Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo | SEM5000

CIQTEK SEM4000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo termico analitico dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta luminosità. Il design della lente magnetica a tre stadi, con corrente del fascio ampia e regolabile in continuo, presenta evidenti vantaggi in EDS, EBSD, WDS e altre applicazioni. Supporta la modalità a basso vuoto, può osservare direttamente la conduttività di campioni deboli o non conduttivi. La modalità di navigazione ottica standard e un'interfaccia operativa intuitiva semplificano il lavoro di analisi.

CIQTEK SEM3200 è un microscopio elettronico a scansione di filamenti di tungsteno ad alte prestazioni. Ha eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità ad alto che a basso vuoto. Dispone inoltre di un'ampia profondità di campo con un ambiente intuitivo per la caratterizzazione dei campioni. Inoltre, la ricca scalabilità aiuta gli utenti a esplorare il mondo dell'imaging microscopico.

CIQTEK DB500 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con una colonna a fascio ionico focalizzato per la nanoanalisi e la preparazione dei campioni, che viene applicato con la tecnologia "SuperTunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo privo di magnetismo, con bassa tensione e alta risoluzione capacità che ne garantisce la capacità analitica su scala nanometrica. La colonna ionica facilita una sorgente ionica di metallo liquido Ga+ con un fascio ionico altamente stabile e di alta qualità per garantire la capacità di nanofabbricazione.   DB500 è dotato di un nano-manipolatore integrato, sistema di iniezione del gas, meccanismo elettrico anti-contaminazione per la lente dell'obiettivo e 24 porte di espansione, che lo rendono una piattaforma di nano-analisi e fabbricazione completa con configurazioni complete ed espandibilità.

CIQTEK SEM5000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) ad altissima risoluzione con risoluzione rivoluzionaria di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Sfruttando il processo di progettazione della colonna aggiornato, la tecnologia "SuperTunnel" e il design dell'obiettivo ad alta risoluzione, SEM5000X può ottenere ulteriori miglioramenti nella risoluzione dell'immagine a bassa tensione. Le porte della camera dei campioni si estendono fino a 16 e il blocco del carico per lo scambio dei campioni supporta wafer fino a 8 pollici (diametro massimo 208 mm), espandendo notevolmente le applicazioni. copertura. Le modalità di scansione avanzate e le funzioni automatizzate migliorate offrono prestazioni più potenti e un'esperienza ancora più ottimizzata.