Novità interessanti dalla Conferenza sulla Nano Innovazione a Roma! Stand 27, Sala 13
Novità interessanti dalla Conferenza sulla Nano Innovazione a Roma! Stand 27, Sala 13
September 11, 2024
Dal 9 al 13 settembre 2024, nella bellissima città di Roma, in Italia, si svolgerà la Conferenza sulla NanoInnovazione. Questo evento molto atteso riunisce esperti e appassionati del campo della nanotecnologia per discutere gli ultimi progressi e scoperte.
Siamo entusiasti di annunciare che Media System, il distributore autorizzato di CIQTEK, partecipa alla conferenza con una dimostrazione dal vivo del Microscopio elettronico a scansione SEM3200 , che fornisce informazioni preziose sul nanomondo.
I visitatori della conferenza possono immergersi nel mondo del SEM esplorando lo stand 27, dove Media System ha una mostra impressionante. Hanno prodotti a tema SEM, tra cui magliette e badge SEM, per aggiungere un tocco di stile ed entusiasmo all'evento.
Per coloro che desiderano sperimentare in prima persona la potenza del SEM, dirigetevi alla Sala 13 per un'emozionante demo dal vivo del SEM3200. Questa è un'opportunità unica per testimoniare le capacità del microscopio e osservare gli intricati dettagli delle nanostrutture con sorprendente chiarezza.
Che tu sia un ricercatore esperto o un appassionato curioso, non perderti questa straordinaria vetrina delle nanotecnologie alla NanoInnovation Conference di Roma. È anche una fantastica opportunità per espandere le tue conoscenze e fare rete con esperti del settore.
Unisciti a noi a NanoInnovation e tuffati nell'affascinante mondo del SEM e delle nanotecnologie. Ci vediamo lì!
Microscopio SEM universale e ad alte prestazioni con filamento di tungsteno Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno (SEM) per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti capacità di consumo.
Microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno di nuova generazione Il CIQTEK SEM3300 microscopio elettronico a scansione (SEM) incorpora tecnologie come l'ottica elettronica "Super-Tunnel", rilevatori di elettroni interni e obiettivi composti elettrostatici ed elettromagnetici. Applicando queste tecnologie al microscopio a filamento di tungsteno, il limite di risoluzione di lunga data di tale SEM viene superato, consentendo al SEM del filamento di tungsteno di eseguire attività di analisi a bassa tensione precedentemente ottenibili solo con SEM a emissione di campo.
Microscopio elettronico a trasmissione a emissione di campo (TEM) da 120 kV 1. Spazi di lavoro divisi: Gli utenti utilizzano TEM in una stanza divisa con comodità riducendo le interferenze ambientali al TEM. 2. Elevata efficienza operativa: Il software designato integra processi altamente automatizzati, consentendo un'interazione TEM efficiente con il monitoraggio in tempo reale. 3. Esperienza operativa migliorata: Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo con un sistema altamente automatizzato. 4. Elevata espandibilità: Sono presenti interfacce sufficienti riservate agli utenti per l'aggiornamento a una configurazione superiore, che soddisfa diversi requisiti applicativi.