Microscopio elettronico a scansione CIQTEK per applicazioni MLCC
I condensatori ceramici, come una sorta di componenti passivi di base, sono un membro indispensabile della moderna industria elettronica. Tra questi, i condensatori ceramici multistrato su chip (MLCC) occupano oltre il 90% del mercato dei condensatori ceramici grazie alle loro caratteristiche di resistenza alle alte temperature, resistenza alle alte tensioni, dimensioni ridotte e un'ampia gamma di capacità e sono ampiamente utilizzati nell'elettronica di consumo. industriale, compresi elettrodomestici, comunicazioni, elettronica automobilistica, nuova energia, controllo industriale e altre aree di applicazione.
L'uso di CIQTEK SEM può aiutare a completare l'analisi dei guasti dell'MLCC, a trovare l'origine del guasto attraverso la micromorfologia, a ottimizzare il processo di produzione e a raggiungere l'obiettivo di un'elevata affidabilità del prodotto.
Applicazione di CIQTEK SEM in MLCC
L'MLCC è costituito da tre parti: elettrodo interno, dielettrico ceramico ed elettrodo terminale. Con il continuo aggiornamento della domanda del mercato dei prodotti elettronici, la tecnologia dei prodotti MLCC presenta anche la tendenza allo sviluppo di alta capacità, alta frequenza, alta temperatura e resistenza all'alta tensione, alta affidabilità e miniaturizzazione. La miniaturizzazione implica la necessità di utilizzare polveri ceramiche di dimensioni più piccole e più uniformi. La microstruttura del materiale determina le prestazioni finali e l'uso del microscopio elettronico a scansione per caratterizzare la microstruttura delle polveri ceramiche, inclusa la morfologia delle particelle, l'uniformità della dimensione delle particelle e la dimensione dei grani, può aiutare nel miglioramento continuo del processo di preparazione.
Imaging al microscopio elettronico a scansione di diversi tipi di polveri ceramiche di titanato di bario/25 kV/ETD
Imaging al microscopio elettronico a scansione Diversi tipi di polveri ceramiche di titanato di bario /1kV/Inlens
Un'elevata affidabilità significa che è necessaria una comprensione più approfondita del meccanismo di guasto e quindi l'analisi dei guasti è indispensabile. La causa principale del guasto dell'MLCC è la presenza di vari difetti microscopici, come crepe, buchi, delaminazione, ecc., sia esternamente che internamente. Questi difetti influenzeranno direttamente le prestazioni elettriche e l'affidabilità dei prodotti MLCC e rappresenteranno gravi pericoli nascosti per la qualità del prodotto. L'uso del microscopio elettronico a scansione può aiutare a completare l'analisi dei guasti dei condensatori, individuare l'origine del guasto attraverso la morfologia microscopica, ottimizzare il processo di produzione e, infine, raggiungere l'obiettivo di un'elevata affidabilità del prodotto.
L'interno dell'MLCC è una struttura multistrato, ogni strato di ceramica presenta difetti, lo spessore della ceramica multistrato è uniforme, se gli elettrodi sono coperti in modo uniforme, tutto ciò influenzerà la durata del dispositivo. Quando si utilizza il SEM per osservare la struttura multistrato interna degli MLCC o per analizzarne i guasti interni, è spesso necessario eseguire una serie di pretrattamenti sui campioni prima che possano essere testati. Questi includono l'inclusione di resina, la macinazione meccanica, il trattamento conduttivo mediante un dispositivo di rivestimento, ecc. Un ulteriore trattamento di finitura può essere effettuato anche utilizzando un mulino a ioni. La figura seguente mostra la morfologia microscopica della sezione trasversale interna dell'MLCC presa con un filamento di tungsteno CIQTEK SEM3200. Come si vede in figura, la delaminazione dello strato dielettrico ceramico può essere la causa del guasto del dispositivo.
Sezione MLCC/15kV/BSED
Sezione MLCC/20kV/BSED
Negli ultimi anni, la domanda di MLCC ha visto un nuovo ciclo di crescita con il boom dello sviluppo dell’elettronica di consumo, delle apparecchiature di comunicazione e dell’industria automobilistica. L'uso di CIQTEK SEM per caratterizzare la morfologia rilevante e l'omogeneità compositiva dell'MLCC aiuterà i produttori di MLCC a sostenere lo sviluppo di alta affidabilità.
CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e non immersione lente dell'obiettivo, raggiunge immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.
Saperne di piùStabile, versatile, flessibile ed efficiente IL CIQTEK SEM4000X è stabile, versatile, flessibile ed efficiente microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) Raggiunge una risoluzione di 1,9 nm a 1,0 kV e affronta facilmente le sfide dell'imaging ad alta risoluzione per vari tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di decelerazione ultra-fascio per migliorare ulteriormente la risoluzione a bassa tensione. Il microscopio utilizza la tecnologia multi-detector, con un rivelatore di elettroni (UD) in colonna in grado di rilevare segnali SE e BSE garantendo al contempo prestazioni ad alta risoluzione. Il rivelatore di elettroni (LD) montato nella camera incorpora scintillatori a cristallo e tubi fotomoltiplicatori, offrendo maggiore sensibilità ed efficienza, con conseguente produzione di immagini stereoscopiche di qualità eccellente. L'interfaccia utente grafica è intuitiva e dotata di funzioni di automazione come luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico e allineamento automatico, consentendo l'acquisizione rapida di immagini ad altissima risoluzione.
Saperne di piùAnalitico Schottky Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro È un modello FE-SEM analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky ad alta luminosità e lunga durata. Il suo design a lente elettromagnetica a tre stadi offre vantaggi significativi in applicazioni analitiche come EDS/EDX, EBSD, WDS e altre ancora. Il modello è dotato di serie di una modalità a basso vuoto e di un rivelatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni, nonché di un rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che agevola l'osservazione di campioni scarsamente conduttivi o non conduttivi.
Saperne di piùMicroscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.
Saperne di piùAlta risoluzione a bassa eccitazione IL CIQTEK SEM5000Pro è un Schottky ad alta risoluzione microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) Specializzato in alta risoluzione anche a bassa tensione di eccitazione. L'impiego di un'avanzata tecnologia di ottica elettronica "Super-Tunnel" consente un percorso del fascio senza incroci e un design di lenti composte elettrostatico-elettromagnetiche. Questi progressi riducono l'effetto di carica spaziale, minimizzano le aberrazioni delle lenti, migliorano la risoluzione delle immagini a bassa tensione e raggiungono una risoluzione di 1,2 nm a 1 kV, che consente l'osservazione diretta di campioni non conduttivi o semiconduttivi, riducendo efficacemente i danni causati dall'irradiazione del campione.
Saperne di piùFilamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni per SEM Microscopio IL Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti possibilità di espansione.
Saperne di piùRisoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Saperne di piùMicroscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo (TEM) da 120 kV 1. Spazi di lavoro divisi: Gli utenti utilizzano TEM in una stanza divisa con comodità riducendo le interferenze ambientali al TEM. 2. Elevata efficienza operativa: Il software designato integra processi altamente automatizzati, consentendo un'interazione TEM efficiente con il monitoraggio in tempo reale. 3. Esperienza operativa migliorata: Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo con un sistema altamente automatizzato. 4. Elevata espandibilità: Sono presenti interfacce sufficienti riservate agli utenti per l'aggiornamento a una configurazione superiore, che soddisfa diversi requisiti applicativi.
Saperne di piùAd alta velocità Emissione di campo completamente automatizzata Microscopio elettronico a scansione Postazione di lavoro CIQTEK HEM6000 tecnologie delle strutture quali il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio elettronico ad alta velocità, la decelerazione dello stadio di campionamento ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere un'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al contempo una risoluzione su scala nanometrica. Il processo di funzionamento automatizzato è progettato per applicazioni come un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su ampie aree più efficiente e intelligente. La sua velocità di imaging è oltre cinque volte superiore a quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
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