Caso applicativo del microscopio elettronico a scansione CIQTEK in materiali particellari e in polvere
Le polveri sono oggi le materie prime per la preparazione di materiali e dispositivi in vari campi e sono ampiamente utilizzate nelle batterie agli ioni di litio, nella catalisi, nei componenti elettronici, nei prodotti farmaceutici e in altre applicazioni.
La composizione e la microstruttura delle polveri delle materie prime determinano le proprietà del materiale. Il rapporto di distribuzione delle dimensioni delle particelle, la forma, la porosità e la superficie specifica delle polveri della materia prima possono corrispondere alle proprietà uniche del materiale.
Pertanto, la regolazione della microstruttura della materia prima in polvere è un prerequisito per ottenere materiali dalle prestazioni eccellenti. L'uso della microscopia elettronica a scansione consente l'osservazione della specifica morfologia superficiale della polvere e un'analisi precisa della dimensione delle particelle per ottimizzare il processo di preparazione della polvere.
Applicazione della microscopia elettronica a scansione nei materiali MOF
Nel campo della catalisi, la costruzione di materiali metallo-organici (MOF) per migliorare sostanzialmente le prestazioni catalitiche superficiali è diventata oggi uno dei temi di ricerca più caldi. I MOF presentano i vantaggi unici di un elevato carico di metalli, di una struttura porosa e di siti catalitici e hanno un grande potenziale come catalizzatori a grappolo. Utilizzando il microscopio elettronico a scansione del filamento di tungsteno CIQTEK, si può osservare che il materiale MOF mostra una forma cubica regolare e la presenza di particelle fini adsorbite sulla superficie (Figura 1). Il microscopio elettronico possiede una risoluzione fino a 3 nm e un'eccellente qualità di immagine, e mappe SEM uniformi ad alta luminosità possono essere ottenute in diversi campi visivi, che possono osservare chiaramente le pieghe, i pori e il carico di particelle sulla superficie dei materiali MOF .
Figura 1 Materiale MOF / 15 kV/ETD
Microscopia elettronica a scansione in materiali in polvere d'argento
Nella produzione di componenti elettronici, la pasta elettronica, come materiale di base per la produzione di componenti elettronici, ha determinate proprietà reologiche e tixotropiche ed è un materiale funzionale di base che integra materiali, tecnologie chimiche ed elettroniche e la preparazione della polvere d'argento è la chiave per produzione di pasta conduttiva d'argento. Utilizzando il microscopio elettronico a scansione a emissione di campo SEM5000 sviluppato indipendentemente da CIQTEK, basandosi sulla tecnologia di tunneling ad alta tensione, l'effetto della carica spaziale viene drasticamente ridotto e si possono osservare raggruppamenti irregolari di polvere d'argento tra loro (Figura 2). E il SEM5000 ha un'alta risoluzione, in modo che i dettagli possano ancora essere visti anche con un ingrandimento di 100.000x.
Figura 2 Polvere d'argento/5 kV/Inlente
Microscopia elettronica a scansione in litio ferro fosfato
Le batterie agli ioni di litio stanno rapidamente occupando il mercato mainstream grazie alla loro elevata energia specifica, al lungo ciclo di vita, all’assenza di effetto memoria e all’elevata sicurezza. L'uso della microscopia elettronica per osservare la morfologia degli elettrodi positivi e negativi delle batterie agli ioni di litio è importante per migliorare la capacità specifica delle batterie agli ioni di litio. Tra queste, le batterie al litio ferro fosfato sono preferite per i numerosi vantaggi quali eccellenti prestazioni del ciclo, prezzo relativamente basso e prestazioni di sicurezza garantite. Le particelle sferiche di fosfato di litio ferro costituite da agglomerati di particelle primarie osservate dal microscopio elettronico a scansione a emissione di campo CIQTEK SEM5000 (Figura 3) hanno particelle superficiali chiare e immagini con senso tridimensionale.
Figura 3 Litio ferro fosfato/15 kV/ETD
Microscopia elettronica a scansione in materiali di grafite
Il materiale dell'anodo è anche uno dei componenti principali delle batterie agli ioni di litio e la sua struttura e proprietà svolgono un ruolo chiave nelle prestazioni della batteria. Tra i molti materiali anodici a base di carbonio, i materiali anodici a base di grafite sono i materiali anodici più utilizzati nelle applicazioni commerciali. La struttura lamellare e la distribuzione granulometrica dell'anodo di grafite possono essere chiaramente caratterizzate utilizzando il microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno SEM3200 di CIQTEK, che ha ancora un'eccellente qualità di imaging a bassa tensione (Figura 4).
Figura 4 Elettrodo negativo in grafite/5 kV/ETD
Applicazione della microscopia elettronica a scansione nella dispersione di montmorillonite
L'uso della microscopia elettronica a scansione è indispensabile anche per osservare le particelle di polvere dei prodotti farmaceutici. Tra questi, la dispersione di montmorillonite ha un effetto immobilizzante e inibitore estremamente forte sui virus e sui germi nel tratto digestivo e sulle tossine e sui gas da essi prodotti, che possono renderli non patogeni. È stato osservato che la superficie della montmorillonite ha una struttura lamellare con sottili masse cristalline lamellari attaccate alla superficie utilizzando il microscopio elettronico a scansione a emissione di campo CIQTEK SEM5000 (Figura 5).
Figura 5 Polvere sciolta di montmorillonite/3 kV/ETD
Applicazione della microscopia elettronica a scansione nello stearato di magnesio
Lo stearato di magnesio farmaceutico è un composto organico, ovvero una polvere bianca fine non levigante con una sensazione scivolosa a contatto con la pelle, utilizzata principalmente come lubrificante per compresse, con i vantaggi di un forte effetto lubrificante, leggerezza e buona adesione. La polvere di stearato di magnesio era principalmente sotto forma di scaglie (Figura 6) e le scaglie erano correlate tra loro, come osservato dal microscopio elettronico a scansione a emissione di campo CIQTEK SEM5000. Sebbene lo stearato di magnesio sia un materiale organico non conduttivo, offre comunque immagini ad alta risoluzione in modalità a bassa tensione quando si utilizza SEM5000. La consistenza lubrificante dello stearato di magnesio può anche essere correlata alla struttura delle scaglie, come mostrato dalla morfologia superficiale.
Figura 6 Stearato di magnesio / 1 kV/ETD
CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e non immersione lente dell'obiettivo, raggiunge immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.
Saperne di piùStabile, versatile, flessibile ed efficiente IL CIQTEK SEM4000X è stabile, versatile, flessibile ed efficiente microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) Raggiunge una risoluzione di 1,9 nm a 1,0 kV e affronta facilmente le sfide dell'imaging ad alta risoluzione per vari tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di decelerazione ultra-fascio per migliorare ulteriormente la risoluzione a bassa tensione. Il microscopio utilizza la tecnologia multi-detector, con un rivelatore di elettroni (UD) in colonna in grado di rilevare segnali SE e BSE garantendo al contempo prestazioni ad alta risoluzione. Il rivelatore di elettroni (LD) montato nella camera incorpora scintillatori a cristallo e tubi fotomoltiplicatori, offrendo maggiore sensibilità ed efficienza, con conseguente produzione di immagini stereoscopiche di qualità eccellente. L'interfaccia utente grafica è intuitiva e dotata di funzioni di automazione come luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico e allineamento automatico, consentendo l'acquisizione rapida di immagini ad altissima risoluzione.
Saperne di piùAnalitico Schottky Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro È un modello FE-SEM analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky ad alta luminosità e lunga durata. Il suo design a lente elettromagnetica a tre stadi offre vantaggi significativi in applicazioni analitiche come EDS/EDX, EBSD, WDS e altre ancora. Il modello è dotato di serie di una modalità a basso vuoto e di un rivelatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni, nonché di un rivelatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che agevola l'osservazione di campioni scarsamente conduttivi o non conduttivi.
Saperne di piùMicroscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.
Saperne di piùAlta risoluzione a bassa eccitazione IL CIQTEK SEM5000Pro è un Schottky ad alta risoluzione microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) Specializzato in alta risoluzione anche a bassa tensione di eccitazione. L'impiego di un'avanzata tecnologia di ottica elettronica "Super-Tunnel" consente un percorso del fascio senza incroci e un design di lenti composte elettrostatico-elettromagnetiche. Questi progressi riducono l'effetto di carica spaziale, minimizzano le aberrazioni delle lenti, migliorano la risoluzione delle immagini a bassa tensione e raggiungono una risoluzione di 1,2 nm a 1 kV, che consente l'osservazione diretta di campioni non conduttivi o semiconduttivi, riducendo efficacemente i danni causati dall'irradiazione del campione.
Saperne di piùFilamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni per SEM Microscopio IL Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti possibilità di espansione.
Saperne di piùAd alta velocità Emissione di campo completamente automatizzata Microscopio elettronico a scansione Postazione di lavoro CIQTEK HEM6000 tecnologie delle strutture quali il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio elettronico ad alta velocità, la decelerazione dello stadio di campionamento ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere un'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al contempo una risoluzione su scala nanometrica. Il processo di funzionamento automatizzato è progettato per applicazioni come un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su ampie aree più efficiente e intelligente. La sua velocità di imaging è oltre cinque volte superiore a quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
Saperne di piùRisoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Saperne di piùMicroscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo (TEM) da 120 kV 1. Spazi di lavoro divisi: Gli utenti utilizzano TEM in una stanza divisa con comodità riducendo le interferenze ambientali al TEM. 2. Elevata efficienza operativa: Il software designato integra processi altamente automatizzati, consentendo un'interazione TEM efficiente con il monitoraggio in tempo reale. 3. Esperienza operativa migliorata: Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo con un sistema altamente automatizzato. 4. Elevata espandibilità: Sono presenti interfacce sufficienti riservate agli utenti per l'aggiornamento a una configurazione superiore, che soddisfa diversi requisiti applicativi.
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