CIQTEK has taken another important step forward in Europe with the installation of the SEM4000Pro Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) at the SYNERGIE4 demonstration showroom in France. The new setup allows researchers and industrial users in Europe to experience high-resolution imaging, analytical performance, and ease of operation offered by the CIQTEK SEM4000Pro. The system provides outstanding image quality for fine microstructural observation and supports a wide range of applications in materials science, microelectronics, and R&D.     SYNERGIE4 is CIQTEK's French distributor and service provider for advanced microscopy and microanalysis solutions. With extensive experience in electron microscopy and analytical instruments, SYNERGIE4 supports universities, research institutes, and industrial labs across France with tailored solutions, technical expertise, and training. Now, SYNERGIE4’s demo center features a fully operational CIQTEK SEM4000Pro, offering hands-on demonstrations for visitors to explore its imaging capabilities, intuitive software interface, and versatility across various research fields.   “Having the CIQTEK SEM4000Pro available in our showroom allows us to showcase its imaging performance directly to our customers,” said a representative from SYNERGIE4. “It’s a great addition to our demonstration facilities and an important step in expanding our microscopy portfolio.”   With the SEM4000Pro now available in France, European users can directly evaluate its performance, supported by SYNERGIE4’s local expertise and technical demonstration services. This collaboration marks a significant milestone in CIQTEK’s ongoing effort to enhance accessibility to advanced electron microscopy technologies across Europe.

Con l'avanzare della produzione di semiconduttori verso nodi di processo più raffinati, l'analisi dei difetti a livello di wafer, l'individuazione dei guasti e la fabbricazione micro-nano sono diventati fondamentali per migliorare la resa. CIQTEK introduce il Soluzione di elaborazione full-size a doppio raggio da 8 pollici , combinando imaging ad alta risoluzione ed elaborazione precisa del fascio di ioni per ottenere un "taglio di osservazione-analisi" sull'intero wafer, fornendo un solido supporto tecnico per processi avanzati di semiconduttori. Questa soluzione è dotata di un portacampioni ad alta precisione a corsa lunga da 150 mm, che consente l'osservazione e l'elaborazione non distruttive dell'intero wafer da 8 pollici. Grazie a un sistema di navigazione ottica esterno e ad algoritmi anticollisione intelligenti, garantisce un posizionamento rapido e preciso del wafer e un funzionamento sicuro. Il sistema è dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky, con una risoluzione di 0,9 nm a 15 kV e una risoluzione del fascio ionico di 3 nm a 30 kV, in grado di rilevare difetti, sezionare sezioni trasversali e fabbricare microstrutture su scala nanometrica. Vantaggi principali: Fase di corsa da 150 mm: Combina lunga escursione con elevata precisione per un ampio raggio di osservazione. Ottima compatibilità con apparecchi di diverse dimensioni. La struttura robusta garantisce la stabilità del wafer e un caricamento rapido e affidabile. Scambio rapido da 8 pollici: Design intelligente con base scorrevole per garantire stabilità e durata. Compatibilità full-size: supporta wafer da 2/4/6/8 pollici. Sostituzione rapida dei campioni: pompaggio del vuoto e caricamento del campione in un minuto. Software e anticollisione: Navigazione intelligente completamente automatica con movimento e posizionamento precisi. Movimento coordinato multiasse per l'osservazione dell'intero wafer. Anti-collisione intelligente: simulazione della traiettoria e calcoli spaziali algoritmici per evitare rischi. Monitoraggio multiplo in tempo reale: monitoraggio multi-angolo in tempo reale della posizione del wafer. Navigazione ottica esterna: La struttura ultra stabile elimina le vibrazioni dell'immagine. Immagini ad alta definizione con un campo visivo preciso per la visualizzazione full-wafer. L'illuminazione professionale antiriflesso riduce i riflessi sulla superficie del wafer. Campo di osservazione del wafer Soluzione di microscopio elettronico a doppio fascio CIQTEK combina hardware eccezionale con sistemi software intelligenti, consentendo un rilevamento efficiente dei difetti e l'ottimizzazione dei processi tramite la regolazione della luminosità e del contrasto con un clic, la messa a fuoco automatica e l'output di immagini multiformato, consentendo agli utenti di completare l'intera catena di attività, dalla scoperta dei difetti all'ottimizzazione dei processi.

Nelle scienze della vita, ottenere analisi strutturali e dinamiche 3D ad alta precisione e su larga scala di campioni biologici come cellule e tessuti è diventato fondamentale per superare i colli di bottiglia della ricerca. CIQTEK ha introdotto un percorso multitecnologico Microscopia elettronica volumetrica (VEM) soluzione, integrazione SS-SEM, SBF-SEM e FIB-SEM Ciò fornisce una piattaforma completa, ad alte prestazioni e intelligente per la ricostruzione biologica 3D, aiutando i ricercatori a scoprire i misteri della vita a livello microscopico. Tre percorsi tecnici avanzati 01. Immagini ad alta velocità SS-SEM Combinando il sezionamento seriale esterno con CIQTEK SEM bio-HEM6000 ad alta velocità Questa soluzione consente l'imaging rapido e l'acquisizione automatizzata di campioni di grandi volumi. L'efficienza di acquisizione dati è oltre 5 volte superiore rispetto al SEM convenzionale, supportando un funzionamento ad alta produttività 24 ore su 24, 7 giorni su 7, senza supervisione. 02. Sezionamento in situ SBF-SEM Basato sul CIQTEK SEM5000X ad altissima risoluzione Grazie al microtomo integrato, questo approccio consente cicli di sezionamento e imaging in situ. Offre semplicità d'uso, elevata automazione ed evita efficacemente la contaminazione superficiale. 03. FIB-SEM Analisi ad alta precisione Sfruttando sistemi a doppio fascio focalizzato a fascio ionico-elettronico, questa tecnica offre una risoluzione sull'asse Z su scala nanometrica per analizzare strutture fini come organelli e membrane. Consente la ricostruzione 3D in situ senza slicing fisico. Integrazione intelligente e ampie applicazioni La soluzione CIQTEK VEM integra profondamente algoritmi di intelligenza artificiale E una piattaforma software multilingue , supportando un flusso di lavoro completo, dall'acquisizione dei dati, all'allineamento delle immagini e alla segmentazione, fino alla visualizzazione 3D. Compatibile con i principali software di ricostruzione, riduce significativamente la curva di apprendimento. I casi applicativi spaziano dalle neuroscienze alla biologia cellulare e alla microbiologia patogena, offrendo uno strumento potente per far progredire la ricerca nelle scienze della vita.