CIQTEK parteciperà all'incontro annuale GLMS 2026 in Michigan, USA
CIQTEK parteciperà all'incontro annuale GLMS 2026 in Michigan, USA
September 29, 2026
CIQTEK parteciperà al Meeting Annuale 2026 della Great Lakes Microscopy Society (GLMS) il 9 ottobre 2026, presso la Michigan Technological University a Houghton, Michigan.
L'incontro riunisce ricercatori, studenti e professionisti della microscopia che lavorano nei campi della microscopia elettronica, microanalisi, scienza dei materiali e ricerca biologica.
Incontra il team EM di CIQTEK U.S.
Al GLMS 2026, CIQTEK presenterà le sue soluzioni di microscopia elettronica per un'ampia gamma di applicazioni di ricerca.
Il nostro Team di Microscopia Elettronica U.S. sarà presente in loco per entrare in contatto con i partecipanti e discutere di applicazioni reali di microscopia e necessità di flusso di lavoro.
Esperti Responsabili delle Soluzioni EM saranno inoltre disponibili per rispondere a domande tecniche e aiutare i ricercatori a esplorare soluzioni di microscopia adatte ai loro laboratori.
Data: 9 ottobre 2026 Luogo: Michigan Technological University, Houghton, Michigan, USA
SEM a filamento di tungsteno universale e ad alte prestazioni Microscopio IL Microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con un'eccellente espandibilità.
Ad alta velocità Emissione di campo completamente automatizzata Microscopio elettronico a scansione Postazione di lavoro CIQTEK HEM6000 tecnologie delle strutture quali il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio elettronico ad alta velocità, la decelerazione dello stadio di campionamento ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere un'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al contempo una risoluzione su scala nanometrica. Il processo di funzionamento automatizzato è progettato per applicazioni come un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su ampie aree più efficiente e intelligente. La sua velocità di imaging è oltre cinque volte superiore a quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
Ga + Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con fascio ionico focalizzato IL Microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Dispone di una colonna a fascio ionico focalizzato per nanoanalisi e preparazione di campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico, e presenta la caratteristica "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano un Ga + Sorgente di ioni di metallo liquido con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. Il DB550 è una workstation all-in-one per l'analisi e la fabbricazione di nanoparticelle, dotata di un nanomanipolatore integrato, un sistema di iniezione di gas e un software con interfaccia grafica intuitiva.