Il CIQTEK SEM3200 è un microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno ad alte prestazioni, progettato per coloro che richiedono l'eccellenza nell'imaging. Offre una qualità dell'immagine eccezionale con immagini ad alta risoluzione e un'ampia profondità di campo, garantendo dettagli e dimensioni ricchi in ogni immagine.
SEM3200 offre anche una modalità a basso vuoto, consentendo l'osservazione diretta di campioni non conduttivi senza la necessità di rivestimento. La sua scalabilità estesa lo rende compatibile con vari rilevatori e strumenti, tra cui SE, BSE, EDS ed EBSD.
Per gli scienziati, SEM3200 offre numerosi vantaggi:
· Immagini ad alta risoluzione: Ottieni chiarezza e dettagli straordinari.
· Versatilità: Posizionamento flessibile del campione con un tavolino eucentrico a cinque assi.
· Scalabilità: Integra perfettamente rilevatori aggiuntivi e strumenti analitici per estendere le funzionalità.
· Interfaccia intuitiva: Semplifica attività di imaging complesse, migliorando la produttività e i risultati della ricerca.
Queste funzionalità consentono ai ricercatori di ampliare i confini del loro lavoro, dalla scienza dei materiali agli studi biologici.
Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Microscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo (TEM) da 120 kV 1. Spazi di lavoro divisi: Gli utenti utilizzano TEM in una stanza divisa con comodità riducendo le interferenze ambientali al TEM. 2. Elevata efficienza operativa: Il software designato integra processi altamente automatizzati, consentendo un'interazione TEM efficiente con il monitoraggio in tempo reale. 3. Esperienza operativa migliorata: Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo con un sistema altamente automatizzato. 4. Elevata espandibilità: Sono presenti interfacce sufficienti riservate agli utenti per l'aggiornamento a una configurazione superiore, che soddisfa diversi requisiti applicativi.
Filamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni per SEM Microscopio IL Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti possibilità di espansione.