Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo | SEM5000

Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) con colonne a fascio ionico focalizzato (FIB) Il microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato CIQTEK DB550 (FIB-SEM) è dotato di una colonna a fascio ionico focalizzato per la nanoanalisi e la preparazione dei campioni. Utilizza la tecnologia ottica elettronica "super tunnel", bassa aberrazione e design dell'obiettivo non magnetico e ha la funzione "bassa tensione, alta risoluzione" per garantire le sue capacità analitiche su scala nanometrica. Le colonne ioniche facilitano una sorgente ionica di metallo liquido Ga+ con fasci ionici altamente stabili e di alta qualità per garantire capacità di nanofabbricazione. DB550 è una workstation di nano-analisi e fabbricazione all-in-one con un nano-manipolatore integrato, un sistema di iniezione del gas e un software GUI intuitivo.

La microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM) sfida i limiti Il CIQTEK SEM5000X è un FESEM ad altissima risoluzione con design ottimizzato della colonna ottica elettronica, che riduce le aberrazioni complessive del 30%, ottenendo una risoluzione ultraelevata di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV . La sua alta risoluzione e stabilità lo rendono vantaggioso nella ricerca avanzata sui materiali nanostrutturali, nonché nello sviluppo e nella produzione di chip IC semiconduttori a nodi ad alta tecnologia.

Stabile, versatile, flessibile ed efficiente Il CIQTEK SEM4000X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) stabile, versatile, flessibile ed efficiente. Raggiunge una risoluzione di 1,9 nm a 1,0 kV e affronta facilmente le sfide dell'imaging ad alta risoluzione per vari tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di decelerazione a ultra-raggio per migliorare ulteriormente la risoluzione a bassa tensione. Il microscopio utilizza la tecnologia multi-rivelatore, con un rilevatore di elettroni (UD) in colonna in grado di rilevare segnali SE e BSE fornendo allo stesso tempo prestazioni ad alta risoluzione. Il rilevatore di elettroni montato sulla camera (LD) incorpora cristalli scintillatori e tubi fotomoltiplicatori, offrendo sensibilità ed efficienza più elevate, ottenendo immagini stereoscopiche di qualità eccellente. L'interfaccia utente grafica è intuitiva e presenta funzioni di automazione come luminosità e contrasto automatici, messa a fuoco automatica, stigmatizzatore automatico e allineamento automatico, consentendo l'acquisizione rapida di immagini ad altissima risoluzione.

Microscopio SEM universale e ad alte prestazioni con filamento di tungsteno Il microscopio SEM CIQTEK SEM3200 è un eccellente microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno (SEM) per uso generale con eccezionali capacità complessive. La sua esclusiva struttura a cannone elettronico a doppio anodo garantisce un'elevata risoluzione e migliora il rapporto segnale/rumore dell'immagine a basse tensioni di eccitazione. Inoltre, offre un'ampia gamma di accessori opzionali, rendendo il SEM3200 uno strumento analitico versatile con eccellenti capacità di consumo.