Synergie4 sta attualmente presentando i prodotti di microscopia elettronica di CIQTEK all'E-MRS 2025, in Francia
Synergie4 sta attualmente presentando i prodotti di microscopia elettronica di CIQTEK all'E-MRS 2025, in Francia
May 28, 2025
CIQTEK
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prodotti al meeting ed esposizione E-MRS 2025. L'evento si terrà a Strasburgo, in Francia, dal 26 al 30 maggio, con il loro stand 27.
L'E-MRS vanta oggi oltre 4.000 membri provenienti dall'industria, dalla pubblica amministrazione, dal mondo accademico e dai laboratori di ricerca. I suoi incontri costituiscono una piattaforma di discussione sui più recenti progressi tecnologici nei materiali funzionali. Distinguendosi da molte società professionali monodisciplinari, l'E-MRS promuove lo scambio di informazioni tra scienziati, ingegneri e responsabili della ricerca a livello interdisciplinare.
Questa partecipazione all'E-MRS Meeting and Exhibition del 2025 non solo mette in mostra
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prodotti, ma sottolinea anche il loro impegno a rimanere all'avanguardia nella scienza dei materiali e nei progressi della ricerca.
La presenza di Synergie4 a questo prestigioso evento mette in risalto lo spirito di collaborazione e la dedizione all'eccellenza che CIQTEK e i suoi partner incarnano nella loro ricerca di progressi nella scienza e nella tecnologia dei materiali.
Filamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni per SEM Microscopio IL Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti possibilità di espansione.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.
Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato Ga+ IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e un design dell'obiettivo non magnetico, e dispone della funzione "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche consentono l'utilizzo di una sorgente di ioni metallici liquidi Ga+ con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.