CIQTEK FIB SEM Dimostrazione pratica - Preparazione dei campioni Nano Micropillar

Dimostrazione pratica CIQTEK FIB-SEM

Il microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) sono essenziali per varie applicazioni come diagnosi di difetti, riparazione, impianto di ioni, elaborazione in situ, riparazione di maschere, incisione, modifica della progettazione di circuiti integrati, fabbricazione di dispositivi chip , elaborazione senza maschera, fabbricazione di nanostrutture, nano-patterning complessi, imaging tridimensionale e analisi di materiali, analisi di superfici ultrasensibili, modificazione della superficie e preparazione di campioni al microscopio elettronico a trasmissione.

CIQTEK ha introdotto il FIB-SEM DB550, che presenta un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) controllabile in modo indipendente con fascio ionico focalizzato ( FIB) Colonne. È uno strumento elegante e versatile per l'analisi su scala nanometrica e la preparazione dei campioni, che adotta la tecnologia ottica elettronica "SuperTunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico con bassa tensione e capacità ad alta risoluzione per garantire l'analisi su scala nanometrica. La colonna ionica facilita una sorgente ionica di metallo liquido Ga+ con un fascio ionico altamente stabile e di alta qualità per garantire la capacità di nanofabbricazione. DB550 è dotato di un nano-manipolatore integrato, un sistema di iniezione del gas, un meccanismo elettrico anti-contaminazione per la lente dell'obiettivo e un software GUI intuitivo, che facilita una workstation di analisi e fabbricazione su scala nanometrica all-in-one.

Per mostrare le eccezionali prestazioni del DB550, CIQTEK ha pianificato un evento speciale chiamato "Dimostrazione pratica CIQTEK FIB-SEM." Questo Il programma presenterà video che dimostrano le ampie applicazioni di queste apparecchiature all'avanguardia in campi quali la scienza dei materiali, l'industria dei semiconduttori e la ricerca biomedica. Gli spettatori acquisiranno una comprensione dei principi di funzionamento del DB550, apprezza le sue straordinarie immagini in microscala ed esplora le implicazioni significative di questa tecnologia per la ricerca scientifica e lo sviluppo industriale.

Nano-Micropillar Scampione Preparazione

nano-micropilastro Specimen è stata completata con successo, dimostrando le potenti capacità di CIQTEK microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato nell'elaborazione e nell'analisi su scala nanometrica. Le prestazioni del prodotto forniscono un supporto di test preciso, efficiente e multimodale per i clienti impegnati in test nanomeccanici, facilitando scoperte rivoluzionarie nella ricerca sui materiali.