Per supportare l'implementazione, il team di ingegneri di CIQTEK ha fornito una formazione completa in loco al team di JH Technologies. La formazione includeva istruzioni dettagliate sul funzionamento del sistema, dimostrazioni applicative e discussioni tecniche mirate a casi d'uso reali. La collaborazione ha migliorato le capacità del team JH nell'illustrare e supportare gli strumenti CIQTEK.
Dopo la consegna, JH Technologies ha ospitato un evento di successo
Open House
presso la sua sede di Fremont, con dimostrazioni dal vivo di entrambi i sistemi. L'evento ha attirato un'ampia partecipazione da parte di professionisti del mondo accademico e del settore, generando un notevole interesse e feedback positivi. Incoraggiata dal successo, JH Technologies prevede di organizzare a breve altri eventi Open House per promuovere ulteriormente le soluzioni di imaging avanzate di CIQTEK.
Tecnologia di imaging comprovata per applicazioni impegnative
IL
Modello SEM3300
Combina una sorgente tradizionale a filamento di tungsteno con ottiche moderne, offrendo prestazioni ad alta risoluzione a basse tensioni di accelerazione. Offre una soluzione potente ma accessibile per analisi e ricerche di routine.
IL
SEM5000X
Offre immagini ad altissima risoluzione e funzionalità di automazione avanzate, rendendolo ideale per la scienza dei materiali, l'ispezione dei semiconduttori e la ricerca nanotecnologica. Entrambi i sistemi offrono interfacce utente intuitive e opzioni di configurazione flessibili per soddisfare diverse esigenze applicative.
Guardando avanti
La collaborazione di CIQTEK con JH Technologies riflette una visione condivisa: fornire strumenti SEM di livello mondiale, supportati da una solida esperienza locale. Combinando prestazioni, usabilità e accessibilità, CIQTEK sta rapidamente guadagnando popolarità tra gli utenti statunitensi nei settori della ricerca, della produzione e della formazione.
Aleks Zhang, Vicedirettore dell'Overseas Business Group di CIQTEK, ha commentato: "Siamo orgogliosi di vedere i nostri strumenti SEM nelle mani di un partner così professionale e competente. Il mercato statunitense è in forte espansione e ci impegniamo ad ampliare il nostro supporto ai clienti locali attraverso una stretta collaborazione con distributori come JH Technologies".
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.
Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.