Il CIQTEK SEM3200 è un microscopio elettronico a scansione con filamento di tungsteno ad alte prestazioni, progettato per coloro che richiedono l'eccellenza nell'imaging. Offre una qualità dell'immagine eccezionale con immagini ad alta risoluzione e un'ampia profondità di campo, garantendo dettagli e dimensioni ricchi in ogni immagine.
SEM3200 offre anche una modalità a basso vuoto, consentendo l'osservazione diretta di campioni non conduttivi senza la necessità di rivestimento. La sua scalabilità estesa lo rende compatibile con vari rilevatori e strumenti, tra cui SE, BSE, EDS ed EBSD.
Per gli scienziati, SEM3200 offre numerosi vantaggi:
· Immagini ad alta risoluzione: Ottieni chiarezza e dettagli straordinari.
· Versatilità: Posizionamento flessibile del campione con un tavolino eucentrico a cinque assi.
· Scalabilità: Integra perfettamente rilevatori aggiuntivi e strumenti analitici per estendere le funzionalità.
· Interfaccia intuitiva: Semplifica attività di imaging complesse, migliorando la produttività e i risultati della ricerca.
Queste funzionalità consentono ai ricercatori di ampliare i confini del loro lavoro, dalla scienza dei materiali agli studi biologici.
Microscopio SEM con filamento di tungsteno ad alte prestazioni con eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità alto che basso vuoto Il CIQTEK SEM3200 Microscopio SEM ha un'ampia profondità di campo con un'interfaccia intuitiva per consentire agli utenti di caratterizzare i campioni ed esplorare il mondo dell'imaging e dell'analisi microscopica.