CIQTEK SEM partecipa ai corsi di formazione sulla microscopia elettronica di Münster 2026 in Germania

CIQTEK è lieta di annunciare che il Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno CIQTEK SEM3200 prenderà parte al Corsi di formazione SEM di Münster 2026 , fornendo ai partecipanti un'esperienza pratica con lo strumento durante le sessioni tenute da Dal 16 al 20 marzo 2026 In Münster, Germania .

Questa collaborazione consente a ricercatori, ingegneri e utenti di microscopia che partecipano al programma di formazione di utilizzare direttamente il sistema SEM3200 ed esplorarne le capacità in flussi di lavoro analitici reali. Per molti partecipanti, sarà un'opportunità per acquisire esperienza pratica con la moderna tecnologia della microscopia elettronica a scansione durante uno dei programmi di formazione in microscopia più longevi d'Europa.

Informazioni sui corsi di formazione SEM di Münster

I corsi di formazione SEM a Münster sono organizzati dall' Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gGmbH , un'istituzione consolidata dedicata alla formazione in microscopia elettronica e microanalisi.

Per decenni, l'accademia ha ospitato sessioni di formazione intensive che trattavano argomenti quali:

• Fondamenti di microscopia elettronica a scansione

• Analisi della spettroscopia a dispersione di energia (EDS)

• Tecniche di imaging elettronico

• Preparazione del campione e flussi di lavoro pratici

• Interpretazione dei dati per l'analisi dei materiali

Questi corsi attraggono ogni anno un gruppo eterogeneo di partecipanti. Tra i partecipanti figurano ricercatori universitari, ingegneri di laboratorio, specialisti di materiali industriali e personale di laboratori di microscopia provenienti da tutta Europa e non solo.

La formazione si svolge presso Fachhochschulzentrum dell'Università di Scienze Applicate di Münster , dove le lezioni frontali sono abbinate a esercitazioni pratiche in laboratorio. Durante i corsi vengono installati diversi microscopi, in modo che i partecipanti possano acquisire esperienza operativa diretta.

Il programma dei corsi del 2026 prevede diverse sessioni specialistiche, tra cui:

• R-1: Introduzione alla microscopia elettronica a scansione

• R-2: SEM avanzato e microanalisi

• R-3: Tecniche SEM avanzate

• Formazione sull'analisi EBSD

• Corsi di analisi delle particelle

Durante il sessioni dal 16 marzo al 20 marzo , IL CIQTEK SEM3200 sarà disponibile come uno degli strumenti utilizzati per la formazione e le dimostrazioni.

Controlla i corsi qui: http://www.akademie-elektronenmikroskopie.de/uebersicht.php

Supportare l'istruzione e la condivisione delle conoscenze nella microscopia elettronica

Programmi di formazione come i corsi SEM di Münster svolgono un ruolo importante nella comunità della microscopia elettronica. Offrono una piattaforma in cui ricercatori e ingegneri possono rafforzare le proprie competenze pratiche e scambiare esperienze con istruttori e altri partecipanti.

CIQTEK ritiene che la formazione pratica sia essenziale per il progresso della ricerca scientifica e delle capacità analitiche. Supportando iniziative di formazione e fornendo strumenti per sessioni pratiche, l'azienda mira ad aiutare gli utenti ad acquisire una maggiore familiarità con la tecnologia SEM e le sue applicazioni.

Eventi come questi creano anche opportunità di dialogo tra sviluppatori di strumenti e utenti finali. Il feedback proveniente dagli ambienti di formazione spesso contribuisce a migliorare l'usabilità, la progettazione del software e i flussi di lavoro analitici.

Portafoglio prodotti per microscopia elettronica CIQTEK

Il modello SEM3200 fa parte del crescente portafoglio di strumenti di microscopia elettronica CIQTEK, progettati per laboratori di ricerca, università e strutture di analisi industriali.

CIQTEK offre una gamma di soluzioni per microscopi elettronici a scansione, tra cui:

- Serie SEM con filamento di tungsteno

Sistemi affidabili e convenienti per l'imaging di routine e l'analisi dei materiali.

- Serie SEM a emissione di campo

Strumenti ad alta risoluzione progettati per l'osservazione avanzata delle nanostrutture e per applicazioni di ricerca impegnative.

- SEM a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM)

Sistemi a doppio fascio per la preparazione di campioni su scala nanometrica, sezionamento trasversale e analisi 3D.

Uno sguardo al futuro di Münster 2026

I corsi di formazione SEM di Münster del 2026 riuniranno ancora una volta i membri della comunità della microscopia per diverse settimane di apprendimento intensivo ed esperienza pratica. CIQTEK è lieta che Microscopio elettronico a scansione SEM3200 contribuirà al programma e supporterà i partecipanti durante le sessioni pratiche.

Collaborando con istituti di formazione e organizzazioni di ricerca, CIQTEK continua a sostenere lo sviluppo delle competenze in microscopia e il progresso delle tecnologie di caratterizzazione dei materiali in tutto il mondo.