Facile ma non semplice: microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno CIQTEK SEM2000
Facile ma non semplice: microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno CIQTEK SEM2000
January 10, 2023
Il settore manifatturiero è il pilastro dell’economia reale e la sua importanza viene sottolineata a livello globale. Il microscopio elettronico a scansione (SEM), in quanto potente strumento analitico, avrà un ruolo importante nel migliorare l'innovazione e la qualità dei prodotti manifatturieri.
Tuttavia, nella pratica, si teme spesso che il SEM si danneggi facilmente, sia complicato da utilizzare e richieda molto tempo per essere avviato, con conseguenti elevati costi nascosti.
Il team di ricerca e sviluppo CIQTEK SEM per affrontare questo punto dolente, con l'obiettivo di " tutti possono usarlo " per creare un filamento di tungsteno SEM2000 " facile ma non semplice ".
Microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno CIQTEK SEM2000
Facile ma non semplice
L'interfaccia operativa di SEM2000 è semplice , facile da avviare, durevole, con un basso tasso di guasto e anche i principianti possono usarla facilmente.
L'alto grado di automazione , l'imaging dei tasti, la messa a fuoco automatica, la dispersione automatica e la funzione di contrasto automatico di SEM2000 semplificano notevolmente le fasi di debug dei parametri.
SEM2000 ha un processo anticollisione completo , che può evitare completamente che il campione tocchi la scarpa polare dell'obiettivo, il rilevatore elettronico secondario e altre parti.
Di seguito sono riportate le foto scattate da un principiante che utilizza SEM2000 dopo un breve periodo di formazione.
Immagine chiara, buon contrasto e ampia profondità di campo.
Se si desidera ridurre i costi di utilizzo e aumentare l'efficienza operativa. Se non hai mai usato un microscopio elettronico prima e vuoi provare il SEM per la prima volta. Se vuoi che lo strumento sia più semplice. Allora SEM2000 sarà la scelta migliore!
CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e non immersione lente dell'obiettivo, raggiunge immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.
CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e non immersione lente dell'obiettivo, raggiunge immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.
CIQTEK SEM4000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo termico analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta luminosità. Il design della lente magnetica a tre stadi, con corrente del fascio ampia e regolabile in continuo, presenta evidenti vantaggi in EDS, EBSD, WDS e altre applicazioni. Supporta la modalità a basso vuoto, può osservare direttamente la conduttività di campioni deboli o non conduttivi. La modalità di navigazione ottica standard e un'interfaccia operativa intuitiva semplificano il lavoro di analisi.
CIQTEK SEM4000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo termico analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta luminosità. Il design della lente magnetica a tre stadi, con corrente del fascio ampia e regolabile in continuo, presenta evidenti vantaggi in EDS, EBSD, WDS e altre applicazioni. Supporta la modalità a basso vuoto, può osservare direttamente la conduttività di campioni deboli o non conduttivi. La modalità di navigazione ottica standard e un'interfaccia operativa intuitiva semplificano il lavoro di analisi.
Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo analitico (FESEM) dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta luminosità Con il design della colonna ottica elettronica a condensatore a tre stadi per correnti del fascio fino a 200 nA, SEM4000Pro offre vantaggi in EDS, EBSD, WDS e altre applicazioni analitiche. Il sistema supporta la modalità a basso vuoto, nonché un rilevatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni e un rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che possono aiutare a osservare direttamente campioni scarsamente conduttivi o addirittura non conduttivi. La modalità di navigazione ottica standard e un'interfaccia utente intuitiva semplificano il lavoro di analisi.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM): 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV Il FESEM ad altissima risoluzione CIQTEK SEM5000X utilizza il processo di progettazione della colonna aggiornato, la tecnologia "SuperTunnel" e il design dell'obiettivo ad alta risoluzione per migliorare la risoluzione dell'immagine a bassa tensione. Le porte della camera dei campioni FESEM SEM5000X si estendono a 16 e il blocco del carico per lo scambio dei campioni supporta wafer fino a 8 pollici (diametro massimo 208 mm), espandendo in modo significativo le applicazioni. Le modalità di scansione avanzate e le funzioni automatizzate migliorate offrono prestazioni più potenti e un'esperienza ancora più ottimizzata.
CIQTEK SEM5000Pro è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FESEM) con capacità di imaging e analisi ad alta risoluzione, supportato da numerose funzioni, beneficia del design avanzato della colonna ottica elettronica, con tecnologia tunnel del fascio di elettroni ad alta pressione (SuperTunnel), bassa aberrazione e Obiettivo MFL, consente di ottenere immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, è anche possibile analizzare il campione magnetico. Con la navigazione ottica, le funzionalità automatizzate, l'interfaccia utente di interazione uomo-computer attentamente progettata e il funzionamento e il processo di utilizzo ottimizzati, non importa se sei un esperto o meno, puoi iniziare rapidamente e completare il lavoro di imaging e analisi ad alta risoluzione.
Microscopio SEM con filamento di tungsteno ad alte prestazioni con eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità alto che basso vuoto Il CIQTEK SEM3200 Microscopio SEM ha un'ampia profondità di campo con un'interfaccia intuitiva per consentire agli utenti di caratterizzare i campioni ed esplorare il mondo dell'imaging e dell'analisi microscopica.
Microscopio elettronico a scansione ad alta velocità per l'imaging su scala incrociata di campioni di grandi volumi Ciqtek HEM6000 dispone di tecnologie quali il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio elettronico ad alta velocità, la decelerazione dello stadio campione ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere risultati elevati -velocità di acquisizione delle immagini garantendo allo stesso tempo una risoluzione su scala nanometrica. Il processo operativo automatizzato è progettato per applicazioni quali un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su grandi aree più efficiente e intelligente. La velocità di imaging può raggiungere più di 5 volte più velocemente di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (fesem).