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Immagine mista (SE+BSE)
Osserva la composizione del campione e le informazioni topografiche della superficie in un'unica immagine
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Doppio anodo (tetrodo)
Il design del sistema di emissione a doppio anodo fornisce un'eccellente risoluzione con una bassa energia di atterraggio
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*Modalità vuoto basso
Fornisce informazioni sulla morfologia della superficie del campione in basso vuoto, stato di vuoto commutabile con un clic
(*Accessori opzionali per microscopio SEM SEM3200)
Rilevatori SEM per SEM3200
Il microscopio SEM viene utilizzato non solo per osservare la morfologia superficiale ma anche per analizzare la composizione delle microregioni sulla superficie del campione.
Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 ha una grande camera per campioni con un'interfaccia estesa. Oltre a supportare il rilevatore convenzionale Everhart-Thornley (ETD), il rilevatore di elettroni retrodiffusi (BSE) e la spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS/EDX), varie interfacce come il modello di diffrazione di retrodiffusione di elettroni (EBSD) e la catodoluminescenza (CL ) sono riservati.
Rivelatore SEM di elettroni retrodiffusi (BSE)
Confronto tra imaging di elettroni secondari e imaging di elettroni retrodiffusi
Nella modalità di imaging elettronico retrodiffuso, l'effetto della carica viene significativamente soppresso e si possono osservare maggiori informazioni sulla composizione della superficie del campione.
Campioni di placcatura:
Campioni di lega di acciaio al tungsteno:
Rivelatore di elettroni retrodiffusi a quattro quadranti - Imaging multicanale
Il rilevatore del microscopio SEM ha un design compatto e un'elevata sensibilità. Con il disegno a 4 quadranti è possibile ottenere immagini topografiche in diverse direzioni nonché immagini di distribuzione della composizione senza inclinare il campione.
Spettro energetico
Risultati dell'analisi dello spettro energetico delle piccole sfere LED.
Modello di diffrazione di retrodiffusione elettronica SEM (EBSD)
Il microscopio SEM SEM3200 con un ampio fascio di corrente soddisfa pienamente i requisiti di test dell'EBSD ad alta risoluzione e può analizzare materiali policristallini come metalli, ceramiche e minerali per l'orientamento dei cristalli e l'analisi della dimensione dei grani.
La figura mostra la mappa dei grani EBSD del campione di metallo Ni, che può identificare la dimensione e l'orientamento dei grani, determinare i confini e i gemelli dei grani ed effettuare valutazioni accurate dell'organizzazione e della struttura del materiale.
| Modelli di microscopi SEM |
SEM3200A |
SEM3200 |
| Sistemi elettro-ottici |
Pistola elettronica |
Filamento di tungsteno a forcina di medie dimensioni preallineato |
| Risoluzione |
Vacanza elevata |
3 nm a 30 kV (SE) |
| 4 nm a 30 kV (BSE) |
| 8 nm a 3 kV (SE) |
| *Vacanza bassa |
3 nm a 30 kV (SE) |
| Ingrandimento |
1-300.000x (pellicola) |
| 1-1.000.000x |
| Tensione di accelerazione |
0,2 kV ~ 30 kV |
| Corrente sonda |
≥1,2μA, visualizzazione in tempo reale |
| Sistemi di imaging |
Rivelatori SEM |
Rivelatore Everhart-Thornley (ETD) |
| *Rivelatore di elettroni retrodiffusi (BSED), *Rivelatore di elettroni secondari a basso vuoto (SE), *Spettroscopia a dispersione di energia (EDS/EDX), ecc. |
| Formato immagine |
TIFF, JPG, BMP, PNG |
| Sistema di vuoto |
Modello del vuoto |
Alto vuoto |
Migliore di 5×10-4 Pa |
| Basso vuoto |
5 ~ 1000 Pa |
| Modalità di controllo |
Controllo completamente automatizzato |
| Camera dei campioni |
Fotocamera |
Navigazione ottica |
| Monitoraggio nella Camera dei Campioni |
| Tabella dei campioni |
Tre assi automatico |
Cinque assi automatico |
| Intervallo di fasi |
X: 120mm |
X: 120mm |
| Y: 115 mm |
Y: 115 mm |
| Z: 50mm |
Z: 50mm |
| / |
R: 360° |
| / |
T: -10° ~ +90° |
| Software |
Sistema operativo |
Finestre |
| Navigazioni |
Navigazione ottica, Navigazione rapida gestuale |
| Funzioni automatiche |
Luminosità e contrasto automatici, Messa a fuoco automatica, Stigmatore automatico |
| Funzioni speciali |
Correzione dell'astigmatismo delle immagini assistita dall'intelligenza
*Unione di immagini con FOV grande (facoltativo)
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| Requisiti di installazione |
Temperatura |
20°C (68°F) ~ 25°C (77°F) |
| Umidità |
≤ 50% |
| Alimentazione |
220 V CA (±10 %), 50 Hz, 2 kVA
CA 110 V (±10%), 60 Hz
|
Galleria di immagini del microscopio SEM CIQTEK SEM3200
Punti salienti della tecnica del microscopio CIQTEK SEM SEM3200
SEM a bassa tensione
Provini di materiale in carbonio con profondità di penetrazione ridotta a bassa tensione. La vera topografia della superficie del campione può essere ottenuta con ricchi dettagli.
Il danno da irradiazione del fascio di elettroni del campione di capelli viene ridotto a bassa tensione mentre l'effetto di carica viene eliminato.
Basso vuoto SEM
I materiali dei tubi in fibra filtrata sono scarsamente conduttivi e si caricano in modo significativo in condizioni di vuoto spinto. L'osservazione diretta di campioni non conduttivi può essere eseguita a basso vuoto senza rivestimento mediante il microscopio SEM SEM3200.
Ampio campo visivo
I campioni biologici, utilizzando un ampio campo visivo di osservazione, possono facilmente ottenere i dettagli morfologici complessivi della testa di una coccinella, dimostrando capacità di imaging su scala trasversale.
Navigazione fase campione e anticollisione
Navigazione ottica
Fai clic dove vuoi andare e guarda con una facile navigazione quando usi i microscopi CIQTEK SEM.
Una fotocamera interna alla camera è standard e può scattare foto HD per aiutare a localizzare rapidamente i campioni.
Navigazione rapida tramite gesti
Microscopio CIQTEK SEM SEM3200 La navigazione rapida si ottiene facendo doppio clic per spostarsi, utilizzando il pulsante centrale del mouse per trascinare e utilizzando la cornice per ingrandire.
Esp: Zoom fotogramma: per ottenere una visione ampia del campione con navigazione a basso ingrandimento, puoi inquadrare rapidamente l'area del campione che ti interessa, l'immagine viene ingrandita automaticamente per migliorare l'efficienza.
Fase Anti-collisione
Microscopio CIQTEK SEM SEM3200 Soluzioni anticollisione multidirezionali:
1. Inserisci manualmente l'altezza del campione: controlla con precisione la distanza tra la superficie del campione e la lente dell'obiettivo.
2. Riconoscimento delle immagini e acquisizione del movimento: monitora il movimento del palco in tempo reale.
3. *Hardware: spegne il motore dello stage al momento della collisione.
Funzioni caratteristiche
Correzione dell'astigmatismo delle immagini assistita dall'intelligenza
Visualizza visivamente l'astigmatismo nell'intero campo visivo e regolalo rapidamente per correggerlo facendo clic con il mouse.
Messa a fuoco automatica
Messa a fuoco con un solo pulsante per immagini veloci.
Stigmatore automatico
Deduzione dell'astigmatismo con un clic per migliorare l'efficienza del lavoro.
Luminosità e contrasto automatici
Luminosità e contrasto automatici con un clic per ottimizzare la scala di grigi delle immagini appropriata.
Imaging simultaneo di più informazioni
Il software CIQTEK SEM Microscope SEM3200 supporta la commutazione con un clic tra SE e BSE per l'imaging misto. È possibile osservare contemporaneamente sia le informazioni morfologiche che quelle compositive del campione.
Regolazione rotazione rapida immagine
Trascina una linea e rilascia per ruotare l'immagine sul posto.
