CIQTEK esporrà alla conferenza sulla microscopia MC2025 a Karlsruhe, Germania
CIQTEK esporrà alla conferenza sulla microscopia MC2025 a Karlsruhe, Germania
August 11, 2025
CIQTEK
è lieta di annunciare la sua partecipazione al
Conferenza di microscopia 2025 (MC2025)
, che si svolge
31 agosto – 4 settembre
In
Karlsruhe, Germania
.
Ci puoi trovare a
Stand n. 28
nell'area espositiva della Messe Karlsruhe.
MC2025 è uno degli eventi più importanti nella comunità internazionale della microscopia,
organizzato congiuntamente dalla Società tedesca di microscopia elettronica (DGE), dalla Società austriaca di microscopia elettronica (ASEM) e dalla Società svizzera di ottica e microscopia (SSOM)
, sotto il patrocinio del
Società Europea di Microscopia (EMS)
La conferenza riunisce scienziati, ingegneri e leader del settore per condividere gli ultimi progressi nelle tecnologie, nelle applicazioni e nelle tecniche di imaging.
Presentazione dell'espositore
Data e ora:
Lunedì 1 settembre, ore 17:10 – 17:20
Posizione:
Sala conferenze, Messe Karlsruhe
Argomento:
Sbloccare la potenza della microscopia elettronica a scansione ad alta velocità senza compromettere la superba risoluzione delle immagini a bassi kV
Durante questa sessione, il nostro Senior Electron Microscopy Engineer condividerà con noi le sue intuizioni su come la più recente tecnologia SEM ad alta velocità di CIQTEK raggiunge una risoluzione di imaging eccezionale a basse tensioni di accelerazione, consentendo innovazioni nella scienza dei materiali, nelle scienze della vita e nella ricerca nanotecnologica.
Non vediamo l'ora di entrare in contatto con ricercatori, partner e colleghi del settore al MC2025. Visita
Stand n. 28
per esplorare le nostre soluzioni avanzate di microscopia elettronica e discutere di come CIQTEK può supportare il tuo lavoro.
SEM a filamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni Microscopio IL Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con un'eccellente espandibilità.
Ga + Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico, e presenta la caratteristica "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano un Ga + Sorgente di ioni di metallo liquido con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.