CIQTEK ospita il programma di formazione operativa avanzata sui microscopi SEM per GSEM COREA
CIQTEK ospita il programma di formazione operativa avanzata sui microscopi SEM per GSEM COREA
August 15, 2024
CIQTEK , fornitore leader di strumenti scientifici avanzati, annuncia il completamento con successo di un programma di formazione completo incentrato sul funzionamento e sull'applicazione della serie all'avanguardia di microscopi elettronici S canning (SEM) con GSEM KOREA . La formazione si è svolta presso il CIQTEK Application Center dal 7 all'8 agosto e mirava a migliorare le competenze degli agenti nell'imaging ad alta risoluzione per varie discipline scientifiche, fornendo preziose informazioni sulle caratteristiche e funzionalità avanzate .
Il programma prevedeva un team di formatori esperti ed esperti tecnici di CIQTEK , che hanno guidato i partecipanti attraverso le complessità delle operazioni SEM . I partecipanti hanno acquisito conoscenze sulle tecniche di preparazione dei campioni, sull'ottimizzazione dei parametri di imaging e sulle metodologie di analisi dei dati per ottenere immagini di alta qualità ed estrarre informazioni preziose dai campioni con precisione.
La Dott.ssa Lisa, Senior Applications Scientist presso CIQTEK , ha espresso il suo entusiasmo per la collaborazione di successo con GSEM KOREA , affermando: "Siamo entusiasti di aver collaborato con GSEM KOREA per fornire questo programma di formazione completo. E attraverso questa formazione, abbiamo mirato a fornire ai ricercatori con le competenze necessarie per sfruttare questi strumenti in modo efficace."
CIQTEK è impegnata a promuovere i progressi scientifici e a fornire ai ricercatori tecnologie all'avanguardia. Organizzando programmi di formazione e collaborando con aziende leader come GSEM KOREA , CIQTEK continua a facilitare lo scambio di conoscenze e a promuovere l'innovazione nella ricerca scientifica.
Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo analitico (FESEM) dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky a lunga durata e ad alta luminosità Con il design della colonna ottica elettronica a condensatore a tre stadi per correnti del fascio fino a 200 nA, SEM4000Pro offre vantaggi in EDS, EBSD, WDS e altre applicazioni analitiche. Il sistema supporta la modalità a basso vuoto, nonché un rilevatore di elettroni secondari a basso vuoto ad alte prestazioni e un rilevatore di elettroni retrodiffusi retrattile, che possono aiutare a osservare direttamente campioni scarsamente conduttivi o addirittura non conduttivi. La modalità di navigazione ottica standard e un'interfaccia utente intuitiva semplificano il lavoro di analisi.
Microscopio SEM con filamento di tungsteno ad alte prestazioni con eccellenti capacità di qualità dell'immagine sia in modalità alto che basso vuoto Il CIQTEK SEM3200 Microscopio SEM ha un'ampia profondità di campo con un'interfaccia intuitiva per consentire agli utenti di caratterizzare i campioni ed esplorare il mondo dell'imaging e dell'analisi microscopica.
Microscopia elettronica a scansione a emissione di campo ad altissima risoluzione (FESEM): 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV Il FESEM ad altissima risoluzione CIQTEK SEM5000X utilizza il processo di progettazione della colonna aggiornato, la tecnologia "SuperTunnel" e il design dell'obiettivo ad alta risoluzione per migliorare la risoluzione dell'immagine a bassa tensione. Le porte della camera dei campioni FESEM SEM5000X si estendono a 16 e il blocco del carico per lo scambio dei campioni supporta wafer fino a 8 pollici (diametro massimo 208 mm), espandendo in modo significativo le applicazioni. Le modalità di scansione avanzate e le funzioni automatizzate migliorate offrono prestazioni più potenti e un'esperienza ancora più ottimizzata.