino[J]. Giornale dei cristalli artificiali, 2010, 39(4):5.
[4]Nishimoto Y, Namba K. Indagine sulla testurizzazione per celle solari in silicio cristallino con soluzioni di carbonato di sodio[J]. Materiali per l'energia solare e celle solari, 2000, 61(4):393-402.
Microscopio SEM a filamento di tungsteno universale ad alte prestazioni Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno (SEM) per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti capacità di consumo.
Saperne di piùMicroscopio elettronico a scansione a emissione di campo analitico (FESEM) a fascio largo I CIQTEK SEM4000Pro è un modello analitico di FE-SEM, dotato di un cannone elettronico ad emissione di campo Schottky ad alta luminosità e lunga durata. Il design della lente elettromagnetica a 3 stadi offre vantaggi significativi in applicazioni analitiche come EDS/EDX, EBSD, WDS e altro ancora. Viene fornito di serie con una modalità a basso vuoto e un rilevatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni, nonché un rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che favorisce l'osservazione di campioni scarsamente conduttivi o non conduttivi.
Saperne di piùCIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e non immersione lente dell'obiettivo, raggiunge immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.
Saperne di piùCIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e non immersione lente dell'obiettivo, raggiunge immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.
Saperne di piùStabile, versatile, flessibile ed efficiente Il CIQTEK SEM4000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) stabile, versatile, flessibile ed efficiente. Raggiunge una risoluzione di 1,9 nm a 1,0 kV e affronta facilmente le sfide dell'imaging ad alta risoluzione per vari tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di decelerazione a ultra-raggio per migliorare ulteriormente la risoluzione a bassa tensione. Il microscopio utilizza la tecnologia multi-rivelatore, con un rilevatore di elettroni (UD) in colonna in grado di rilevare segnali SE e BSE fornendo allo stesso tempo prestazioni ad alta risoluzione. Il rilevatore di elettroni montato sulla camera (LD) incorpora cristalli scintillatori e tubi fotomoltiplicatori, offrendo sensibilità ed efficienza più elevate, ottenendo immagini stereoscopiche di qualità eccellente. L'interfaccia utente grafica è intuitiva e presenta funzioni di automazione come luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico e allineamento automatico, consentendo l'acquisizione rapida di immagini ad altissima risoluzione.
Saperne di piùLa microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) sfida i limiti Il CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30%, ottenendo una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV . La sua alta risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodi ad alta tecnologia.
Saperne di piùAlta risoluzione a bassa eccitazione Il CIQTEK SEM5000Pro è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Schottky (FE-SEM) specializzato in alta risoluzione anche con bassa tensione di eccitazione. L'impiego di un'avanzata tecnologia ottica elettronica "Super-Tunnel" facilita un percorso del raggio privo di crossover insieme a un design di lenti composte elettrostatiche-elettromagnetiche. Questi progressi riducono l'effetto di carica spaziale, minimizzano le aberrazioni dell'obiettivo, migliorano la risoluzione dell'immagine a bassa tensione e raggiungono una risoluzione di 1,2 nm a 1 kV, che consente l'osservazione diretta di campioni non conduttivi o semiconduttivi, riducendo efficacemente il campione danno da irradiazione.
Saperne di piùMicroscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) con colonne a fascio ionico focalizzato (FIB) Il microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato CIQTEK DB550 (FIB-SEM) è dotato di una colonna a fascio ionico focalizzato per la nanoanalisi e la preparazione dei campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico e ha la funzione "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano una sorgente ionica di metallo liquido Ga+ con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. DB550 è una workstation di nano-analisi e fabbricazione all-in-one con un nano-manipolatore integrato, un sistema di iniezione del gas e un software GUI intuitivo.
Saperne di piùMicroscopio elettronico a scansione ad alta velocità per l'imaging su scala incrociata di Campioni di grandi volumi CIQTEK HEM6000 tecnologie per strutture come il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio di elettroni ad alta velocità, la decelerazione dello stadio campione ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere un'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al tempo stesso una risoluzione su scala nanometrica. Il processo operativo automatizzato è progettato per applicazioni quali un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su grandi aree più efficiente e intelligente. La velocità di imaging può raggiungere oltre 5 volte più velocemente di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
Saperne di piùMicroscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno di nuova generazione Il CIQTEK SEM3300 microscopio elettronico a scansione (SEM) incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", rilevatori di elettroni interni e obiettivi composti elettrostatici ed elettromagnetici. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, il limite di risoluzione di lunga data di tale SEM viene superato, consentendo al SEM del filamento di tungsteno di eseguire attività di analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con SEM a emissione di campo.
Saperne di piùStabile, versatile, flessibile ed efficiente Il CIQTEK SEM4000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) stabile, versatile, flessibile ed efficiente. Raggiunge una risoluzione di 1,9 nm a 1,0 kV e affronta facilmente le sfide dell'imaging ad alta risoluzione per vari tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di decelerazione a ultra-raggio per migliorare ulteriormente la risoluzione a bassa tensione. Il microscopio utilizza la tecnologia multi-rivelatore, con un rilevatore di elettroni (UD) in colonna in grado di rilevare segnali SE e BSE fornendo allo stesso tempo prestazioni ad alta risoluzione. Il rilevatore di elettroni montato sulla camera (LD) incorpora cristalli scintillatori e tubi fotomoltiplicatori, offrendo sensibilità ed efficienza più elevate, ottenendo immagini stereoscopiche di qualità eccellente. L'interfaccia utente grafica è intuitiva e presenta funzioni di automazione come luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico e allineamento automatico, consentendo l'acquisizione rapida di immagini ad altissima risoluzione.
Saperne di piùMicroscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo (TEM) da 120 kV 1. Spazi di lavoro divisi: Gli utenti utilizzano TEM in una stanza divisa con comodità riducendo le interferenze ambientali al TEM. 2. Elevata efficienza operativa: Il software designato integra processi altamente automatizzati, consentendo un'interazione TEM efficiente con il monitoraggio in tempo reale. 3. Esperienza operativa migliorata: Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo con un sistema altamente automatizzato. 4. Elevata espandibilità: Sono presenti interfacce sufficienti riservate agli utenti per l'aggiornamento a una configurazione superiore, che soddisfa diversi requisiti applicativi.
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