Dimostrazione pratica CIQTEK FIB-SEM - Preparazione del campione di trasmissione di acciaio ferrite-martensite

Dimostrazione pratica CIQTEK FIB-SEM

Il microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM) sono essenziali per varie applicazioni come diagnosi di difetti, riparazione, impianto di ioni, elaborazione in situ, riparazione di maschere, incisione, modifica della progettazione di circuiti integrati, fabbricazione di dispositivi chip, elaborazione senza maschera, fabbricazione di nanostrutture, nano-patterning complessi, imaging tridimensionale e analisi di materiali, analisi di superfici ultrasensibili, modificazione della superficie e preparazione di campioni al microscopio elettronico a trasmissione.

CIQTEK ha introdotto il FIB-SEM DB550, che dispone di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) controllabile in modo indipendente con messa a fuoco Colonne a fascio ionico (FIB). È uno strumento elegante e versatile per l'analisi su scala nanometrica e la preparazione dei campioni, che adotta la tecnologia ottica elettronica "SuperTunnel", a bassa aberrazione e non- progettazione di obiettivi magnetici con capacità di bassa tensione e alta risoluzione per garantire l'analisi su scala nanometrica. La colonna ionica facilita una sorgente ionica di metallo liquido Ga+ con un fascio ionico altamente stabile e di alta qualità per garantire la capacità di nanofabbricazione. DB550 è dotato di un nano-manipolatore integrato, un sistema di iniezione del gas, un meccanismo elettrico anti-contaminazione per la lente dell'obiettivo e un software GUI intuitivo, che facilita un analisi e fabbricazione su scala nanometrica all-in-one workstation.

Per mostrare le eccezionali prestazioni del DB550, CIQTEK ha pianificato un evento speciale chiamato "Dimostrazione pratica CIQTEK FIB-SEM." Questo programma presenterà video che dimostrano le ampie applicazioni di questa apparecchiatura all'avanguardia in campi come la scienza dei materiali, l’industria dei semiconduttori e la ricerca biomedica. Gli spettatori potranno comprendere i principi di funzionamento del DB550, apprezzare le sue straordinarie immagini in microscala ed esplorare le implicazioni significative di questa tecnologia per la ricerca scientifica e lo sviluppo industriale.

Preparazione di un provino di trasmissione di acciaio ferrite-martensite

Il FIB-SEM DB550 sviluppato da CIQTEK possiede la capacità di preparare in modo impeccabile campioni di trasmissione di acciaio ferrite-martensite. Questa capacità consente ai ricercatori nel dominio su scala nanometrica di osservare direttamente le caratteristiche dell'interfaccia, la morfologia microstrutturale e il processo di evoluzione delle fasi di ferrite e martensite. Queste osservazioni sono passi cruciali verso l'approfondimento della comprensione della relazione tra cinetica di trasformazione di fase, organizzazione microstrutturale e proprietà meccaniche dell'acciaio di ferrite-martore.