Installazione riuscita di SEM3200 e SEM4000Pro di CIQTEK presso il centro di test GSEM in Corea
Installazione riuscita di SEM3200 e SEM4000Pro di CIQTEK presso il centro di test GSEM in Corea
August 26, 2024
Suwon, Corea - In uno sviluppo significativo, il principale distributore di apparecchiature scientifiche GSEM Corea ha installato con successo l'avanguardia SEM3200 e SEM4000Pro Sinscatolamento Electron Microscopio (SEM)presso il suo centro di test in Corea.
Il SEM3200 e SEM4000Pro SEM Microscopiodi CIQTEKrappresentano una svolta nell'imaging moderno ad alta risoluzione. Grazie alla tecnologia avanzata della microscopia elettronica,tquesti SEM Microscopi all'avanguardiaforniranno strumenti e piattaforme eccezionali per ricercatori coreani e professionisti del settore , promuovendo progressi in varicampi.
"Siamo entusiasti dell'installazionedel SEM3200 e del SEM4000Pro", ha affermatoun ricercatore del GSEM. "L'alta risoluzione e le funzionalità di imaging avanzate ci consentono di ottenere informazioni preziose sull'analisi microscopica, consentendoci di ottimizzare e personalizzare le prestazioni per applicazioni specifiche. "
Con un'ampia rete di vendita e un team dedicato di esperti tecnici, GSEMrimane impegnato a promuovere l'innovazione e il progresso scientifico, fornendo strumentazione eccellente e fornendo supporto tecnico per ricercatori e professionisti del settore in Corea. Collaborano con aziende e istituti di ricerca per promuovere lo sviluppo della ricerca scientifica, apportando un contributo significativo all'innovazione e alla crescita sostenibile della Corea.
Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo analitico (FESEM) dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta luminosità Con il design della colonna ottica elettronica a condensatore a tre stadi per correnti del fascio fino a 200 nA, SEM4000Pro offre vantaggi in EDS, EBSD, WDS e altre applicazioni analitiche. Il sistema supporta la modalità a basso vuoto, nonché un rilevatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni e un rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che possono aiutare a osservare direttamente campioni scarsamente conduttivi o addirittura non conduttivi. La modalità di navigazione ottica standard e un'interfaccia utente intuitiva semplificano il lavoro di analisi.
Microscopio SEM con filamento di tungsteno ad alte prestazioni con eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità alto che basso vuoto Il CIQTEK SEM3200 Microscopio SEM ha un'ampia profondità di campo con un'interfaccia intuitiva per consentire agli utenti di caratterizzare i campioni ed esplorare il mondo dell'imaging e dell'analisi microscopica.