CIQTEK al meeting annuale di primavera MMMS del 2026 in Illinois, USA
CIQTEK al meeting annuale di primavera MMMS del 2026 in Illinois, USA
February 11, 2026
27 marzo 2026 – Evanston, Illinois, USA
CIQTEK
è entusiasta di unirsi al
Riunione annuale primaverile della Midwest Microscopy and Microanalysis Society (MMMS)
SU
27 marzo 2026
, ospitato presso
Northwestern University di Evanston, Illinois
Questo incontro è un evento imperdibile per ricercatori, microscopisti e professionisti del settore del Midwest, poiché offre una piattaforma per condividere le ultime novità in materia di microscopia elettronica, microanalisi e tecniche di laboratorio all'avanguardia.
Incontra il team di microscopia elettronica di CIQTEK negli Stati Uniti
Il nostro team locale statunitense sarà in loco per incontrare i partecipanti, discutere le sfide di laboratorio del mondo reale e condividere approfondimenti su CIQTEK
linea completa di soluzioni per la microscopia elettronica
. Da
dai SEM di routine ai sistemi avanzati di emissione di campo
, CIQTEK progetta strumenti che forniscono
immagini affidabili, prestazioni elevate e usabilità pratica
per laboratori accademici, industriali e di ricerca.
Il MMMS Spring Meeting è più di una semplice conferenza: è un'occasione per vedere in azione le tecnologie più recenti, scambiare idee con i colleghi ed esplorare strumenti che possono rendere il lavoro quotidiano in laboratorio più semplice ed efficiente. CIQTEK è orgogliosa di far parte di questa vivace comunità di microscopia, supportando l'innovazione e le soluzioni pratiche per i ricercatori del Midwest.
Venite a trovarci a Evanston il 27 marzo!
Esplora la nostra gamma SEM, parla con il nostro team e scopri come gli strumenti CIQTEK possono supportare le tue esigenze di microscopia e microanalisi.
Ga + Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico, e presenta la caratteristica "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano un Ga + Sorgente di ioni di metallo liquido con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.
Risoluzione ultra elevata Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno IL CIQTEK SEM3300 Microscopio elettronico a scansione (SEM) Incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", i rivelatori di elettroni a lente e l'obiettivo composto elettrostatico ed elettromagnetico. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, si supera il limite di risoluzione di lunga data di questo tipo di microscopio elettronico a scansione (SEM), consentendo al SEM a filamento di tungsteno di eseguire analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con i SEM a emissione di campo.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) IL CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con un design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30% e raggiunge una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodo ad alta tecnologia.