scanning electron microscope machine

Filamento di tungsteno SEM | SEM3200

Microscopio SEM a filamento di tungsteno universale ad alte prestazioni

Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno (SEM) per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti capacità di consumo.

ⶠStruttura a doppio anodo sul cannone elettronico *Opzionale

sem3200 Intermittent Anode

Anodo intermittente

L'anodo intermittente è installato tra il gruppo catodico e l'anodo. Con una bassa tensione di eccitazione, l'efficienza di estrazione del fascio di elettroni può essere migliorata, la risoluzione può essere aumentata del 10% e il rapporto segnale/rumore può essere aumentato del 30%.

  • carbon material samples under low excitation voltages
  • carbon material samples under low excitation voltages

Per campioni di materiale in carbonio, a basse tensioni di eccitazione, la profondità di penetrazione del raggio è ridotta, consentendo l'acquisizione delle informazioni reali sulla morfologia superficiale con dettagli più ricchi del campione.

  • polymer fiber samples, high excitation voltages
  • polymer fiber samples, high excitation voltages

Per campioni di fibre polimeriche, tensioni di eccitazione elevate causano danni al fascio al campione, mentre il raggio a bassa tensione consente la conservazione dei dettagli superficiali senza danni.


ⶠModalità SEM a basso vuoto

Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 supporta le modalità a basso vuoto a 2 stadi: è possibile raggiungere una pressione della camera di 5~180 Pa senza apertura di limitazione della pressione e 180~1000 Pa è ottenibile con PLA. La camera a vuoto della lente dell'obiettivo appositamente progettata riduce al minimo il percorso libero medio degli elettroni in basso vuoto e mantiene la risoluzione a 3 nm a 30 kV.

Il fascio di elettroni incidente ionizza le molecole d'aria sulla superficie, producendo elettroni e ioni, in cui gli ioni neutralizzano le particelle cariche generate sulla superficie del campione, ottenendo l'effetto di mitigazione della carica.

  • SEM3200 Analysis Image
  • SEM3200 Analysis Image

L'emissione di elettroni secondari dalla superficie del campione ionizza le molecole d'aria, generando contemporaneamente elettroni, ioni e segnali fotografici. Gli elettroni generati ionizzano quindi altre molecole d'aria e un gran numero di segnali fotografici vengono prodotti e quindi catturati da un rilevatore di basso vuoto (LVD).

  • SEM Microscope sem3200
  • SEM Microscope sem3200 Analysis image

In modalità alto vuoto, LVD rileva direttamente il segnale di catodoluminescenza emesso dal campione, che può essere catturato per l'imaging di catodoluminescenza, con imaging simultaneo dal canale BSED.


ⶠNavigazione ottica

L'utilizzo di una telecamera a camera montata verticalmente per acquisire immagini ottiche per la navigazione sul palco del campione consente un posizionamento del campione più intuitivo e accurato.

  • SEM Optical Navigation

â¶Correzione intelligente dell'astigmatismo dell'immagine assistita

In questa modalità, il valore dell'astigmatismo di X e Y varia con i pixel. La nitidezza dell'immagine è massimizzata al valore di astigmatismo ottimale, consentendo una rapida regolazione dello stigmatizzatore.

  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction
  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction


ⶠFunzioni automatiche

Funzioni di luminosità e contrasto automatiche migliorate, messa a fuoco automatica e correzione automatica dell'astigmatismo. Immagine con un solo clic!

Messa a fuoco automatica

  • during autofocus
  • after autofocus

Correzione automatica dell'astigmatismo

  • during autofocus
  • after autofocus

Luminosità e contrasto automatici

  • during autofocus
  • after autofocus

ⶠPiù sicuro da usare


ⶠSostituzione semplice del filamento

Modulo filamento sostitutivo preallineato pronto per l'uso.

ⶠSoftware di analisi delle particelle e dei pori (particelle) *Opzionale

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Il software del microscopio CIQTEK SEM utilizza vari algoritmi di rilevamento e segmentazione del target, adatti a diversi tipi di campioni di particelle e pori. consente l'analisi quantitativa delle statistiche di particelle e pori e può essere applicato in campi quali la scienza dei materiali, la geologia e la scienza ambientale.


ⶠSoftware di post-elaborazione delle immagini

SEM Microscope Image Post-processing Software

Esegui la post-elaborazione delle immagini online o offline su immagini catturate da microscopi elettronici e integra funzioni di elaborazione delle immagini EM comunemente utilizzate, pratici strumenti di misurazione e annotazione.


ⶠMisurazione automatica *Opzionale

SEM Microscope software Auto Measure

Riconoscimento automatico dei bordi della larghezza della linea, con conseguenti misurazioni più accurate e maggiore coerenza. Supporta più modalità di rilevamento dei bordi, come Linea, Spazio, Passo, ecc. Compatibile con più formati di immagine e dotato di varie funzioni di post-elaborazione delle immagini di uso comune. Il software è facile da usare, efficiente e accurato.


ⶠKit di sviluppo software (SDK) *Opzionale

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fornire una serie di interfacce per il controllo del microscopio SEM, inclusa l'acquisizione di immagini, le impostazioni delle condizioni operative, l'accensione/spegnimento, il controllo del palco, ecc. Le definizioni concise dell'interfaccia consentono il rapido sviluppo di script e software specifici per il funzionamento del microscopio elettronico, consentendo tracciamento automatizzato delle regioni di interesse, acquisizione dati di automazione industriale, correzione della deriva dell'immagine e altre funzioni. Può essere utilizzato per lo sviluppo di software in aree specializzate come l'analisi delle diatomee, l'ispezione delle impurità dell'acciaio, l'analisi della pulizia, il controllo delle materie prime, ecc.


ⶠMappa automatica *Opzionale

  • during autofocus

Microscopio SEM CIQTEK SEM3200
Ottica elettronica Risoluzione 3 nm a 30 kV, SE
7 nm a 3 kV, SE
4 nm a 30 kV, BSE
3 nm a 30 kV, SE, 30 Pa
Tensione di accelerazione 0,2 kV ~ 30 kV
Ingrandimento (Polaroid) 1 x ~ 300.000 x
Camera dei campioni Basso vuoto 5 ~ 1000 Pa (opzionale)
Fotocamera Navigazione ottica
Monitoraggio della camera
Tipo di fase Motorizzato compatibile con il vuoto a 5 assi
Intervallo XY 125mm
Intervallo Z 50mm
Intervallo T - 10° ~ 90°
Gamma R 360°
Rivelatori SEM Norma Rivelatore Everhart-Thornley (ETD)
Facoltativo Rivelatore retrattile di elettroni retrodiffusi (BSED)
Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX)
Modello di diffrazione retrodiffusa di elettroni (EBSD)
Facoltativo Blocco di carico per lo scambio dei campioni
Pannello di controllo con trackball e manopola
Interfaccia utente Sistema operativo Finestre
Navigazione Navigazione ottica, Navigazione rapida gestuale, Trackball (opzionale)
Funzioni automatiche Luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatore automatico
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