Installazione riuscita di SEM3200 e SEM4000Pro di CIQTEK presso il centro di test GSEM in Corea
Installazione riuscita di SEM3200 e SEM4000Pro di CIQTEK presso il centro di test GSEM in Corea
August 26, 2024
Suwon, Corea - In uno sviluppo significativo, il principale distributore di apparecchiature scientifiche GSEM Corea ha installato con successo l'avanguardia SEM3200 e SEM4000Pro Sinscatolamento Electron Microscopio (SEM)presso il suo centro di test in Corea.
Il SEM3200 e SEM4000Pro SEM Microscopiodi CIQTEKrappresentano una svolta nell'imaging moderno ad alta risoluzione. Grazie alla tecnologia avanzata della microscopia elettronica,tquesti SEM Microscopi all'avanguardiaforniranno strumenti e piattaforme eccezionali per ricercatori coreani e professionisti del settore , promuovendo progressi in varicampi.
"Siamo entusiasti dell'installazionedel SEM3200 e del SEM4000Pro", ha affermatoun ricercatore del GSEM. "L'alta risoluzione e le funzionalità di imaging avanzate ci consentono di ottenere informazioni preziose sull'analisi microscopica, consentendoci di ottimizzare e personalizzare le prestazioni per applicazioni specifiche. "
Con un'ampia rete di vendita e un team dedicato di esperti tecnici, GSEMrimane impegnato a promuovere l'innovazione e il progresso scientifico, fornendo strumentazione eccellente e fornendo supporto tecnico per ricercatori e professionisti del settore in Corea. Collaborano con aziende e istituti di ricerca per promuovere lo sviluppo della ricerca scientifica, apportando un contributo significativo all'innovazione e alla crescita sostenibile della Corea.
Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo analitico (FESEM) a fascio largo I CIQTEK SEM4000Pro è un modello analitico di FE-SEM, dotato di un cannone elettronico ad emissione di campo Schottky ad alta luminosità e lunga durata. Il design della lente elettromagnetica a 3 stadi offre vantaggi significativi in applicazioni analitiche come EDS/EDX, EBSD, WDS e altro ancora. Viene fornito di serie con una modalità a basso vuoto e un rilevatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni, nonché un rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che favorisce l'osservazione di campioni scarsamente conduttivi o non conduttivi.
Microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno di nuova generazione Il CIQTEK SEM3300 microscopio elettronico a scansione (SEM) incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", rilevatori di elettroni interni e obiettivi composti elettrostatici ed elettromagnetici. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, il limite di risoluzione di lunga data di tale SEM viene superato, consentendo al SEM del filamento di tungsteno di eseguire attività di analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con SEM a emissione di campo.
Microscopio SEM universale e ad alte prestazioni con filamento di tungsteno Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno (SEM) per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti capacità di consumo.
Microscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo (TEM) da 120 kV 1. Spazi di lavoro divisi: Gli utenti utilizzano TEM in una stanza divisa con comodità riducendo le interferenze ambientali al TEM. 2. Elevata efficienza operativa: Il software designato integra processi altamente automatizzati, consentendo un'interazione TEM efficiente con il monitoraggio in tempo reale. 3. Esperienza operativa migliorata: Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo con un sistema altamente automatizzato. 4. Elevata espandibilità: Sono presenti interfacce sufficienti riservate agli utenti per l'aggiornamento a una configurazione superiore, che soddisfa diversi requisiti applicativi.