Microscopia elettronica a scansione (SEM) è una tecnologia di imaging trasformativo che ha rimodellato la ricerca e l'analisi industriale Sfruttando un raggio di elettroni, SEMS forniscono immagini ad altissima risoluzione che rivelano gli intricati dettagli delle superfici sulla nanoscala, insinse che i microscopi ottici convenzionali semplicemente non possono fornire Invece di perdersi nei detta...
Microscopia elettronica a scansione (SEM) è diventato uno strumento indispensabile in vari settori scientifici e industriali, consentendo ai ricercatori di esplorare il mondo micro e nanoscala con chiarezza senza precedenti. SEM ad alta risoluzione , in particolare, ha rivoluzionato la scienza dei materiali, le scienze della vita e la ricerca sui semiconduttori, fornendo capacità di ...
Microscopia Elettronica a Scansione a Emissione di Campo (FE-SEM) trasforma l'imaging scientifico con una precisione senza pari, guidando i progressi nella scienza dei materiali, nella ricerca biomedica e nella nanotecnologia. Con la crescente richiesta da parte delle industrie di maggiore risoluzione e accuratezza, la FE-SEM si sta affermando come strumento di riferimento per la ricerca all'avang...
Scegliere unDualBeam FIB-SEMè una decisione fondamentale per qualsiasi laboratorio di microscopia, soprattutto inArabia Saudita1. In che modo la corrente del fascio di ioni e le dimensioni dello spot influiscono sulla tua applicazione?I fasci ad alta corrente fresano più velocemente, ma sacrificano la risoluzione; i fasci a bassa corrente offrono una precisione nanometrica a scapito della produtti...