CIQTEK at the 2026 MMMS Annual Spring Meeting in Illinois, USA
CIQTEK at the 2026 MMMS Annual Spring Meeting in Illinois, USA
February 11, 2026
March 27, 2026 – Evanston, Illinois, USA
CIQTEK is excited to join the Annual Spring Meeting of the Midwest Microscopy and Microanalysis Society (MMMS) on March 27, 2026, hosted at Northwestern University in Evanston, Illinois. This gathering is a must-attend event for researchers, microscopists, and industry professionals across the Midwest, providing a platform to share the latest in electron microscopy, microanalysis, and cutting-edge lab techniques.
Meet CIQTEK's Electron Microscopy USA Team
Our US local team will be on-site to meet attendees, discuss real-world lab challenges, and share insights into CIQTEK's full line of electron microscopy solutions. From routine SEMs to advanced field-emission systems, CIQTEK designs instruments that deliver reliable imaging, high performance, and practical usability for academic, industrial, and research labs.
The MMMS Spring Meeting is more than a conference; it’s a chance to see the latest technology in action, exchange ideas with peers, and explore tools that can make everyday lab work easier and more efficient. CIQTEK is proud to be part of this vibrant microscopy community, supporting innovation and practical solutions for researchers across the Midwest.
Come meet us in Evanston on March 27!
Explore our SEM lineup, chat with our team, and discover how CIQTEK instruments can support your microscopy and microanalysis needs.
Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Ga + Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico, e presenta la caratteristica "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano un Ga + Sorgente di ioni di metallo liquido con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.