Tour globale di CIQTEK: Presentazione delle soluzioni SEM avanzate a SCANDEM 2026, Danimarca

[Odense, Danimarca] CIQTEK è orgogliosa di annunciare la sua partecipazione al 77° Convegno annuale della Società Nordica di Microscopia (SCANDEM 2026) , tenutosi a Odense, in Danimarca, dal 9 al 12 giugno.

Venite a trovarci allo stand II.5

In quanto centro nevralgico per la strumentazione di precisione, Odense offre il palcoscenico perfetto per CIQTEK per raggiungere " Risonanza accademica "con istituzioni nordiche di prim'ordine. Approfondendo le nostre radici negli ecosistemi scientifici di Danimarca, Svezia e Norvegia, miriamo a soddisfare le esigenze di caratterizzazione più complesse e a potenziare ricerca regionale e crescita industriale grazie ai nostri strumenti di misurazione di precisione.

Intervento di esperti: Innovazione nella microscopia elettronica a scansione ad alta velocità

Uno dei momenti salienti della partecipazione di CIQTEK sarà la presentazione tecnica del nostro Solution Manager:

• Relatore: Dott. Miles Yao, Solution Manager presso CIQTEK

• Argomento: Sfruttare appieno il potenziale dell'esclusiva soluzione di microscopia elettronica a scansione ad alta velocità di CIQTEK.

• Messa a fuoco: Scopri come le esclusive soluzioni SEM ad alta velocità di CIQTEK consentono di ottenere immagini ad alta risoluzione e su larga scala, accelerando la produttività della ricerca.

Visione globale: supporto professionale senza interruzioni

CIQTEK sta espandendo rapidamente la sua rete di servizi globali. A SCANDEM 2026, il nostro team europeo fornirà competenze dirette alla comunità di ricerca nordica. Ci impegniamo a fornire supporto reattivo e professionale Oltre i confini nazionali, dall'installazione allo sviluppo di applicazioni specializzate, garantiamo l'eccellenza scientifica ai nostri partner nel Nord Europa.