CIQTEK Showcases Electron Microscopy Solutions at The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, USA
CIQTEK Showcases Electron Microscopy Solutions at The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, USA
March 18, 2026
CIQTEK participated in the TMS 2026 Annual Meeting & Exhibition, held from March 15–19, 2026 in San Diego, California, USA. Our U.S. team and local distribution partner welcomed visitors at Booth #307, where we presented our latest electron microscopy solutions for materials science applications.
About TMS 2026
Organized by The Minerals, Metals & Materials Society (TMS), this annual meeting is a key event for the global materials science community. It brings together researchers, engineers, and industry professionals working in areas such as metallurgy, advanced materials, additive manufacturing, and characterization technologies.
The event provides a strong platform for exchanging ideas, discovering new technologies, and discussing real-world challenges in materials research and production.
Tailored SEM Solutions for Materials Research
CIQTEK showcased electron microscopy solutions designed to support a wide range of materials science applications.
Our systems are well-suited for:
Microstructure analysis of metals and alloys
Failure analysis and defect investigation
Powder and particle characterization
Additive manufacturing and new materials research
Many visitors were particularly interested in how CIQTEK systems deliver stable imaging performance while remaining easy to operate. For labs balancing performance, usability, and budget, this combination is especially important.
We also had in-depth discussions with users about their daily challenges, such as improving imaging efficiency, simplifying workflows, and handling complex samples. These conversations help us better align our solutions with real application needs.
Strong Local Presence and Support in the U.S.
Participation in TMS 2026 is part of CIQTEK's broader strategy to expand its electron microscopy business in the U.S. market.
We offer:
A U.S.-based demo center for hands-on evaluation
U.S. Local technical and application support
Faster response for service and training
We continue to invest in local teams, infrastructure, and partnerships to support researchers and industry users better. By combining competitive technology with localized service, CIQTEK aims to make high-quality electron microscopy more accessible across North America.
Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Ga + Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico, e presenta la caratteristica "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano un Ga + Sorgente di ioni di metallo liquido con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.