CIQTEK presenta le sue soluzioni di microscopia elettronica alla fiera The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, negli Stati Uniti.
CIQTEK presenta le sue soluzioni di microscopia elettronica alla fiera The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, negli Stati Uniti.
March 18, 2026
CIQTEK
ha partecipato al
Riunione e fiera annuale TMS 2026
, tenutosi dal 15 al 19 marzo 2026 a San Diego, California, USA. Il nostro team statunitense e il partner di distribuzione locale hanno accolto i visitatori presso
Stand n. 307
, dove abbiamo presentato il nostro ultimo
soluzioni per microscopia elettronica
per applicazioni nel campo della scienza dei materiali.
Informazioni su TMS 2026
Organizzato da
La Società dei Minerali, dei Metalli e dei Materiali (TMS)
Questo incontro annuale è un evento chiave per la comunità globale della scienza dei materiali. Riunisce ricercatori, ingegneri e professionisti del settore che operano in ambiti quali la metallurgia, i materiali avanzati, la produzione additiva e le tecnologie di caratterizzazione.
L'evento offre un'ottima piattaforma per lo scambio di idee, la scoperta di nuove tecnologie e la discussione di sfide concrete nel campo della ricerca e della produzione di materiali.
Soluzioni SEM personalizzate per la ricerca sui materiali
CIQTEK ha presentato soluzioni di microscopia elettronica progettate per supportare un'ampia gamma di applicazioni nel campo della scienza dei materiali.
I nostri sistemi sono particolarmente adatti per:
Analisi della microstruttura di metalli e leghe
Analisi dei guasti e indagine sui difetti
Caratterizzazione delle polveri e dei nanoparticelle
Produzione additiva e ricerca sui nuovi materiali
Molti visitatori si sono mostrati particolarmente interessati alla capacità dei sistemi CIQTEK di offrire prestazioni di imaging stabili pur rimanendo facili da usare. Per i laboratori che devono trovare un equilibrio tra prestazioni, usabilità e budget, questa combinazione è particolarmente importante.
Abbiamo inoltre avuto approfondite discussioni con gli utenti sulle loro sfide quotidiane, come il miglioramento dell'efficienza dell'imaging, la semplificazione dei flussi di lavoro e la gestione di campioni complessi. Queste conversazioni ci aiutano ad allineare meglio le nostre soluzioni alle reali esigenze applicative.
Forte presenza e supporto a livello locale negli Stati Uniti.
La partecipazione a TMS 2026 rientra nella più ampia strategia di CIQTEK volta ad espandere la propria attività nel settore della microscopia elettronica nel mercato statunitense.
Offriamo:
UN
Centro dimostrativo con sede negli Stati Uniti
per la valutazione pratica
Assistenza tecnica e applicativa a livello locale negli Stati Uniti.
Risposta più rapida per assistenza e formazione
Continuiamo a investire in team locali, infrastrutture e partnership per supportare al meglio ricercatori e utenti del settore. Combinando tecnologie competitive con servizi localizzati, CIQTEK mira a rendere la microscopia elettronica di alta qualità più accessibile in tutto il Nord America.
Ga + Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico, e presenta la caratteristica "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano un Ga + Sorgente di ioni di metallo liquido con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.
Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.