Seminario CIQTEK e SciMed sulla microscopia elettronica il 25 febbraio 2025
Seminario CIQTEK e SciMed sulla microscopia elettronica il 25 febbraio 2025
January 21, 2025
Si tratta di un evento di un giorno che copre molti argomenti per gli utenti EM, dalla preparazione dei campioni, inclusa la macinazione di ioni Bema e campioni liquidi, alle apparecchiature reali come SEM da banco e da pavimento. La giornata consisterà in una serie di presentazioni tecniche incentrate sul tema della microscopia elettronica, seguite da alcune sessioni pratiche.
I partecipanti acquisiranno informazioni dettagliate sull'intera offerta di SciMed nel campo della microscopia elettronica e sulla relativa preparazione dei campioni. Verrà inoltre mostrata la suite EM di SciMed situata presso l'LMCC presso l'Università di Loughborough che include un CIQTEK SEM3200, un microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno ad alte prestazioni rinomato per la sua eccezionale qualità di imaging e versatilità in varie applicazioni.
SNE-ALPHA di SEC è un SEM da tavolo compatto che combina un funzionamento intuitivo con una risoluzione ultra nitida, rendendolo ideale per l'analisi dettagliata delle dimensioni delle particelle e il rendering 3D. Inoltre, i partecipanti esploreranno il mulino a fascio ionico SEMPREP SMART di Technoorg Linda, dotato di sorgenti di ioni di argon ad alta e bassa energia, progettato per una lucidatura finale precisa e la pulizia dei campioni per SEM, FEG, FIB ed EBSD campioni, garantendo superfici prive di danni e facilitando una rapida analisi trasversale. Infine verrà presentato l'accessorio Aquarius Liquid per SEM della FlowVIEW.
Questa panoramica completa consentirà ai partecipanti di comprendere come questi strumenti all'avanguardia possono migliorare le loro capacità di ricerca e analisi.
Discussioni sugli abstract
Riassunto del discorso:Frank Chen di CIQTEK
"Rivoluzionare la microscopia analitica: oltrepassare i confini con CIQTEK SEM3200" In questo intervento, Paul Vanden Branden esplorerà il modo in cui CIQTEK SEM3200 ridefinisce gli standard della microscopia elettronica a scansione ad alte prestazioni. Approfondirà la tecnologia avanzata dei filamenti di tungsteno, le robuste capacità di imaging e le applicazioni versatili in tutti i settori. I partecipanti impareranno come questo strumento fornisce ai ricercatori dati precisi e di alta qualità, ottimizzando al tempo stesso l'efficienza del flusso di lavoro. Questa sessione promette di ispirare nuove possibilità per l'integrazione di strumenti SEM all'avanguardia sia in contesti accademici che industriali.
Abstract del discorso: Dr. Dan Merryweather
"La potenza del SEM da tavolo: SNE Alpha come piattaforma SEM analitica" Unisciti al Dr. Dan Merryweather mentre demistifica le complessità della microscopia elettronica a scansione con SEC-Alpha, un SEM da tavolo compatto e facile da usare. Ne discuterà le caratteristiche innovative, come l'imaging ad alta risoluzione, l'analisi delle dimensioni delle particelle e il rendering 3D, mostrando il suo potenziale per trasformare le attività analitiche di routine. Questo discorso è ideale per i professionisti che cercano una soluzione SEM accessibile ma potente per promuovere precisione e innovazione nel loro lavoro.
Riassunto del discorso: Dr. Marton Péter Iritz
Presentazione della gamma Ion Beam Milling di Technoorg Linda con esempi pratici applicati in un'ampia gamma di settori e applicazioni
Microscopio SEM universale e ad alte prestazioni con filamento di tungsteno Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno (SEM) per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti capacità di consumo.