CIQTEK to Participate in the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM 2026)
CIQTEK to Participate in the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM 2026)
January 15, 2026
CIQTEK is pleased to announce its participation in the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM), which will take place on February 19–20, 2026, at The University of Texas at Austin, USA.
Marking six decades of contributions to the microscopy community, TSM 2026 brings together researchers, facility managers, and industry professionals to discuss both the legacy and the future of microscopy. CIQTEK is honored to be part of this milestone event and to engage with the Texas and broader U.S. microscopy community.
Supporting Advanced Microscopy with Practical, High-Performance EM Solutions
At TSM 2026, CIQTEK will showcase its growing portfolio of electron microscopes (EM), designed to meet the evolving needs of academic research, shared facilities, and industrial laboratories.
CIQTEK's EM product line covers a wide range of applications, from routine imaging to advanced materials characterization, including:
FIB-SEM systems, delivering enhanced brightness and resolution for materials science and industrial inspection
Field Emission SEM (FE-SEM), engineered for high-resolution imaging, analytical workflows, and demanding research environments
Tungsten filament SEM, offering stable performance and cost-effective solutions for teaching labs and routine analysis
Across the portfolio, CIQTEK focuses on delivering reliable imaging performance, intuitive system operation, and long-term ownership value, helping laboratories achieve consistent results without unnecessary complexity.
Engaging with the Microscopy Community
CIQTEK views conferences like TSM not only as an opportunity to present instrumentation, but also as a platform for meaningful technical exchange. During the meeting, the CIQTEK team looks forward to discussing real-world microscopy challenges, system selection considerations, and long-term operational needs with users across materials science, life science, and industrial applications.
For attendees interested in learning more about CIQTEK EM solutions or exploring potential collaborations, CIQTEK warmly welcomes conversations during the meeting in Austin!
Local Support from CIQTEK USA
To better serve customers in North America, CIQTEK maintains a local branch in the United States, providing regional sales support, application consultation, and long-term service assistance for electron microscopy users.
For more information about CIQTEK EM solutions or to connect with the CIQTEK USA team, please contact us at info.usa@ciqtek.com.
Microscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo (TEM) da 120 kV 1. Spazi di lavoro divisi: Gli utenti utilizzano TEM in una stanza divisa con comodità riducendo le interferenze ambientali al TEM. 2. Elevata efficienza operativa: Il software designato integra processi altamente automatizzati, consentendo un'interazione TEM efficiente con il monitoraggio in tempo reale. 3. Esperienza operativa migliorata: Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo con un sistema altamente automatizzato. 4. Elevata espandibilità: Sono presenti interfacce sufficienti riservate agli utenti per l'aggiornamento a una configurazione superiore, che soddisfa diversi requisiti applicativi.
Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Ga + Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico, e presenta la caratteristica "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano un Ga + Sorgente di ioni di metallo liquido con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.