CIQTEK presenterà la microscopia elettronica volumetrica ad alta velocità al vEM Technology Forum 2026
CIQTEK presenterà la microscopia elettronica volumetrica ad alta velocità al vEM Technology Forum 2026
September 28, 2026
CIQTEK parteciperà al 2026 vEM Technology Forum presso la Peking University a Pechino, presentando le nostre ultime soluzioni di microscopia elettronica volumetrica (Volume EM).
I visitatori possono incontrare il team CIQTEK presso il nostro stand per scoprire come SEM ad alta velocità, imaging ad alta risoluzione a basso kV, acquisizione automatizzata di grandi aree e ricostruzione 3D possano aiutare i ricercatori a gestire dataset di microscopia volumetrica sempre più grandi e complessi.
Presentazione poster CIQTEK
Al forum, Xin Ren (Luke), Senior Electron Microscopy Solution Manager di CIQTEK, presenterà il nostro ultimo lavoro sul SEM ad alta velocità per la Volume EM su larga scala.
Titolo del poster: Sbloccare la potenza dell'esclusiva microscopia elettronica a scansione ad alta velocità senza compromettere la superba risoluzione di imaging a basso kV per applicazioni di microscopia volumetrica su larga scala di CIQTEK
Il poster esplorerà come l'HEM6000 combini alta velocità di imaging, elevata risoluzione a basso kV, imaging di grandi aree e automazione intelligente per supportare flussi di lavoro di Volume EM su larga scala.
Incontra CIQTEK a Pechino
Il 2026 vEM Technology Forum riunisce ricercatori ed esperti di microscopia per scambiare idee su tecnologie di Volume EM, flussi di lavoro, automazione, imaging su larga scala, elaborazione dati e applicazioni emergenti.
Non vediamo l'ora di incontrare la comunità vEM, condividere i nostri ultimi sviluppi e conoscere le reali sfide di imaging su cui stanno lavorando i ricercatori.
Visita lo stand CIQTEK, incontra il nostro team EM e scopri cosa può offrire la Volume EM ad alta velocità alla tua ricerca.
Data: 11–15 ottobre 2026 Luogo: Peking University, Pechino, Cina
Ad alta velocità Emissione di campo completamente automatizzata Microscopio elettronico a scansione Postazione di lavoro CIQTEK HEM6000 tecnologie delle strutture quali il cannone elettronico a corrente a fascio largo ad alta luminosità, il sistema di deflessione del fascio elettronico ad alta velocità, la decelerazione dello stadio di campionamento ad alta tensione, l'asse ottico dinamico e l'obiettivo combinato elettromagnetico ed elettrostatico a immersione per ottenere un'acquisizione di immagini ad alta velocità garantendo al contempo una risoluzione su scala nanometrica. Il processo di funzionamento automatizzato è progettato per applicazioni come un flusso di lavoro di imaging ad alta risoluzione su ampie aree più efficiente e intelligente. La sua velocità di imaging è oltre cinque volte superiore a quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).