Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo analitico (FESEM) a fascio largo I
CIQTEK SEM4000Pro è un modello analitico di FE-SEM, dotato di un cannone elettronico ad emissione di campo Schottky ad alta luminosità e lunga durata. Il design della lente elettromagnetica a 3 stadi offre vantaggi significativi in applicazioni analitiche come EDS/EDX, EBSD, WDS e altro ancora. Viene fornito di serie con una modalità a basso vuoto e un rilevatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni, nonché un rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che favorisce l'osservazione di campioni scarsamente conduttivi o non conduttivi.
In modalità basso vuoto, è possibile raggiungere un intervallo di 10-180 Pa senza un'apertura di limitazione della pressione. La camera a vuoto della lente dell'obiettivo appositamente progettata riduce al minimo il percorso libero medio degli elettroni in condizioni di basso vuoto e raggiunge una risoluzione di 1,5 nm a 30 kV in modalità basso vuoto.
L'emissione di elettroni secondari dalla superficie del campione ionizza le molecole d'aria e genera contemporaneamente elettroni, ioni e fotoni. Gli elettroni generati ionizzano ulteriormente altre molecole d'aria, il rilevatore di elettroni secondari a basso vuoto (LVD) cattura una grande quantità di segnali fotonici prodotti in tale processo.
Il fascio di elettroni incidente ionizza le molecole d'aria sulla superficie del campione, generando elettroni e ioni. Questi ioni neutralizzano la carica della superficie, riducendo così l'effetto di carica.
Il software del microscopio CIQTEK SEM utilizza vari algoritmi di rilevamento e segmentazione del target, adatti a diversi tipi di campioni di particelle e pori. consente l'analisi quantitativa delle statistiche di particelle e pori e può essere applicato in campi quali la scienza dei materiali, la geologia e la scienza ambientale.
Esegui la post-elaborazione delle immagini online o offline su immagini catturate da microscopi elettronici e integra funzioni di elaborazione delle immagini EM comunemente utilizzate, pratici strumenti di misurazione e annotazione.
Riconoscimento automatico dei bordi della larghezza della linea, con conseguenti misurazioni più accurate e maggiore coerenza. Supporta più modalità di rilevamento dei bordi, come Linea, Spazio, Passo, ecc. Compatibile con più formati di immagine e dotato di varie funzioni di post-elaborazione delle immagini di uso comune. Il software è facile da usare, efficiente e accurato.
Fornire una serie di interfacce per il controllo del microscopio SEM, inclusa l'acquisizione di immagini, le impostazioni delle condizioni operative, l'accensione/spegnimento, il controllo del palco, ecc. Le definizioni concise dell'interfaccia consentono il rapido sviluppo di script e software specifici per il funzionamento del microscopio elettronico, consentendo tracciamento automatizzato delle regioni di interesse, acquisizione dati di automazione industriale, correzione della deriva dell'immagine e altre funzioni. Può essere utilizzato per lo sviluppo di software in aree specializzate come l'analisi delle diatomee, l'ispezione delle impurità dell'acciaio, l'analisi della pulizia, il controllo delle materie prime, ecc.
Specifiche del microscopio FESEM CIQTEK SEM4000Pro | |||
Ottica elettronica | Risoluzione | Alto vuoto |
0,9 nm a 30 kV, SE |
Basso vuoto |
2,5 nm a 30 kV, BSE, 30 Pa 1,5 nm a 30 kV, SE, 30 Pa |
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Tensione di accelerazione | 0,2 kV ~ 30 kV | ||
Ingrandimento (Polaroid) | 1 ~ 1.000.000 x | ||
Tipo di pistola elettronica | Cannone elettronico a emissione di campo Schottky | ||
Camera dei campioni | Vuoto basso | Massimo 180 Pa | |
Fotocamera | Doppia fotocamera (navigazione ottica + monitoraggio della camera) | ||
Intervallo XY | 110mm | ||
Intervallo Z | 65mm | ||
Intervallo T | -10° ~ +70° | ||
Gamma R | 360° | ||
Rivelatori ed estensioni SEM | Norma |
Rivelatore Everhart-Thornley (ETD) Rilevatore di basso vuoto (LVD) Rilevatore di elettroni retrodiffusi (BSED) |
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Facoltativo |
Rivelatore retrattile per microscopia elettronica a trasmissione a scansione (STEM) Spettrometro a dispersione di energia (EDS / EDX) Modello di diffrazione della retrodiffusione elettronica (EBSD) Blocco di carico per scambio campioni (4 pollici / 8 polliciï¼ Pannello di controllo con trackball e manopola |
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Interfaccia utente | Lingua | Inglese | |
Sistema operativo | Finestre | ||
Navigazione | Navigazione ottica, Navigazione rapida gestuale, Trackball (opzionale) | ||
Funzioni automatiche | Luminosità e contrasto automatici, Messa a fuoco automatica, Stigmatizzatore automatico |