CIQTEK Global Tour: Showcasing Advanced SEM Solutions at SCANDEM 2026, Denmark
CIQTEK Global Tour: Showcasing Advanced SEM Solutions at SCANDEM 2026, Denmark
March 26, 2026
[Odense, Denmark] CIQTEK is proud to announce its participation in the 77th Annual Meeting of the Nordic Microscopy Society (SCANDEM 2026), held in Odense, Denmark, from June 9 to 12.
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As a hub for precision instrumentation, Odense provides the perfect stage for CIQTEK to achieve "Academic Resonance" with top-tier Nordic institutions. By deepening our roots in the scientific ecosystems of Denmark, Sweden, and Norway, we aim to address the most demanding characterization needs and empower regional research and industrial growth through our precision measurement tools.
Expert Talk: High-Speed SEM Innovation
A highlight of CIQTEK’s participation will be a technical presentation by our Solution Manager:
Speaker: Dr. Miles Yao, Solution Manager at CIQTEK
Topic:Unlocking the Power of Unique High-Speed Scanning Electron Microscopy Solution from CIQTEK
Focus: Discover how CIQTEK’s unique high-speed SEM solutions enable large-scale, high-resolution imaging to accelerate research productivity.
Global Vision: Seamless Professional Support
CIQTEK is rapidly expanding its global service network. At SCANDEM 2026, our European team will provide direct expertise to the Nordic research community. We are committed to delivering responsive and professional support across borders—from installation to specialized application development—ensuring scientific excellence for our partners in Northern Europe.
CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e non immersione lente dell'obiettivo, raggiunge immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.
SEM a filamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni Microscopio IL Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con un'eccellente espandibilità.