Applicazione del microscopio elettronico a scansione a emissione di campo nell'ispezione del diaframma agli ioni di litio
I. Batteria agli ioni di litio
La batteria agli ioni di litio è una batteria secondaria, che per funzionare si basa principalmente sugli ioni di litio che si muovono tra gli elettrodi positivo e negativo. Durante il processo di carica e scarica, gli ioni di litio vengono incorporati e de-incorporati avanti e indietro tra i due elettrodi attraverso il diaframma, e l'immagazzinamento e il rilascio dell'energia degli ioni di litio vengono ottenuti attraverso la reazione redox del materiale dell'elettrodo.
La batteria agli ioni di litio è costituita principalmente da materiale dell'elettrodo positivo, diaframma, materiale dell'elettrodo negativo, elettrolita e altri materiali. Tra questi, il diaframma della batteria agli ioni di litio svolge un ruolo nel prevenire il contatto diretto tra gli elettrodi positivo e negativo e consente il libero passaggio degli ioni di litio nell'elettrolita, fornendo un canale microporoso per il trasporto degli ioni di litio.
La dimensione dei pori, il grado di porosità, l'uniformità di distribuzione e lo spessore del diaframma della batteria agli ioni di litio influiscono direttamente sulla velocità di diffusione e sulla sicurezza dell'elettrolita, il che ha un grande impatto sulle prestazioni della batteria. Se la dimensione dei pori del diaframma è troppo piccola, la permeabilità degli ioni di litio è limitata, influenzando le prestazioni di trasferimento degli ioni di litio nella batteria e aumentando la resistenza della batteria. Se l'apertura è troppo grande, la crescita dei dendriti di litio potrebbe perforare il diaframma, causando incidenti come cortocircuiti o esplosioni.
Ⅱ. L'applicazione della microscopia elettronica a scansione a emissione di campo nel rilevamento del diaframma al litio
L'uso della microscopia elettronica a scansione può osservare la dimensione dei pori e l'uniformità di distribuzione del diaframma, ma anche la sezione trasversale del diaframma multistrato e rivestito per misurare lo spessore del diaframma. I materiali per diaframmi commerciali convenzionali sono per lo più pellicole microporose preparate da materiali poliolefinici, tra cui pellicole a strato singolo di polietilene (PE), polipropilene (PP) e pellicole composite a tre strati PP/PE/PP. I materiali polimerici poliolefinici sono isolanti e non conduttivi e sono molto sensibili ai fasci di elettroni, che possono portare a effetti di carica se osservati ad alta tensione e la struttura fine dei diaframmi polimerici può essere danneggiata dai fasci di elettroni. Il microscopio elettronico a scansione a emissione di campo SEM5000, sviluppato indipendentemente da GSI, ha la capacità di bassa tensione e alta risoluzione e può osservare direttamente la struttura fine della superficie del diaframma a bassa tensione senza danneggiare il diaframma.
Il processo di preparazione del diaframma è principalmente suddiviso in due tipi di metodi a secco e a umido. Il metodo a secco è il metodo di stiramento della fusione, compreso il processo di stiramento unidirezionale e il processo di stiramento bidirezionale, il processo è semplice, ha bassi costi di produzione ed è un metodo comune di produzione del diaframma della batteria agli ioni di litio. Il diaframma preparato con il metodo a secco ha una microporosa piatta e lunga (Figura 1), ma il diaframma preparato è più spesso, l'uniformità della microporosa è scarsa, la dimensione dei pori e la porosità sono difficili da controllare, la densità energetica della batteria assemblata è bassa, utilizzata principalmente nelle batterie agli ioni di litio di fascia bassa.
Figura 1 Diaframma elasticizzato a secco/0,5 KV/Inlente
Il processo umido, ovvero la separazione di fase termogenica, prevede la miscelazione e la fusione di polimeri con solventi altobollenti, ecc., e la produzione di membrane microporose attraverso il processo di separazione della fase di raffreddamento, stiramento, estrazione ed essiccazione, trattamento termico e modellare. Rispetto al processo a secco, il processo a umido è stabile e controllabile, con conseguente spessore del diaframma sottile, elevata resistenza meccanica, distribuzione uniforme delle dimensioni dei pori e compenetrazione (Figura 2). Sebbene il costo del diaframma realizzato mediante il processo a umido sia superiore a quello del processo a secco, la batteria assemblata ha un'elevata densità di energia e buone prestazioni di carica e scarica e viene utilizzata principalmente nelle batterie agli ioni di litio di fascia medio-alta. In combinazione con il sistema di analisi della dimensione dei pori sviluppato indipendentemente da GSI, la dimensione dei pori e la porosità del diaframma possono essere analizzate in modo rapido e automatico (Figura 3).
Figura 2 Diaframma ad allungamento a umido/1KV/Inlente
Figura 3 Analisi della dimensione dei pori del diaframma/1KV/Inlens
Sebbene i diaframmi a base di poliolefina siano ampiamente utilizzati nelle batterie agli ioni di litio, sono limitati dalle proprietà meccaniche, dalla resistenza al calore e dall'inerzia superficiale del materiale stesso e i semplici diaframmi in poliolefina non possono soddisfare i requisiti di elevata sicurezza e prestazioni elevate delle batterie al litio. batterie agli ioni. Per questo motivo è necessaria la modifica superficiale dei diaframmi in poliolefina per migliorarne le proprietà meccaniche, la resistenza al calore e l’affinità con gli elettroliti. Uno dei metodi più comunemente utilizzati è il rivestimento fisico della superficie del diaframma. I materiali ceramici inorganici (Figura 4) sono caratterizzati da una buona resistenza al calore, elevata stabilità chimica e gruppi funzionali polari sulla superficie per migliorare la bagnabilità del diaframma poliolefinico sull'elettrolita, quindi vengono spesso utilizzati come particelle rivestite per migliorare la resistenza al calore e proprietà elettrochimiche del diaframma. La Figura 5 mostra la morfologia superficiale della superficie ceramica del diaframma dopo il rivestimento con particelle ceramiche inorganiche.
Figura 4 Polvere ceramica di allumina/5KV/BSED
Figura 5 Diaframma rivestito in ceramica/1KV/obiettivo interno
III. Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo SEM5000
SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo ad alta risoluzione e ricco di funzionalità con design avanzato del barilotto, tecnologia di tunneling ad alta tensione e design dell'obiettivo magnetico senza perdite a bassa aberrazione, per ottenere immagini ad alta risoluzione a bassa tensione. Il suo software operativo è dotato di navigazione ottica per ottimizzare il processo di funzionamento e utilizzo. Gli utenti, esperti o meno, possono iniziare rapidamente e completare le attività di ripresa ad alta risoluzione.
CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e non immersione lente dell'obiettivo, raggiunge immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.
Saperne di piùStabile, versatile, flessibile ed efficiente Il CIQTEK SEM4000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) stabile, versatile, flessibile ed efficiente. Raggiunge una risoluzione di 1,9 nm a 1,0 kV e affronta facilmente le sfide dell'imaging ad alta risoluzione per vari tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di decelerazione a ultra-raggio per migliorare ulteriormente la risoluzione a bassa tensione. Il microscopio utilizza la tecnologia multi-rivelatore, con un rilevatore di elettroni (UD) in colonna in grado di rilevare segnali SE e BSE fornendo allo stesso tempo prestazioni ad alta risoluzione. Il rilevatore di elettroni montato sulla camera (LD) incorpora cristalli scintillatori e tubi fotomoltiplicatori, offrendo sensibilità ed efficienza più elevate, ottenendo immagini stereoscopiche di qualità eccellente. L'interfaccia utente grafica è intuitiva e presenta funzioni di automazione come luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico e allineamento automatico, consentendo l'acquisizione rapida di immagini ad altissima risoluzione.
Saperne di piùMicroscopio SEM universale e ad alte prestazioni con filamento di tungsteno Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno (SEM) per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti capacità di consumo.
Saperne di piùMicroscopio elettronico a scansione a emissione di campo analitico (FESEM) a fascio largo I CIQTEK SEM4000Pro è un modello analitico di FE-SEM, dotato di un cannone elettronico ad emissione di campo Schottky ad alta luminosità e lunga durata. Il design della lente elettromagnetica a 3 stadi offre vantaggi significativi in applicazioni analitiche come EDS/EDX, EBSD, WDS e altro ancora. Viene fornito di serie con una modalità a basso vuoto e un rilevatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni, nonché un rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che favorisce l'osservazione di campioni scarsamente conduttivi o non conduttivi.
Saperne di piùMicroscopia elettronica a scansione di emissione di campo ad altissima risoluzione (Fesem)IL CIQTEK SEM5000X è un Fesem a risoluzione altissima con una progettazione ottimizzata della colonna Optics Electron, riducendo le aberrazioni complessive del 30%, raggiungendo una risoluzione ultra-alta di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV La sua alta risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata dei materiali nano-strutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC a semiconduttore a semiconduttore ad alta tecnologia.
Saperne di piùAlta risoluzione a bassa eccitazione Il CIQTEK SEM5000Pro è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Schottky (FE-SEM) specializzato in alta risoluzione anche con bassa tensione di eccitazione. L'impiego di un'avanzata tecnologia ottica elettronica "Super-Tunnel" facilita un percorso del raggio privo di crossover insieme a un design di lenti composte elettrostatiche-elettromagnetiche. Questi progressi riducono l'effetto di carica spaziale, minimizzano le aberrazioni della lente, migliorano la risoluzione dell'immagine a bassa tensione e raggiungono una risoluzione di 1,2 nm a 1 kV, che consente l'osservazione diretta di campioni non conduttivi o semiconduttivi, riducendo efficacemente il campione danno da irradiazione.
Saperne di piùMicroscopio elettronico a scansione ad alta velocità per l'imaging su scala incrociata di Campioni di grandi volumi CIQTEK HEM6000 tecnologie per strutture come il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio di elettroni ad alta velocità, la decelerazione dello stadio campione ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere un'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al tempo stesso una risoluzione su scala nanometrica. Il processo operativo automatizzato è progettato per applicazioni quali un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su grandi aree più efficiente e intelligente. La velocità di imaging può raggiungere oltre 5 volte più velocemente di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
Saperne di piùMicroscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno di nuova generazione Il CIQTEK SEM3300 microscopio elettronico a scansione (SEM) incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", rilevatori di elettroni interni e obiettivi composti elettrostatici ed elettromagnetici. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, il limite di risoluzione di lunga data di tale SEM viene superato, consentendo al SEM del filamento di tungsteno di eseguire attività di analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con SEM a emissione di campo.
Saperne di piùMicroscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo (TEM) da 120 kV 1. Spazi di lavoro divisi: Gli utenti utilizzano TEM in una stanza divisa con comodità riducendo le interferenze ambientali al TEM. 2. Elevata efficienza operativa: Il software designato integra processi altamente automatizzati, consentendo un'interazione TEM efficiente con il monitoraggio in tempo reale. 3. Esperienza operativa migliorata: Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo con un sistema altamente automatizzato. 4. Elevata espandibilità: Sono presenti interfacce sufficienti riservate agli utenti per l'aggiornamento a una configurazione superiore, che soddisfa diversi requisiti applicativi.
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